[發明專利]基于機械臂的天線測試系統、方法及裝置

有效

• 申請號: 202011063189.0
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN111965439B
• 公開（公告）日: 2023-08-01
• 發明（設計）人: 張金平;鄧曄;李斌;馬天野
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十四研究所
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R1/04
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 熊敏敏;高嬌陽

1.一種基于機械臂的天線測試系統，用于對待測天線(6)進行測試，其特征在于，包括伺服子系統、射頻子系統、協同控制機柜(10)和數據處理子系統，其中：

伺服子系統，所述伺服子系統包括天線架設平臺(1)，安裝在天線架設平臺(1)上的機械臂(2)，以及根據數據處理子系統的指令移動機械臂(2)的機械臂控制機柜(5)；所述待測天線(6)固定在天線架設平臺(1)上；

射頻子系統，所述射頻子系統包括固定在機械臂(2)上的測試探頭(7)，矢量分析儀(8)以及相應射頻連接電纜；矢量分析儀(8)、待測天線(6)與測試探頭(7)相互之間的電磁場傳播路徑、以及射頻電纜構成完整射頻傳輸閉環鏈路；矢量分析儀(8)根據所述數據處理子系統的指令采集各個測試采樣點的微波信號，并發送給數據處理子系統；

協同控制機柜(10)，所述協同控制機柜(10)接收數據處理子系統的工作指令，將工作指令轉換為定時控制時序輸出至機械臂控制機柜(5)和矢量分析儀(8)；矢量分析儀(8)以及由機械臂控制機柜(5)控制的機械臂(2)在該時序驅動下開始同步工作，自動完成測試探頭(7)在設定測試采樣點的坐標定位及相關射頻幅相數據的采集，并將采集的數據返回到數據處理子系統；當機械臂(2)抵達至每一個測試模式所指定的采樣點時停頓，并且矢量分析儀(8)在機械臂(2)抵達該采樣點位置時刻完成對該狀態下的微波信號的采集，直至所有采樣點完成遍歷測試；

數據處理子系統，與機械臂控制機柜(5)、矢量分析儀(8)、協同控制機柜(10)協同完成測試采樣點的定位及測試采樣點微波信號的采集。

2.根據權利要求1所述的基于機械臂的天線測試系統，其特征在于，天線架設平臺(1)上表面和測試探頭(7)周邊鋪設有吸波材料。

3.根據權利要求1所述的基于機械臂的天線測試系統，其特征在于，所述天線架設平臺(1)上還設置有機械臂導軌(4)，機械臂(2)通過機械臂導軌(4)與天線架設平臺(1)相連接，可沿機械臂導軌(4)進行位置調節和固定。

4.根據權利要求3所述的基于機械臂的天線測試系統，其特征在于，所述天線架設平臺(1)上表面與機械臂導軌(4)相對的一角安裝有待測天線支架(3)，用于固定待測天線(6)。

5.根據權利要求1所述的基于機械臂的天線測試系統，其特征在于，所述矢量分析儀(8)設置有發射端射頻端口，通過射頻電纜與待測天線(6)連接；和接收端射頻端口，通過射頻電纜與測試探頭(7)連接。

6.根據權利要求5所述的基于機械臂的天線測試系統，其特征在于，還包括變頻模塊，矢量分析儀(8)通過該變頻模塊，與待測天線(6)和測試探頭(7)進行連接，將微波信號從高于矢量分析儀(8)可測的頻率變頻到矢量分析儀(8)可測的頻率。

7.根據權利要求1所述的基于機械臂的天線測試系統，其特征在于，所述數據處理子系統，根據采集的測試數據完成待測天線方向圖繪制和輸出。