[發明專利]產品點數裝置及芯片測試設備

在審

• 申請號: 202011063106.8
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN112246663A
• 公開（公告）日: 2021-01-22
• 發明（設計）人: 楊建設;張雅凱;繆凱;樊飛
• 申請（專利權）人: 昆山曄芯電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/00
• 分類號: B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 劉艷

本發明提供了一種產品點數裝置及芯片測試設備，產品點數裝置包括料盤傳輸機構，用于運輸裝滿待檢測產品的料盤，料盤傳輸機構的傳輸方向沿Y軸設置；外觀檢查機構，設于料盤傳輸機構的上方，且用于確認產品的數量、檢查產品的外觀和放置方向；補料傳輸機構，用于運輸補料盤，補料傳輸機構的傳輸方向沿Y軸設置；以及抓取機構，用于去除不良品，并從補料傳輸機構上的補料盤抓取產品填補至料盤傳輸機構上的料盤，抓取機構包括X軸移動模組以及設于X軸移動模組上的抓料組件。本發明提供的產品點數裝置及芯片測試設備，實現了對產品的自動點數、檢測以及補料，極大地降低了人力成本，減小了誤檢、漏檢的情況發生，提高了出貨質量。

技術領域

本發明屬于芯片測試技術領域，更具體地說，是涉及一種產品點數裝置及芯片測試設備。

背景技術

芯片在出貨之前需要對芯片進行檢測，檢測項目包括電性測試、外觀檢測等。目前，芯片的外觀檢測采用人工目檢，對芯片進行點數、檢查芯片的外表面是否存在瑕疵、料盤中是否缺料、產品放置方向是否正確等，保證出貨數量正確。但是人工目檢的方法可靠性較低，經常出現漏檢的情況，而且所需的人力成本較高。特別是出貨量較大時，更容易出現誤檢、漏檢的情況，導致出貨數量不對、或者產品有瑕疵的情況。

發明內容

本發明實施例的目的在于提供一種產品點數裝置及芯片測試設備，以解決現有技術中存在的人工點數和檢查可靠性較低、勞動強度較大的技術問題。

為實現上述目的，本發明采用的技術方案是：提供一種產品點數裝置，包括：

料盤傳輸機構，用于運輸裝滿待檢測產品的料盤，所述料盤傳輸機構的傳輸方向沿Y軸設置；

外觀檢查機構，設于所述料盤傳輸機構的上方，且用于確認產品的數量、檢查產品的外觀和放置方向；

補料傳輸機構，用于運輸補料盤，所述補料傳輸機構的傳輸方向沿Y軸設置；以及

抓取機構，用于去除不良品，并從所述補料傳輸機構上的補料盤抓取產品填補至所述料盤傳輸機構上的料盤，所述抓取機構包括X軸移動模組以及設于所述X軸移動模組上的抓料組件。

在一個實施例中，所述抓料組件包括抓料安裝板、抓料氣缸、連接架、固定于所述連接架的吸嘴本體以及供所述吸嘴本體穿過的吸嘴座，所述吸嘴座固定于所述抓料安裝板上，所述抓料氣缸的氣缸軸滑動連接于所述連接架，所述氣缸軸和所述連接架之間彈性連接有緩沖件。

在一個實施例中，所述抓料安裝板上固定有抓料滑軌，所述連接架上固定有抓料滑塊，所述抓料滑塊滑動連接于所述抓料滑軌。

在一個實施例中，所述X軸移動模組包括X軸安裝板、X軸電機、由所述X軸電機驅動的X軸絲桿、螺紋連接于所述X軸絲桿的X軸螺母塊、固定于所述X軸螺母塊的X軸滑塊、固定于所述X軸安裝板的X軸滑軌，所述X軸滑塊滑動連接于所述X軸滑軌。

在一個實施例中，所述補料傳輸機構包括補料電機、補料絲桿、螺紋連接于所述補料絲桿的補料螺母塊、固定于所述補料螺母塊的補料滑塊以及供所述補料滑塊滑動的補料滑軌。

在一個實施例中，所述外觀檢查機構包括鏡頭支架、固定于所述鏡頭支架的相機以及用于照亮所述料盤移動機構上的產品的光源。

在一個實施例中，所述料盤傳輸機構包括：

料盤分層機構，包括用于升降堆疊的料盤的第一升降組件以及用于分離最底層料盤和其他料盤的第一承托組件；

料盤移動機構，用于輸送從所述料盤分層機構中分離出的料盤；以及

料盤堆疊機構，用于堆疊經過所述料盤移動機構運輸的料盤，所述料盤堆疊機構包括用于支撐堆疊料盤的第二承托組件以及用于將所述料盤移動機構上的料盤推頂至堆疊料盤的底部的第二升降組件。