[發明專利]用于大型對象的快速工業計算機斷層掃描

有效

• 申請號: 202011075401.5
• 申請日: 2020-10-09
• 公開（公告）號: CN112649451B
• 公開（公告）日: 2023-09-26
• 發明（設計）人: 尼爾斯·羅思;安德烈亞斯·費舍爾
• 申請（專利權）人: 貝克休斯油田作業有限責任公司
• 主分類號: G01N23/046
• 分類號: G01N23/046
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 曹瑾

本發明題為“用于大型對象的快速工業計算機斷層掃描”。用于計算機斷層掃描檢查的系統可包括臺、固定輻射源、固定輻射檢測器和控制器。臺可將目標固定在其上并使目標圍繞旋轉軸線旋轉。輻射源可從焦點發射穿透輻射的光束，該光束被引導到目標的一部分上。輻射檢測器可包括感測面，該感測面被配置為采集作為位置的函數的入射在其上的輻射光束強度的測量值。控制器可命令臺在橫向于輻射光束的中心軸線的方向上從第一位置平移到第二位置。目標在第一位置和第二位置處的放大率可大致相等。在由檢測器測量輻射光束強度期間，臺不橫向于輻射光束的中心軸線平移。

相關申請的交叉引用

本申請要求于2019年10月9日提交的名稱為“Fast?Industrial?ComputedTomography?For?Large?Objects”的美國臨時專利申請62/912,698的權益，該美國臨時專利申請的全文以引用方式并入。

背景技術

非破壞性測試(NDT)是一類可用于在不引起損壞的情況下檢查目標以確定被檢查的目標是否符合所需規格的分析技術。NDT已在采用不易從其周圍環境中去除的結構的工業(諸如航空航天、發電、石油和天然氣的運輸或精煉、以及運輸)中得到廣泛認可。

計算機斷層掃描(CT)是NDT技術的一個示例。在某些具體實施中，CT可提供作為穿過目標的橫截面的幾何形狀的函數的材料密度的定量圖像。這些橫截面圖像可組合以產生目標的對應三維(體積)表示。

然而，現有CT系統可采集包括偽影的CT圖像。偽影可指CT圖像與基于目標材料的密度和目標幾何形狀的預期之間的任何差異。因此，仍然需要減少CT圖像中偽影的出現的用于CT檢查的改進系統和對應方法。

發明內容

在實施方案中，提供了一種系統。該系統可包括臺、固定輻射源、固定輻射檢測器和控制器。該臺可以被配置為將目標固定在其上并且使目標圍繞旋轉軸線旋轉。固定輻射源可被配置為從焦點發射穿透輻射的光束并且將該光束引導到目標的一部分上。固定輻射檢測器可包括感測面，該感測面被配置為采集作為位置的函數的入射在其上的輻射光束的強度的測量值。控制器可被配置為命令臺在橫向于輻射光束的中心軸線的方向上在第一位置和第二位置之間平移目標。目標在第一位置和第二位置處的放大率可大致相等。在由檢測器測量輻射光束強度期間，臺不橫向于輻射光束的中心軸線平移。

在另一個實施方案中，旋轉軸線可定位在第一位置和第二位置處的輻射光束內。

在另一個實施方案中，第一位置和第二位置可關于輻射光束的中心軸線大致對稱。

在另一個實施方案中，臺可被配置為將目標平移到位于第一位置和第二位置之間的第三位置。目標在第一位置、第二位置和第三位置中的放大率可大約相等。

在另一個實施方案中，在第三位置中，旋轉軸線可與輻射光束的中心軸線大致相交。

在另一個實施方案中，第三位置中的旋轉軸線的位置可在第一位置中的旋轉軸線的位置和第二位置中的旋轉軸線的位置之間大致等距。

在另一個實施方案中，輻射光束為扇形光束或錐形光束。

在另一個實施方案中，輻射光束不是平行光束。