[發(fā)明專利]指紋痕跡檢測(cè)方法、指紋檢測(cè)裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011080076.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112287772B | 公開(公告)日: | 2023-02-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉幃;梁洪易;梁朝陽;劉琦然 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市中達(dá)瑞和科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06V40/12 | 分類號(hào): | G06V40/12;G06V10/20;G06V10/32;G06V10/82;G06V10/774;G06N3/0464;G06N3/08 |
| 代理公司: | 深圳君信誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44636 | 代理人: | 劉偉 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 指紋 痕跡 檢測(cè) 方法 裝置 計(jì)算機(jī) 可讀 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種指紋痕跡檢測(cè)方法,其特征在于,該方法包括以下步驟:
步驟S1,實(shí)時(shí)通過紫外成像的方式獲取待測(cè)圖像;
步驟S2,對(duì)所述待測(cè)圖像進(jìn)行限制對(duì)比度適應(yīng)直方圖均衡化處理;
步驟S3,對(duì)所述待測(cè)圖像的寬度和高度進(jìn)行縮小,且對(duì)所述待測(cè)圖像的通道數(shù)進(jìn)行擴(kuò)大,以獲得特征圖像;
步驟S4,根據(jù)所述特征圖像,依據(jù)特征卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),計(jì)算分析獲得所述特征圖像的特征指紋信息;其中,所述特征指紋信息包括所述特征圖像上的指紋痕跡的位置以及置信度中的至少一種,所述特征卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的獲取方法包括如下步驟:
步驟S1a,通過紫外成像的方式獲取多個(gè)原始訓(xùn)練圖像,所述原始訓(xùn)練圖像包括第一訓(xùn)練圖像和第二訓(xùn)練圖像,所述第一訓(xùn)練圖像為在各種場(chǎng)景下所采集的指紋痕跡圖像,所述第二訓(xùn)練圖像為不具有指紋痕跡的隨機(jī)圖像;
步驟S2a,對(duì)多個(gè)所述原始訓(xùn)練圖像分別進(jìn)行限制對(duì)比度適應(yīng)直方圖均衡化處理;
步驟S3a,對(duì)多個(gè)所述原始訓(xùn)練圖像的寬度和高度進(jìn)行縮小,且對(duì)多個(gè)所述原始訓(xùn)練圖像的通道數(shù)進(jìn)行擴(kuò)大,以獲得多個(gè)特征訓(xùn)練圖像;其中,所述原始訓(xùn)練圖像與所述特征訓(xùn)練圖像一一對(duì)應(yīng)設(shè)置;
步驟S4a,分別對(duì)各所述特征訓(xùn)練圖像進(jìn)行圖像預(yù)處理,并獲得待訓(xùn)練圖像集;其中,所述圖像預(yù)處理包括高斯模糊、旋轉(zhuǎn)、對(duì)比度以及亮度等圖像處理方式中的至少一種;所述待訓(xùn)練圖像集包括多個(gè)待訓(xùn)練圖像,一個(gè)所述特征訓(xùn)練圖像經(jīng)過圖像預(yù)處理后生成至少兩個(gè)所述待訓(xùn)練圖像;
步驟S5a,通過預(yù)設(shè)的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)所述待訓(xùn)練圖像集進(jìn)行訓(xùn)練,獲得所述特征卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);
在所述步驟3a中,包括將所述原始訓(xùn)練圖像的寬度縮小為其原寬度的四分之一和將所述原始訓(xùn)練圖像的高度縮小為其原高度的四分之一,以及將所述原始訓(xùn)練圖像的通道數(shù)擴(kuò)大為其原通道數(shù)的十六倍;在所述步驟3中,包括將所述待測(cè)圖像的寬度縮小為其原寬度的四分之一和將所述待測(cè)圖像的高度縮小為其原高度的四分之一,以及將所述待測(cè)圖像的通道數(shù)擴(kuò)大為其原通道數(shù)的十六倍。
2.一種指紋檢測(cè)裝置,其特征在于,所述指紋檢測(cè)裝置包括:
圖像獲取模塊,用于通過紫外成像的方式獲取多個(gè)原始訓(xùn)練圖像和待測(cè)圖像;
圖像處理模塊,用于對(duì)多個(gè)原始訓(xùn)練圖像和所述待測(cè)圖像分別進(jìn)行限制對(duì)比度適應(yīng)直方圖均衡化處理;用于對(duì)多個(gè)所述原始訓(xùn)練圖像或所述待測(cè)圖像的寬度和高度進(jìn)行縮小,且對(duì)多個(gè)所述原始訓(xùn)練圖像或所述待測(cè)圖像的通道數(shù)進(jìn)行擴(kuò)大,以獲得多個(gè)特征訓(xùn)練圖像或特征圖像;用于對(duì)各所述特征訓(xùn)練圖像進(jìn)行圖像預(yù)處理,并獲得待訓(xùn)練圖像集;所述原始訓(xùn)練圖像包括第一訓(xùn)練圖像和第二訓(xùn)練圖像,所述第一訓(xùn)練圖像為在各種場(chǎng)景下所采集的指紋痕跡圖像,所述第二訓(xùn)練圖像為不具有指紋痕跡的隨機(jī)圖像;用于將所述原始訓(xùn)練圖像的寬度縮小為其原寬度的四分之一、將所述原始訓(xùn)練圖像的高度縮小為其原高度的四分之一、以及將所述原始訓(xùn)練圖像的通道數(shù)擴(kuò)大為其原通道數(shù)的十六倍;還用于將所述待測(cè)圖像的寬度縮小為其原寬度的四分之一、將所述待測(cè)圖像的高度縮小為其原高度的四分之一、以及將所述待測(cè)圖像的通道數(shù)擴(kuò)大為其原通道數(shù)的十六倍;
圖像訓(xùn)練模塊,用于通過預(yù)設(shè)的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)所述待訓(xùn)練圖像集進(jìn)行訓(xùn)練,獲得特征卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);以及,
圖像分析模塊,用于根據(jù)所述特征圖像,依據(jù)所述特征卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),計(jì)算分析獲得所述特征圖像的特征指紋信息;其中,所述特征指紋信息包括所述特征圖像上的指紋痕跡的位置以及置信度中的至少一種。
3.一種指紋檢測(cè)裝置,其特征在于,所述指紋檢測(cè)裝置包括處理器以及存儲(chǔ)器,所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有指紋痕跡檢測(cè)方法的控制程序,其中,所述控制程序被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1所述的指紋痕跡檢測(cè)方法的步驟。
4.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上權(quán)利要求1所述的指紋痕跡檢測(cè)方法的步驟。
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