[發(fā)明專利]一種雷達(dá)物位計(jì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011066274.2
• 申請(qǐng)日: 2020-09-30
• 公開（公告）號(hào): CN111998914A
• 公開（公告）日: 2020-11-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周雷
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京古大儀表有限公司;周雷
• 主分類號(hào): G01F23/284
• 分類號(hào): G01F23/284
• 代理公司: 北京安信方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11262
• 代理人: 李蒙蒙;龍洪

1.一種雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，包括透鏡天線和表殼，所述透鏡天線和所述表殼中的一個(gè)上設(shè)有環(huán)形卡扣，另一個(gè)上設(shè)有環(huán)形卡槽，所述環(huán)形卡扣與所述環(huán)形卡槽卡接配合。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，所述環(huán)形卡槽包括與所述環(huán)形卡扣卡接配合的呈環(huán)形的卡接面，所述卡接面的內(nèi)直徑比所述環(huán)形卡扣的最大外直徑小1mm-3mm。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，所述環(huán)形卡槽的底壁的壁厚為1mm-4mm。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，所述環(huán)形卡扣設(shè)置在所述透鏡天線上，所述環(huán)形卡槽設(shè)置在所述表殼的內(nèi)側(cè)壁上，所述環(huán)形卡扣自下而上卡接到所述環(huán)形卡槽內(nèi)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，所述透鏡天線采用PP、PVDF、FEP或PFA制成，所述表殼采用塑料或金屬制成。

6.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，所述透鏡天線和所述表殼中的一個(gè)上設(shè)有止轉(zhuǎn)凸塊，另一個(gè)上設(shè)有與所述止轉(zhuǎn)凸塊配合定位的止轉(zhuǎn)凹槽。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，所述透鏡天線和所述表殼中的一個(gè)上設(shè)有導(dǎo)向凸塊，另一個(gè)上設(shè)有與所述導(dǎo)向凸塊配合導(dǎo)向的導(dǎo)向凹槽。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，所述透鏡天線上設(shè)有所述止轉(zhuǎn)凸塊和所述導(dǎo)向凸塊，且所述導(dǎo)向凸塊的上端面高于所述止轉(zhuǎn)凸塊的上端面，

所述表殼內(nèi)設(shè)有所述止轉(zhuǎn)凹槽和所述導(dǎo)向凹槽，且所述導(dǎo)向凹槽的下端面不高于所述止轉(zhuǎn)凹槽的下端面；或者，所述導(dǎo)向凹槽的下端面高于所述止轉(zhuǎn)凹槽的下端面，且所述導(dǎo)向凹槽的下端面與所述止轉(zhuǎn)凹槽的下端面之間的高度差小于所述導(dǎo)向凸塊的上端面與所述止轉(zhuǎn)凸塊的上端面之間的高度差。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，所述導(dǎo)向凸塊包括有多個(gè)，且至少兩個(gè)所述導(dǎo)向凸塊沿所述透鏡天線或所述表殼的周向方向的延伸寬度不同。

10.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的雷達(dá)物位計(jì)，其特征在于，所述透鏡天線包括天線外殼和和天線鑲件，所述天線外殼與所述天線鑲件通過(guò)鑲嵌注塑一體成型，所述天線外殼上設(shè)有所述環(huán)形卡扣或所述環(huán)形卡槽。