[發明專利]一種連接器測試探針模組

在審

• 申請號: 202011070852.X
• 申請日: 2020-10-09
• 公開（公告）號: CN112327019A
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發明（設計）人: 丁崇亮;翟康康;申嘯;付盼紅;李紅葉;張小英
• 申請（專利權）人: 渭南高新區木王科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R31/69
• 代理公司: 西安毅聯專利代理有限公司 61225
• 代理人: 王昊

本發明公開了一種連接器測試探針模組，包括：一載體，所述載體內設置有內腔；一彈片，所述彈片包含：一彈性部，所述彈性部位于所述內腔中；一頭部，所述頭部與所述彈性部的一端連接，并且頭部伸出所述載體；一尾部，所述尾部與所述彈性部的另一端連接，并且尾部伸出所述載體。該連接器測試探針模組，解決了現有測試模組存在測試不穩定以及電阻大的問題。

技術領域

本發明屬于電子測試技術領域，具體涉及一種連接器測試探針模組。

背景技術

隨著手機、可穿戴設備功能越來越多，其內部電子元器件不斷朝著小型化精密化發展，在此背景下，發展出了各種板對板集成連接器。在組裝這些連接器之前需要對其進行測試，連接器的形式多種多樣，其中有一些連接器接觸點是凹槽結構，目前有一些測試這一類帶凹槽連接器的模組，比如集成式ICT測試模組，在測試過程中，將測試模組對接到被測連接器上，每根ICT測試探針接觸被測連接器的一個凹槽觸點，實現單點接觸，進行測試。

但是，目前這些測試模組存在以下問題：

（1）測試不穩定；

（2）電阻大。

因此，在這種情況下，如何提升測試探針模組的可靠性，顯得非常迫切和重要。

發明內容

本發明的目的是提供一種連接器測試探針模組，解決現有測試模組存在測試不穩定以及電阻大的問題。

為解決上述問題，本發明公開了一種連接器測試探針模組，包括：

一載體，所述載體內設置有內腔；

一彈片，所述彈片包含：

一彈性部，所述彈性部位于所述內腔中；

一頭部，所述頭部與所述彈性部的一端連接，并且頭部伸出所述載體；

一尾部，所述尾部與所述彈性部的另一端連接，并且尾部伸出所述載體。

本發明的技術方案，還具有以下特點：

進一步地，所述彈性部的一端設置有外沿，所述內腔的最內處設置有滑槽，所述外沿位于所述滑槽中。

進一步地，，所述彈性部包含多個橫向布置的U形體，多個U形體呈上下布置，并且每相鄰的兩個U形體的開口端的相鄰邊連接在一起。

進一步地，所述U形體的數量為二。

進一步地，所述尾部包含多個測試頭。

進一步地，所述測試頭的數量為三。

進一步地，多個所述測試頭包含：

一個第一測試頭；

兩個第二測試頭，兩個第二測試頭布置在第一測試頭的兩側。

進一步地，每個所述第二測試頭的局部均向外彎曲。

進一步地，所述第二測試頭的底部外沿設置有尖腳。

進一步地，所述第一測試頭的底部為錐形。