[發明專利]一種致密氣藏多層開發氣井分層產量貢獻評價方法

在審

• 申請號: 202011081984.2
• 申請日: 2020-10-12
• 公開（公告）號: CN112267878A
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 王繼平;李進步;李婭;李小鋒;于占海;劉平;付斌;白玉奇
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B43/14;G06Q50/02
• 代理公司: 西安吉盛專利代理有限責任公司 61108
• 代理人: 趙嬌

本發明公開了一種致密氣藏多層開發氣井分層產量貢獻評價方法，包括以下步驟：步驟1)預測待測氣井的最終累計產量；步驟2)預測待測氣井的井底流壓，并與原始地層壓力對比得到壓降；步驟3)建立待測氣井所屬區塊不同儲層類型的壓降與泄流半徑關系圖版；步驟4)確定待測氣井各小層的儲層類型，根據步驟2)的壓降和步驟3)的不同儲層類型的壓降與泄流半徑關系圖版確定待測氣井各小層的泄流半徑，根據泄流半徑確定待測氣井各小層的泄流面積；步驟5)根據步驟4)待測氣井各小層的泄流面積確定待測氣井各小層的產量貢獻指數；步驟6)確定待測氣井各小層分層日產量和分層最終累計產量，對待測氣井進行分層產量貢獻評價。

技術領域

本發明屬于天然氣開發技術領域，具體涉及一種致密氣藏多層開發氣井分層產量貢獻評價方法。

背景技術

致密氣藏進入穩產中后期，剩余儲量挖潛是延長氣田穩產期的重要手段。對于多層開發氣井來說，弄清各個開發層系動用儲量情況是評價剩余儲量的基礎。

CN110685651A專利公開了一種基于分年產出剖面測試資料與測井解釋參數，建立氣層組分年分層產量貢獻率與測井解釋參數的綜合關系來計算分層產量貢獻的方法，該方法需要大量氣井參與且連續進行多年產出剖面測試才能總結出規律，對于常規氣藏運用該方法是可行的，但是對于效益較差、采取低成本開發戰略的致密砂巖的氣藏，多井參與試驗，且連續多年進行測試，從工作量、測試費用及時間成本都是不可行的。

CN109594981A專利公開了一種測量井下分層產量的方法，通過測量井下分層溫度、井下地溫梯度曲線和井下壓力反演計算得到井下分層油氣產量，實現定點測量，檢測效率高。但致密砂巖氣藏儲層致密、非均質強，原始地層溫度及壓力有差異，且90％以上的井都有產水現象，產水對壓力的影響巨大，且該方法對已有生產管柱有一定要求，因此該方法在某些氣田及致密砂巖氣藏通用性不高。

現有產量分層貢獻劈分無依據，僅靠經驗分層，個人差異大，現場生產剖面測試等各類分層測試工作量大、周期長、成本高，目前還沒有針對致密砂巖氣藏分層產量評價較為有效和準確的方法。

發明內容

本發明的目的在于克服上述現有技術的不足，提供一種致密氣藏多層開發氣井分層產量貢獻評價方法，克服了現有技術中1：對于效益較差、采取低成本開發戰略的致密砂巖的氣藏，多井參與試驗，且連續多年進行測試，從工作量、測試費用及時間成本都是不可行的；2：致密砂巖氣藏儲層致密、非均質強，原始地層溫度及壓力有差異，且90％以上的井都有產水現象，產水對壓力的影響巨大，且該方法對已有生產管柱有一定要求，現有方法在某些氣田及致密砂巖氣藏通用性不高；3：現有產量分層貢獻劈分無依據，僅靠經驗分層，個人差異大，現場生產剖面測試等各類分層測試工作量大、周期長、成本高，目前還沒有針對致密砂巖氣藏分層產量評價較為有效和準確的方法等問題。

為了解決技術問題，本發明的技術方案是：一種致密氣藏多層開發氣井分層產量貢獻評價方法，包括以下步驟：

步驟1)預測待測氣井的最終累計產量；

步驟2)預測待測氣井的井底流壓，并與原始地層壓力對比得到壓降；

步驟3)建立待測氣井所屬區塊不同儲層類型的壓降與泄流半徑關系圖版；

步驟4)確定待測氣井各小層的儲層類型，根據步驟2)的壓降和步驟3)的不同儲層類型的壓降與泄流半徑關系圖版確定待測氣井各小層的泄流半徑，根據泄流半徑確定待測氣井各小層的泄流面積；

步驟5)根據步驟4)待測氣井各小層的泄流面積確定待測氣井各小層的產量貢獻指數；

步驟6)根據步驟1)待測氣井的最終累計產量和步驟5)待測氣井各小層的產量貢獻指數確定待測氣井各小層分層日產量和分層最終累計產量，對待測氣井進行分層產量貢獻評價。