[發明專利]X射線連續能譜的確定方法、裝置、電子設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202011069868.9 | 申請日: | 2020-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN112231899B | 公開(公告)日: | 2023-02-03 |
| 發明(設計)人: | 明鑫;楊成文;孟慧鵬;翟賀爭 | 申請(專利權)人: | 天津醫科大學 |
| 主分類號: | G06F30/20 | 分類號: | G06F30/20;G01T1/36 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 300070 *** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 射線 連續 確定 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種X射線連續能譜的確定方法,其特征在于,包括:
獲取X射線能譜數據與能量的對應關系,基于所述對應關系建立初始連續能譜模型;
對所述初始連續能譜模型進行離散,獲取預設數量的離散能譜函數;
基于水下不同深度序列,獲取所述預設數量單能的模擬PDD矩陣數據和預設范圍連續能譜的測量PDD矩陣數據;
基于所述離散能譜函數、所述模擬PDD矩陣數據以及測量PDD矩陣數據確定所述初始連續能譜模型中各能譜系數,得到目標連續能譜模型;
獲取待估算的連續能量范圍,將所述能量范圍輸入至目標連續能譜函數中,得到所述連續能量范圍對應的連續能譜;
其中,所述PDD為體膜內射線中心軸上深度d處的吸收劑量Dd與參考深度d0處吸收劑量D0之比的百分數,是描述射線中心軸不同深度處相對劑量分布的物理量。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述初始連續能譜模型為:
或者,
其中,所述E為待估算的連續能量范圍,所述a,b,c和d為所述初始連續能譜模型中待確定的能譜系數,m是X射線特征峰個數,δ()是狄克拉函數,Ei是X射線特征能量。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述初始連續能譜模型基于對X射線能譜數據與對應能量進行擬合得到。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于水下不同深度序列,獲取所述預設數量單能的模擬PDD矩陣數據,包括:
設置預設模擬算法下模擬射束特征參數,基于能量間隔對預設數量的單能進行模擬,得到預設能量范圍內在水下不同深度序列下的模擬單能譜PDD曲線;
基于得到的所述模擬單能譜PDD曲線形成模擬PDD矩陣數據。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于水下不同深度序列,獲取預設范圍連續能譜的測量PDD矩陣數據,包括:
控制CT設備在水下不同深度序列下,進行預設能量范圍內連續能譜的PDD數據的測量,得到水下不同深度序列下,預設范圍內連續能譜PDD曲線;
接收所述CT設備發送的所述水下不同深度序列下預設范圍內連續能譜的PDD曲線,形成所述測量PDD矩陣數據。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,預設數量的單能是預設能量范圍內的離散單能。
7.根據權利要求1所述的方法,所述基于所述離散能譜函數、所述模擬PDD矩陣數據以及測量PDD矩陣數據確定所述初始連續能譜模型中各能譜參數,得到目標連續能譜模型,包括:
基于所述離散能譜函數、所述模擬PDD矩陣數據以及測量PDD矩陣數據與模型誤差之間的預設能譜規則確定模型誤差;
基于所述模型誤差的最小值原則,對所述離散能譜函數、所述模擬PDD矩陣數據以及測量PDD矩陣數據進行解析,確定所述連續能譜模型中各能譜系數。
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