[發(fā)明專利]一種制樣壓塊設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011075858.6 | 申請日: | 2020-10-10 |
| 公開(公告)號: | CN112067406A | 公開(公告)日: | 2020-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉雅羽;徐曉軍;孫潔 | 申請(專利權(quán))人: | 北京華泰美景科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號: | G01N1/28 | 分類號: | G01N1/28;G01N1/36 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100025 北京市朝陽區(qū)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 制樣壓塊 設(shè)備 | ||
本發(fā)明公開了一種制樣壓塊設(shè)備,本設(shè)備由液壓系統(tǒng)和硬件機(jī)構(gòu)組成,硬件機(jī)械結(jié)構(gòu)部安裝可調(diào)限位傳感器。本制樣壓塊設(shè)備能夠?qū)Ω鞣N非金屬粉料進(jìn)行壓塊,并且通過液壓的壓力設(shè)定,使制樣壓塊的密度進(jìn)行調(diào)整;通過對可調(diào)限位傳感器的位置調(diào)節(jié)可對制樣壓塊的厚度進(jìn)行調(diào)整。本設(shè)備壓力調(diào)節(jié)范圍寬,壓制樣塊厚度調(diào)節(jié)范圍寬;應(yīng)用便捷,可聯(lián)接PLC實(shí)現(xiàn)自動控制。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種制樣壓塊設(shè)備,本設(shè)備將非金屬粉料或顆粒料壓制成表面光滑平整的規(guī)則樣塊。
背景技術(shù)
隨著科技的發(fā)展,新型光譜分析儀器得到檢測領(lǐng)域高度重視,目前在金屬檢測領(lǐng)域行到了廣泛應(yīng)用,對于金屬元素成分及元素含量測量準(zhǔn)確實(shí)時(shí)顯示測量結(jié)果。對于非金屬領(lǐng)域也有小范圍的應(yīng)用,光譜分析儀器對檢測物質(zhì)表面有嚴(yán)格的要求,備檢測物質(zhì)表面越平整光潔,檢測數(shù)據(jù)越精確。所以光譜分析儀器在非物質(zhì)檢測上應(yīng)用對被檢測物質(zhì)制做統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)樣塊是很重要的。
光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態(tài)原子所吸收,由發(fā)射光譜被減弱的程度,進(jìn)而求得樣品中待測元素的含量。它符合郎珀-比爾定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I為透射光強(qiáng)度,I0為發(fā)射光強(qiáng)度,T為透射比,L為光通過原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。物理原理任何元素的原子都是由原子核和繞核運(yùn)動的電子組成的,原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級,因此,一個(gè)原子核可以具有多種能級狀態(tài)。能量最低的能級狀態(tài)稱為基態(tài)能級(E0=0),其余能級稱為激發(fā)態(tài)能級,而能最低的激發(fā)態(tài)則稱為第一激發(fā)態(tài)。正常情況下,原子處于基態(tài),核外電子在各自能量最低的軌道上運(yùn)動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子,當(dāng)外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級之間的能級差E時(shí),該原子將吸收這一特征波長的光,外層電子由基態(tài)躍遷到相應(yīng)的激發(fā)態(tài),而產(chǎn)生原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級以后處于激發(fā)態(tài),但激發(fā)態(tài)電子是不穩(wěn)定的,大約經(jīng)過10^-8秒以后,激發(fā)態(tài)電子將返回基態(tài)或其它較低能級,并將電子躍遷時(shí)所吸收的能量以光的形式釋放出去,這個(gè)過程稱原子發(fā)射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量,而原子發(fā)射光譜過程則釋放輻射能量。
發(fā)射光譜分析的過程:
1.把試樣在能量的作用下蒸發(fā)、原子化(轉(zhuǎn)變成氣態(tài)原子),并使氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)至高能態(tài)。當(dāng)從較高的能級躍遷到較低的能級時(shí),原子將釋放出多余的能量而發(fā)射出特征譜線。這一過程稱為蒸發(fā)、原子化和激發(fā),需借助于激發(fā)光源來實(shí)現(xiàn)。
2.把原子所產(chǎn)生的輻射進(jìn)行色散分光,按波長順序記錄在感光板上,就可呈現(xiàn)出有規(guī)則的光譜線條,即光譜圖。系借助于攝譜儀器的分光和檢測裝置來實(shí)現(xiàn)。
3.根據(jù)所得光譜圖進(jìn)行定性鑒定或定量分析。由于不同元素的原子結(jié)構(gòu)不同,當(dāng)被激發(fā)后發(fā)射光譜線的波長不盡相同,即每種元素都有其特征的波長,故根據(jù)這些元素的特征光譜就可以準(zhǔn)確無誤的鑒別元素的存在(定性分析),而這些光譜線的強(qiáng)度與試樣中該元素的含量有關(guān),因此還可利用這些譜線的強(qiáng)度來測定元素的含量(定量分析)。
光譜分析儀器的優(yōu)點(diǎn):
1. 采樣方式靈活,對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗。
2. 測試速率高,可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集,并通過計(jì)算器實(shí)時(shí)輸出。
3. 對于一些機(jī)械零件可以做到無損檢測,而不破壞樣品,便于進(jìn)行無損檢測。
4. 分析速度較快,比較適用做爐前分析或現(xiàn)場分析,從而達(dá)到快速檢測。
5. 分析結(jié)果的準(zhǔn)確性是建立在化學(xué)分析標(biāo)樣的基礎(chǔ)上。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是為光譜分析儀器檢測非金屬物質(zhì)提供一種制樣壓塊設(shè)備,本設(shè)備的主要優(yōu)點(diǎn)如下:
1、壓力調(diào)整范圍大,壓力調(diào)整靈活;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京華泰美景科技發(fā)展有限公司,未經(jīng)北京華泰美景科技發(fā)展有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011075858.6/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗(yàn)設(shè)備、驗(yàn)證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點(diǎn)設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





