[發明專利]圖像處理方法和裝置

在審

• 申請號: 202011084864.8
• 申請日: 2020-10-12
• 公開（公告）號: CN114422656A
• 公開（公告）日: 2022-04-29
• 發明（設計）人: 楊攀;鐘磊;王超;李垠
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04N5/225
• 分類號: H04N5/225;H04N5/217;H04N5/235
• 代理公司: 北京龍雙利達知識產權代理有限公司 11329
• 代理人: 周喬;王君

1.一種圖像處理方法，其特征在于，包括：

獲取當前幀圖像，所述當前幀圖像包括閃爍條紋；

根據所述當前幀圖像，確定引起所述閃爍條紋的干擾源頻率；

根據所述干擾源頻率，調節下一幀的曝光時間以得到不包括閃爍條紋的下一幀圖像。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述干擾源頻率，調節下一幀的曝光時間以得到不包括閃爍條紋的下一幀圖像包括：

根據所述干擾源頻率，調節所述下一幀的曝光時間滿足如下公式：

其中，T_AE為所述下一幀的曝光時間，f為所述干擾源頻率，n為正整數。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取當前幀的曝光時間；

根據所述干擾源頻率調節所述下一幀的曝光時間，使得所述當前幀的曝光時間與所述下一幀的曝光時間之差的絕對值小于或等于第一閾值。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，所述獲取當前幀圖像包括：

獲取所述當前幀圖像中每個像素點的亮度值；

根據所述像素點的亮度值，計算所述當前幀圖像中每行像素點的行平均亮度值；

根據所述行平均亮度值確定所述當前幀圖像包括所述閃爍條紋。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據所述行平均亮度值確定所述當前幀圖像包括所述閃爍條紋包括：

根據目標函數對所述行平均亮度值進行擬合，得到擬合函數，所述目標函數為由正弦函數的絕對值構成的函數；

若所述擬合函數的擬合度大于或等于第二閾值，確定所述當前幀圖像包括所述閃爍條紋。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據所述當前幀圖像，確定引起所述閃爍條紋的干擾源頻率包括：

根據所述擬合函數，確定所述干擾源頻率。

7.根據權利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據所述每個像素點的亮度值和所述擬合函數，對所述當前幀圖像進行閃爍校正。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述對所述當前幀圖像進行閃爍校正包括：

根據所述每個像素點的亮度值和所述擬合函數，計算所述每個像素點的初始校正亮度值；

根據所述行平均亮度值，計算所述當前幀圖像的全局平均亮度值；

根據所述每個像素點的初始校正亮度值、所述全局平均亮度值和行最低亮度值，計算所述每個像素點的最終校正亮度值；

根據所述每個像素點的最終校正亮度值，對所述每個像素點進行亮度校正。

9.一種圖像處理裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取當前幀圖像，所述當前幀圖像包括閃爍條紋；

處理模塊，用于根據所述當前幀圖像，確定引起所述閃爍條紋的干擾源頻率；根據所述干擾源頻率，調節下一幀的曝光時間以得到不包括閃爍條紋的下一幀圖像。

10.根據權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述處理模塊還用于：

根據所述干擾源頻率，調節所述下一幀的曝光時間滿足如下公式：

其中，T_AE為所述下一幀的曝光時間，f為所述干擾源頻率，n為正整數。

11.根據權利要求9或10所述的裝置，其特征在于，

所述獲取模塊還用于：獲取當前幀的曝光時間；

所述處理模塊還用于：根據所述干擾源頻率調節所述下一幀的曝光時間，使得所述當前幀的曝光時間與所述下一幀的曝光時間之差的絕對值小于或等于第一閾值。