[發明專利]一種通過大數據構建電子產品質量改進指標的方法

在審

• 申請號: 202011065322.6
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN112115186A
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 黃曉斌;楊芳;張露薇
• 申請（專利權）人: 四川長虹電器股份有限公司
• 主分類號: G06F16/2458
• 分類號: G06F16/2458;G06F16/26;G06Q10/06;G06Q50/04
• 代理公司: 四川省成都市天策商標專利事務所 51213
• 代理人: 張秀敏

本發明公開了一種通過大數據構建電子產品質量改進指標的方法，包括：建立電子產品質量改進評價系統；在生產的各個過程中建立標準統一質量數據收集體系和流程，配備相應硬件錄入相關質量數據；質量改進評價系統根據質量數據庫收集到的質量數據，利用數據分析模型，自動分析確定產品的主要質量問題；根據確定的主要質量問題，質量改進評價系統再自動調用質量管理常見圖表中的因果圖按一定方法找到導致主要質量問題的原因；根據確定的原因，針對性的制定電子產品質量改進指標。本發明可以找到主要質量問題，再利用因果圖找到主要問題的前三大原因，并根據分析出的原因針對性的建立質量改進指標，從而保證質量改進指標更加全面、系統、準確。

技術領域

本發明屬于電子產品質量改進技術領域，具體涉及一種通過大數據構建電子產品質量改進指標的方法。

背景技術

近年來，隨著大數據技術的迅猛發展，包括大數據存儲、大數據分析、大數據算法，大數據展現技術日新月異，越來越多的行業引入大數據技術，從而更加精準、可靠的提供各種解決方案。

為更好的提高產品實物質量，很多企業在推行質量管理體系以及PDCA循環，都離不開質量改進，電子產品行業仍是如此，只有不斷的推進產品質量改進，產品實物質量才能不提升，質量改進指標牽引質量改進整個過程。

當前企業質量活動中，多數企業的質量改進指標需求輸入并不系統、全面，質量指標設置不科學，導致質量改進活事倍功半，甚至產品質量水平不斷下降。

發明內容

本發明的目的是針對上述現有技術的不足，提供一種通過大數據構建電子產品質量改進指標的方法，通過建立電子產品質量改進評價系統，建立電子產品質量數據庫，通過使用大數據分析技術，找到電子產品的主要質量問題，再利用魚刺圖分析主要問題的原因，并根據分析出的原因建立質量改進指標。

本發明的技術方案如下：

一種通過大數據構建電子產品質量改進指標的方法，包括：

建立電子產品質量改進評價系統；

在生產的各個過程中建立標準統一質量數據收集體系和流程，配備相應硬件錄入相關質量數據；

質量改進評價系統根據質量數據庫收集到的質量數據，利用數據分析模型，自動分析確定產品的主要質量問題；

根據確定的主要質量問題，質量改進評價系統再自動調用質量管理常見圖表中的因果圖按一定方法找到導致主要質量問題的原因；

根據確定的原因，針對性的制定電子產品質量改進指標。

進一步地，質量改進評價系統建立包括建立質量數據庫，確定質量數據存儲地點，建立質量數據分析模型、開發質量管理常見圖表、設定影響產品質量的因素，設定分析結果展示內容。

進一步地，生產的各個過程包括電子產品設計過程、電子產品生產過程、電子產品檢驗過程、電子產品銷售過程、電子產品售后過程。

進一步地，因果圖為魚刺圖。

進一步地，根據確定的主要質量問題，質量改進評價系統再自動調用質量管理常見圖表中的因果圖按二八原則找到導致主要質量問題的原因。

進一步地，根據確定的主要質量問題，質量改進評價系統再自動調用質量管理常見圖表中的因果圖按二八原則找到導致主要質量問題的三大主要原因。

進一步地，根據確定的三大主要原因，針對性的制定電子產品質量改進指標。

本發明的有益效果如下：