[發(fā)明專利]基于P-K的軟件缺陷預(yù)測方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011077409.5
• 申請日: 2020-10-10
• 公開（公告）號: CN114428720A
• 公開（公告）日: 2022-05-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王婷婷
• 申請（專利權(quán)）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油物探技術(shù)研究院
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06K9/62
• 代理公司: 北京思創(chuàng)畢升專利事務(wù)所 11218
• 代理人: 孫向民;廉莉莉

1.一種基于P-K的軟件缺陷預(yù)測方法，其特征在于，包括：

收集軟件歷史缺陷數(shù)據(jù)，將所述軟件歷史缺陷數(shù)據(jù)劃分為訓(xùn)練數(shù)據(jù)集與測試數(shù)據(jù)集；

針對所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集內(nèi)的度量元進(jìn)行降維，獲得特征向量；

根據(jù)降維后的訓(xùn)練數(shù)據(jù)集與所述特征向量，進(jìn)行KNN分類訓(xùn)練；

調(diào)整降維參數(shù)與KNN參數(shù)，獲得最優(yōu)模型；

根據(jù)所述最優(yōu)模型，針對所述測試數(shù)據(jù)集內(nèi)的度量元進(jìn)行降維，并進(jìn)行KNN分類訓(xùn)練，預(yù)測所述測試數(shù)據(jù)集的缺陷。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于P-K的軟件缺陷預(yù)測方法，其中，針對所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集內(nèi)的度量元進(jìn)行降維，獲得特征向量包括：

通過PCA主成分分析技術(shù)，將高維數(shù)據(jù)進(jìn)行特征選擇，去冗余，獲得前k個特征值對應(yīng)的特征向量。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于P-K的軟件缺陷預(yù)測方法，其中，將高維數(shù)據(jù)進(jìn)行特征選擇之前，先針對所述高維數(shù)據(jù)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于P-K的軟件缺陷預(yù)測方法，其中，所述最優(yōu)模型包括最優(yōu)降維參數(shù)與最優(yōu)KNN參數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于P-K的軟件缺陷預(yù)測方法，其中，根據(jù)所述最優(yōu)模型，針對所述測試數(shù)據(jù)集內(nèi)的度量元進(jìn)行降維，并進(jìn)行KNN分類訓(xùn)練，預(yù)測所述測試數(shù)據(jù)集的缺陷包括：

根據(jù)所述最優(yōu)降維參數(shù)針對所述測試數(shù)據(jù)集內(nèi)的度量元進(jìn)行降維，根據(jù)所述最優(yōu)KNN參數(shù)進(jìn)行KNN分類訓(xùn)練，預(yù)測所述測試數(shù)據(jù)集的缺陷。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于P-K的軟件缺陷預(yù)測方法，其中，還包括：

針對測試數(shù)據(jù)集的預(yù)測缺陷與實際缺陷進(jìn)行對比，評價所述最優(yōu)模型。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于P-K的軟件缺陷預(yù)測方法，其中，所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集與所述測試數(shù)據(jù)集的數(shù)據(jù)比例為7:3。

8.一種基于P-K的軟件缺陷預(yù)測裝置，其特征在于，包括：

數(shù)據(jù)集劃分模塊，收集軟件歷史缺陷數(shù)據(jù)，將所述軟件歷史缺陷數(shù)據(jù)劃分為訓(xùn)練數(shù)據(jù)集與測試數(shù)據(jù)集；

降維模塊，針對所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集內(nèi)的度量元進(jìn)行降維，獲得特征向量；

訓(xùn)練模塊，根據(jù)降維后的訓(xùn)練數(shù)據(jù)集與所述特征向量，進(jìn)行KNN分類訓(xùn)練；

最優(yōu)模型建立模塊，調(diào)整降維參數(shù)與KNN參數(shù)，獲得最優(yōu)模型；

預(yù)測模塊，根據(jù)所述最優(yōu)模型，針對所述測試數(shù)據(jù)集內(nèi)的度量元進(jìn)行降維，并進(jìn)行KNN分類訓(xùn)練，預(yù)測所述測試數(shù)據(jù)集的缺陷。

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括：

存儲器，存儲有可執(zhí)行指令；

處理器，所述處理器運行所述存儲器中的所述可執(zhí)行指令，以實現(xiàn)權(quán)利要求1-7中任一項所述的基于P-K的軟件缺陷預(yù)測方法。

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，該計算機可讀存儲介質(zhì)存儲有計算機程序，該計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1-7中任一項所述的基于P-K的軟件缺陷預(yù)測方法。