[發明專利]一種透明介質的數據標識加工、讀取、檢測方法及裝置有效
| 申請號: | 202011062812.0 | 申請日: | 2020-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN112289171B | 公開(公告)日: | 2022-09-27 |
| 發明(設計)人: | 程鵬;楊俊 | 申請(專利權)人: | 北京德弦科技有限公司 |
| 主分類號: | G09F7/00 | 分類號: | G09F7/00;B23K26/00;G06Q30/00 |
| 代理公司: | 北京華夏泰和知識產權代理有限公司 11662 | 代理人: | 王衛忠;韓來兵 |
| 地址: | 100191 北京市朝陽區祁*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 透明 介質 數據 標識 加工 讀取 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種透明介質的數據標識加工方法,其特征在于,包括步驟:
獲取標識圖形,所述標識圖形包括多個圖形單元;
在待加工介質內或表面上確定與每個圖形單元對應的點元區域的位置信息;
多個點元區域的投影圖案與圖形單元的圖案一致;
根據每個點元區域的位置信息,利用激光在待加工介質內或表面上形成與每個點元區域對應的具有納米光柵結構的數據標識區;
所述在待加工介質內或表面上確定與每個圖形單元對應的點元區域的位置信息;包括:
每個標識圖形對應的多個點元區域在一個投影方向上位于同一平面內;或者,
多個點元區域在不同投影方向上對應不同的標識圖形;
所述在待加工介質內或表面上確定與每個圖形單元對應的點元區域的位置信息包括:
獲取點元區域的位置信息的同時獲取點元區域的光軸方向信息和/或光程延遲信息;
所述根據每個點元區域的位置信息,利用激光在待加工介質內或表面上形成與每個點元區域對應的具有光柵結構的數據標識區,其中:
所述具有光柵結構的點元區域的待加工介質折射率呈周期分布的有序結構;
以及/或者:
根據每個點元區域的位置信息獲取激光加工參數,根據激光加工參數調整激光的偏振方向及入射脈沖參數,以使所述點元區域形成具有光柵結構的數據標識區。
2.一種透明介質的數據標識讀取方法,其特征在于,包括權利要求1所述的透明介質的數據標識加工方法,還包括步驟:
經起偏器向待讀取介質發射檢測光線;
聚集調整至待讀取的數據標識區位置;
根據數據標識區內各點元區域與待加工介質表面的間隔距離調整成像深度;
經檢偏器獲取數據標識區對應的投影圖案;
根據投影圖案中各點元區域的光柵結構成像為相應的像點;
多次獲取不同投影圖案;
分別解碼讀取數據標識區內的投影圖案的數據信息。
3.如權利要求2所述的透明介質的數據標識讀取方法,其特征在于,所述根據投影圖案中各點元區域的光柵結構成像為相應的像點,包括:根據每個標識圖形對應的多個點元區域在一個投影方向上的位置信息,讀取每個標識圖形對應的各點元區域的光柵結構成像為相應的像點;
或者,根據多個點元區域在不同投影方向上對應不同的標識圖形的位置信息,讀取各標識圖形內多個點元區域的光柵結構成像為相應的像點;
以及/或者:
讀取數據標識區中多個點元區域的折射率信息,設定檢偏器讀取參數,以獲得投影圖像。
4.一種透明介質的數據標識檢測方法,其特征在于,包括權利要求2或3所述的透明介質的數據標識讀取方法,還包括步驟:
經檢偏器檢測投影圖案;
根據標識圖形中數據標識區的多個點元區域組成的光柵結構成像為相應的像點;
獲取不同標識圖形內各個像點所形成的多個投影圖像;
根據獲取的多個投影圖像信息與對應投影方向預設的多個標識圖形依次進行對比;
檢測不同投影圖像內所述數據標識區內構成的圖像數據信息。
5.如權利要求4所述的透明介質的數據標識檢測方法,其特征在于,所述根據獲取的多個投影圖像信息與對應投影方向預設的多個標識圖形依次進行對比,包括:
根據獲取多個投影圖像信息的光軸和/或光程延遲信息,對應投影方向預設的多個標識圖形依次進行對比。
6.一種透明介質的數據標識加工裝置,其特征在于,權利要求1所述透明介質的數據標識加工方法通過所述透明介質的數據標識加工裝置進行加工,其中:
包括飛秒激光器、第一檢偏件及固定臺,使待加工物件設置于固定臺,所述飛秒激光器及所述第一檢偏件均與所述待加工物件同軸設置,所述待加工物件內設置有多個標識區,所述飛秒激光器產生的激光經過所述第一檢偏件聚焦于所述標識區,以使所述標識區形成具有光柵結構的點元區域。
7.如權利要求6所述的透明介質的數據標識加工裝置,其特征在于,還包括第二檢偏器,在所述標識區內形成有多個所述點元區域,光線穿過多個所述點元區域及所述第二檢偏器后形成有預設圖像。
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