[發明專利]一種利用恒電流法測試非晶條帶鈍化膜轉變電位的方法有效
| 申請號： | 202011077799.6 | 申請日： | 2020-10-10 |
| 公開（公告）號： | CN112461910B | 公開（公告）日： | 2022-05-06 |
| 發明（設計）人： | 王偉民;張昊;閆芝成 | 申請（專利權）人： | 山東大學 |
| 主分類號： | G01N27/416 | 分類號： | G01N27/416 |
| 代理公司： | 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221 | 代理人： | 張曉鵬 |
| 地址： | 250061 山東*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 利用 電流 測試 條帶 鈍化 轉變 電位 方法 | ||
1.一種利用恒電流法測試非晶條帶鈍化膜轉變電位的方法，其特征在于：包括如下步驟：
將非晶條帶置于三電極工作站中，測試TAFEL曲線，得到鈍化平臺，從鈍化平臺上選取電位值點；
針對選取的電位值點，按照恒電流法測試，得到非晶條帶的轉變電位；
測試完轉變電位后，還包括進行顯微形貌分析的步驟。
2.根據權利要求1所述的利用恒電流法測試非晶條帶鈍化膜轉變電位的方法，其特征在于：電位值點的數量為5-9個。
3.根據權利要求2所述的利用恒電流法測試非晶條帶鈍化膜轉變電位的方法，其特征在于：電位值點的數量為7個。
4.根據權利要求1所述的利用恒電流法測試非晶條帶鈍化膜轉變電位的方法，其特征在于：每個電位值點處對應測試600-1200秒恒電位和400-1000秒開路電位，進而得到轉變電位。
5.根據權利要求4所述的利用恒電流法測試非晶條帶鈍化膜轉變電位的方法，其特征在于：每個電位值點處對應測試600秒恒電位和400秒開路電位，進而得到轉變電位。
6.根據權利要求1所述的利用恒電流法測試非晶條帶鈍化膜轉變電位的方法，其特征在于：測試溫度為20-35℃。
7.根據權利要求1所述的利用恒電流法測試非晶條帶鈍化膜轉變電位的方法，其特征在于：所述非晶條帶為鐵基非晶條帶。
8.根據權利要求7所述的利用恒電流法測試非晶條帶鈍化膜轉變電位的方法，其特征在于：所述鐵基非晶條帶為Fe87-xB13Nbx，x＝0,7或10。
9.根據權利要求8所述的利用恒電流法測試非晶條帶鈍化膜轉變電位的方法，其特征在于：鐵基非晶條帶為Fe87-xB13Nbx，x＝0,7或10，的電位值點為-0.6VSCE、-0.5VSCE、-0.4VSCE、-0.3VSCE、-0.2VSCE、-0.1VSCE和0VSCE。
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