[發明專利]一種紙張寬度類型自動檢測方法及其系統

在審

• 申請號: 202011070264.6
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN114312055A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 趙海軍;林喆;陳桂鴻
• 申請（專利權）人: 上海商米科技集團股份有限公司
• 主分類號: B41J11/00
• 分類號: B41J11/00
• 代理公司: 上海大邦律師事務所 31252
• 代理人: 熊磊之

1.一種紙張寬度類型自動檢測方法，應用于檢測不同紙張寬度類型的打印機，其特征在于，所述打印機包括磁鐵、開關芯片、中央處理器、場效應晶體管、分壓電阻、步進馬達驅動芯片以及打印馬達，所述方法包括：

檢測所述磁鐵穿過所述開關芯片的磁通量；

比較所述磁通量與預設門限值之間的大小；

根據所述大小由所述開關芯片輸出翻轉電平至所述中央處理器；

所述中央處理器根據接收到的所述翻轉電平控制所述場效應晶體管的導通狀態；

所述分壓電阻根據所述場效應晶體管的導通狀態從所述打印機的電源電壓中獲取不同參考電壓；

所述步進馬達驅動芯片根據所述分壓電阻所獲取的不同參考電壓，設定不同的馬達驅動電流；

所述打印馬達根據不同的馬達驅動電流打印不同寬度紙張。

2.如權利要求1所述的紙張寬度類型自動檢測方法，其特征在于，所述開關芯片包括霍爾開關芯片，所述打印機還包括放置第一寬度紙張的第一紙槽和放置第二寬度紙張的第二紙槽，所述第二紙槽的側后壁安裝有所述磁鐵，所述方法還包括：

檢測所述第二紙槽中是否放置有所述第二寬度紙張；

若有，則所述磁鐵靠近所述霍爾開關芯片；

若無，則所述磁鐵遠離所述霍爾開關芯片。

3.如權利要求2所述的紙張寬度類型自動檢測方法，其特征在于，所述翻轉電平包括高電平和低電平，所述根據所述大小由所述開關芯片輸出翻轉電平至所述中央處理器的步驟包括：

如果所述磁通量大于所述預設門限值，則所述霍爾開關芯片輸出所述高電平至所述中央處理器；

如果所述磁通量不大于所述預設門限值，則所述霍爾開關芯片輸出所述低電平至所述中央處理器。

4.如權利要求3所述的紙張寬度類型自動檢測方法，其特征在于，所述導通狀態包括導通和不導通，所述中央處理器根據接收到的所述翻轉電平控制所述場效應晶體管的導通狀態的步驟包括：

所述中央處理器根據接收到的所述高電平輸出低電平至所述場效應晶體管；

所述場效應晶體管根據接收到的低電平進行不導通。

5.如權利要求3所述的紙張寬度類型自動檢測方法，其特征在于，所述導通狀態包括導通和不導通，所述中央處理器根據接收到的所述翻轉電平控制所述場效應晶體管的導通狀態的步驟包括：

所述中央處理器根據接收到的所述低電平輸出高電平至所述場效應晶體管；

所述場效應晶體管根據接收到的高電平進行導通。

6.一種紙張寬度類型自動檢測系統，其特征在于，所述系統包括磁鐵、開關芯片、中央處理器、場效應晶體管、分壓電阻、步進馬達驅動芯片以及打印馬達，其中，

所述開關芯片與所述磁鐵相鄰，用于檢測所述磁鐵穿過所述開關芯片的磁通量，并比較所述磁通量與預設門限值之間的大小，根據所述大小輸出翻轉電平；

所述中央處理器與所述開關芯片相連，用于從所述開關芯片接收所述翻轉電平，并根據接收到的所述翻轉電平控制相連的所述場效應晶體管的導通狀態；

所述分壓電阻與所述場效應晶體管相連，用于根據所述場效應晶體管的導通狀態從所述系統的電源電壓中獲取不同參考電壓；

所述步進馬達驅動芯片與所述分壓電阻相連，用于根據所述分壓電阻所獲取的不同參考電壓，設定不同的馬達驅動電流；

所述打印馬達與所述步進馬達驅動芯片相連，用于根據不同的馬達驅動電流打印不同寬度紙張。

7.如權利要求6所述的紙張寬度類型自動檢測系統，其特征在于，所述開關芯片包括霍爾開關芯片，所述系統還包括放置第一寬度紙張的第一紙槽和放置第二寬度紙張的第二紙槽，所述第二紙槽的側后壁安裝有所述磁鐵，其中，所述系統檢測所述第二紙槽中是否放置有所述第二寬度紙張，若有則所述磁鐵靠近所述霍爾開關芯片，若無則所述磁鐵遠離所述霍爾開關芯片。