[發明專利]一種時鐘發生電路以及展頻測試系統

在審

• 申請號: 202011079403.1
• 申請日: 2020-10-10
• 公開（公告）號: CN112269422A
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 伍健
• 申請（專利權）人: 山東云海國創云計算裝備產業創新中心有限公司
• 主分類號: G06F1/04
• 分類號: G06F1/04;G06F11/26
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 丁曼曼

本申請公開了一種時鐘發生電路以及展頻測試系統。時鐘發生電路，包括：時鐘發生器；存儲有操作系統文件的存儲器；與存儲器以及時鐘發生器分別連接的處理器，用于根據存儲器中的操作系統文件運行操作系統，并將操作系統產生的展頻參數寫入至時鐘發生器，以控制時鐘發生器依照展頻參數輸出時鐘信號。基于本申請提供的時鐘發生電路，可通過利用處理器中運行的操作系統對時鐘發生器設置展頻參數，實現對于時鐘發生器產生的時鐘信號的頻率控制，在測試不同展頻范圍的抗電磁干擾效果時，無需反復焊接參數配置電阻與時鐘發生器，進而相對確保了展頻測試的整體效率。此外，本申請還提供一種展頻測試系統，有益效果同上所述。

技術領域

本申請涉及展頻測試領域，特別是涉及一種時鐘發生電路以及展頻測試系統。

背景技術

電磁干擾(EMI)是指電磁波與電子元件作用后而產生的干擾現象，是由輻射電磁場或者感應電壓和電流產生的。如何減少電磁干擾，是各種電子設備面臨的挑戰，而當前高速數字系統中的時鐘頻率也會導致電磁干擾的問題。

為了確保電子設備的可靠性，當前往往需要對電子設備進行時鐘展頻以降低電子設備的電磁干擾，因此時鐘的展頻范圍需要通過測試的方式得到，當前測試過程中，時鐘發生器的所產生的時鐘頻率受其上焊接的參數配置電阻的焊接位置影響，因此在測試不同展頻范圍的抗電磁干擾效果時，均需要重新焊接參數配置電阻與時鐘發生器，因此難以確保展頻測試的整體效率。

由此可見，提供一種時鐘發生電路，以相對確保展頻測試的整體效率，是本領域技術人員需要解決的問題。

發明內容

本申請的目的是提供一種時鐘發生電路以及展頻測試系統，以相對確保展頻測試的整體效率。

為解決上述技術問題，本申請提供一種時鐘發生電路，包括：

時鐘發生器；

存儲有操作系統文件的存儲器；

與存儲器以及時鐘發生器分別連接的處理器，用于根據存儲器中的操作系統文件運行操作系統，并將操作系統產生的展頻參數寫入至時鐘發生器，以控制時鐘發生器依照展頻參數輸出時鐘信號。

優選地，處理器與時鐘發生器基于I2C總線連接。

優選地，電路還包括：

與處理器連接的顯示器，用于顯示操作系統的運行界面。

優選地，電路還包括：

與處理器連接的鍵盤，用于向操作系統輸入展頻參數。

優選地，存儲器包括FLASH存儲器。

優選地，處理器包括CPU處理器。

優選地，CPU處理器的型號包括LS3A4000。

優選地，時鐘發生器的型號包括6P41505。

優選地，處理器與時鐘發生器之間連接有時鐘線，用于向處理器傳輸時鐘發生器輸出的時鐘信號。

此外，本申請還提供一種展頻測試系統，包括：

如上述的時鐘發生電路；

與時鐘發生電路連接的待測功能電路，用于響應時鐘發生電路產生的時鐘信號以進行展頻測試。