[發明專利]一種基于圖像分析的矩形噴絲孔殘留雜質檢測方法有效
| 申請號: | 202011087340.4 | 申請日: | 2020-10-13 |
| 公開(公告)號: | CN112365442B | 公開(公告)日: | 2023-06-02 |
| 發明(設計)人: | 周建;尹立新;王麗麗;湯方明 | 申請(專利權)人: | 江蘇恒力化纖股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G01N21/88 |
| 代理公司: | 上海統攝知識產權代理事務所(普通合伙) 31303 | 代理人: | 辛自豪 |
| 地址: | 215226 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 圖像 分析 矩形 噴絲孔 殘留 雜質 檢測 方法 | ||
1.一種基于圖像分析的矩形噴絲孔殘留雜質檢測方法,其特征是包括如下步驟:
(1)獲取單個待測矩形噴絲孔的清晰圖像I;
(2)利用多向多閾值聯合法,對圖像I進行分割,定位噴絲孔區域;
(3)利用線性擬合法確定噴絲孔區域中的矩形噴絲孔長軸所在的直線,即y=ax+b;其中,a為直線的斜率,b為直線的截距;
(4)利用軌跡十字判別法定位噴絲孔區域中矩形噴絲孔的四個角點的坐標,即(x′1,y′1)、(x′2,y′2)、(x′3,y′3)和(x′4,y′4);
(5)根據(x′1,y′1)、(x′2,y′2)、(x′3,y′3)和(x′4,y′4)計算噴絲孔區域中矩形噴絲孔的雙邊平行度p1和p2、內包容面積比p3和外包容面積比p4,當滿足以下任意條件之一,則判定該矩形噴絲孔存在殘留雜質,否則,不存在殘留雜質:
步驟(5)中雙邊平行度p1和p2的計算過程為:
(5.1)以(x′1,y′1)、(x′2,y′2)、(x′3,y′3)和(x′4,y′4)表示的四個角點確定一個四邊形;
(5.2)分別計算雙邊平行度p1和p2,即:
內包容面積比p3和外包容面積比p4的計算過程為:
(5.3)以圖像I的所有元素為對象,將在步驟(5.1)中確定的四邊形內部的元素作為集合外部的元素作為集合
(5.4)統計在噴絲孔區域的元素的坐標集合X中且屬于集合的元素個數nout,以及統計在集合中且不屬于噴絲孔區域的元素的坐標集合X的元素個數nin;
(5.5)分別計算內包容面積比p3與外包容面積比p4,計算公式如下:
p3=nin/N;
p4=nout/N;
其中,N為噴絲孔區域元素總數。
2.根據權利要求1所述的一種基于圖像分析的矩形噴絲孔殘留雜質檢測方法,其特征在于,清晰圖像I是指圖像I中噴絲孔的邊緣呈現梯度絕對值大于10灰度/(像素×255灰度)的邊緣梯度;且圖像I為8位灰度圖像,其灰度值取值范圍為0至255之間的整數。
3.根據權利要求1所述的一種基于圖像分析的矩形噴絲孔殘留雜質檢測方法,其特征在于,步驟(1)中獲取待測矩形噴絲孔的清晰圖像的方式為采用CCD面陣相機。
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