[發(fā)明專利]一種金屬材料表面曲率的檢測方法及其檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011086922.0
• 申請日: 2020-10-12
• 公開（公告）號: CN113375545B
• 公開（公告）日: 2023-04-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林俊明;陳穎;郭奇;付剛強(qiáng);伍頌;戴永紅
• 申請（專利權(quán)）人: 愛德森（廈門）電子有限公司;中國人民解放軍空軍研究院航空兵研究所;航天材料及工藝研究所
• 主分類號: G01B7/28
• 分類號: G01B7/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明一種金屬材料表面曲率的檢測方法及其檢測裝置，主要用于精密金屬零部件的曲率檢測，電聯(lián)接于檢測分析儀器，包括殼體(1)、主傳感器(2)和輔助傳感器(3)，其特征在于所述主傳感器(2)位于檢測裝置的中心位置，用于檢測相對于檢測面的提離值，所述輔助傳感器(3)位于主傳感器外圍、設(shè)置在同一平面上用于檢測被檢測對象(4)金屬電導(dǎo)率。實(shí)現(xiàn)通過檢測被檢測對象檢測面的提離值，對精密金屬器件進(jìn)行微小曲面的曲率檢測。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電磁無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種金屬材料的無損檢測傳感器裝置，特別是涉及一種金屬材料表面曲率的檢測方法及其檢測裝置。

背景技術(shù)

現(xiàn)代工業(yè)離不開精密的金屬零部件，尤其在航空航天領(lǐng)域，許多零部件的精度要求甚為苛刻，通過機(jī)械的方法只能檢測較大曲率的表面不平，對微小變形的曲面，目前使用最多的是顯微鏡、激光、X光線等非常復(fù)雜而且精密的檢測分析儀器，不但檢測方法和儀器設(shè)備復(fù)雜，價(jià)格也是相當(dāng)高昂，對使用操作人員的要求也相當(dāng)高。電磁無損檢測技術(shù)一般用于精密金屬零部件的缺陷和不連續(xù)性的檢測，但對于金屬材料表面的微小曲率變化缺乏有效的檢測方法。

針對以上缺點(diǎn)問題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案進(jìn)行改善。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的提供一種金屬材料表面曲率的檢測方法及其檢測裝置，公開的技術(shù)方案如下：

一種金屬材料表面曲率的檢測方法，主要用于精密金屬零部件的曲率檢測，其特征在于使用的檢測裝置包括位于中間位置用于檢測相對于中心檢測面的提離值的主傳感器，以及位于主傳感器外圍、設(shè)置在同一平面上用于檢測被檢測對象金屬電導(dǎo)率的輔助傳感器，具體步驟如下：

1）標(biāo)準(zhǔn)值提取：

a．位于中心的主傳感器對標(biāo)準(zhǔn)試件的中心位置小平面進(jìn)行渦流提離值檢測；

b．排列于主傳感器外圍的輔助傳感器檢測所處位置的材料電導(dǎo)率，計(jì)算平均值；

c.分析主傳感器檢測的渦流提離值和輔助傳感器檢測電導(dǎo)率數(shù)據(jù)，計(jì)算渦流提離值和試件曲率之間對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)值，以及電導(dǎo)率標(biāo)準(zhǔn)值，存儲(chǔ)于檢測分析儀器；

2）實(shí)際檢測：

d．主傳感器對被檢測對象的中心位置小平面進(jìn)行渦流提離值檢測；

e．輔助傳感器檢測各處位置的材料電導(dǎo)率值，計(jì)算平均值，對比最大偏離值；

f.結(jié)合分析主傳感器檢測的提離值信號和輔助傳感器檢測的材料電導(dǎo)率變化數(shù)據(jù)，分析輔助傳感器檢測電導(dǎo)率的平均值和偏離值，用于修正由于金屬加工等原因?qū)е码妼?dǎo)率變化時(shí)的主傳感器檢測的提離值，計(jì)算被檢測對象的曲率值，顯示于顯示屏，超出閾值報(bào)警。

其中輔助傳感器環(huán)形圍繞于所述主傳感器，主傳感器設(shè)置于環(huán)中心位置略高于輔助傳感器的平面。

具體的，主傳感器設(shè)置為中心一個(gè)檢測探頭D，輔助傳感器設(shè)置為同一水平面外圍呈正三角形排列于主傳感器的檢測探頭A、B、C。

主傳感器與被檢測對象檢測面之間的高度距離設(shè)置為可調(diào)節(jié)，調(diào)節(jié)數(shù)值信號發(fā)送于檢測分析儀器。

其中，主傳感器為一個(gè)以上時(shí)，對各主傳感器檢測的提離值的平均值進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。

另外，本發(fā)明還公開一種金屬材料表面曲率的檢測裝置，主要用于精密金屬零部件(4)的曲率檢測，電聯(lián)接于檢測分析儀器(5)，包括殼體(1)、主傳感器(2)和輔助傳感器(3)，其特征在于所述主傳感器(2)位于檢測裝置的中心位置，用于檢測相對于檢測面的提離值，所述輔助傳感器(3)位于主傳感器外圍、設(shè)置在同一平面上用于檢測被檢測對象(4)金屬電導(dǎo)率。

其中，輔助傳感器(3)環(huán)形圍繞于所述主傳感器(2)，主傳感器(2)設(shè)置于環(huán)中心位置略高于輔助傳感器(3)的平面。