[發明專利]裂縫型致密儲層流體識別方法、系統、識別儀、介質及應用有效
| 申請號: | 202011062109.X | 申請日: | 2020-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN112230276B | 公開(公告)日: | 2023-07-07 |
| 發明(設計)人: | 竇喜英;王恩利;張博;馮建剛;張輝;張麗瓊;張增換;閆國亮;謝春輝;楊慶;李海山;鄢高韓 | 申請(專利權)人: | 蘭州石化職業技術學院 |
| 主分類號: | G01V1/28 | 分類號: | G01V1/28;G01V1/30 |
| 代理公司: | 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 湯東鳳 |
| 地址: | 730060 *** | 國省代碼: | 甘肅;62 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 裂縫 致密 流體 識別 方法 系統 介質 應用 | ||
1.一種基于P-SV波反射系數的裂縫型致密儲層流體識別方法,其特征在于,所述基于P-SV波反射系數的裂縫型致密儲層流體識別方法包括以下步驟:
利用線性滑動模型與等效孔隙裂縫模型等價對比得到的柔量參數與各向異性參數之間的關系式,獲取等效孔隙裂縫介質的P-SV波反射系數;
對得到的P-SV波反射系數進行歸一化處理;
基于歸一化處理得到的反射系數進行各向同性介質/等效孔隙裂縫介質雙層模型的方位AVO特征數值模擬;
上層為各向同性介質下層為HTI介質的雙層模型,獲取P-SV波反射系數公式為:
R=Riso+Rani
其中,△ρ=ρ2-ρ1,ρ=(ρ2+ρ1)/2,△α=α2-α1,α=(α2+α1)/2,△β=β2-β1,β=(β2+β1)/2,k=β/α;α1、α2、β1、β2、ρ1、ρ2分別為上、下層介質模型的縱波速度、橫波速度和密度,θ為入射角;
n,m,l是HTI介質的各向異性參數,為方位角,即各向異性面與測線剖面的夾角;
將下層HTI介質的彈性系數矩陣與HTI介質的廣義彈性系數矩陣對應得到:
c11=λ+2μ-n,c13=λ-l,c33=λ+2μ,c44=μ,c55=μ-m;
參照對各向異性參數的線性化法,定義的HTI介質等效各向異性參數為:
其中,系數ε(V)表示P波的各向異性程度;δ(V)表示P波在垂向與橫向間各向異性變化的快慢程度,γ(V)表示快橫波與慢橫波間的速度差異程度;
聯合c11=λ+2μ-n,c13=λ-l,c33=λ+2μ,c44=μ,c55=μ-m和得到n,m,l形式如下:
n=-2(λ+2μ)ε(V),m=-2μγ(V),l=-(λ+2μ)δ(V)+4μγ(V);
將以柔量參數表表述的等效裂縫介質的廣義各向異性參數線性表達式代入n=-2(λ+2μ)ε(V),m=-2μγ(V),l=-(λ+2μ)δ(V)+4μγ(V)式中,得到以柔量參數表示的n,m,l:
n=4μ(1-g)ΔN,m=μΔT,l=2μ(1-2g)ΔN
再代入式中得到:
將柔量表達式和
式融入P-SV反射系數公式中,進行整理后得到以裂縫參數表示的P-SV波反射系數公式:
R=Riso+Rani;
其中,Riso表達式同前,
2.如權利要求1所述的基于P-SV波反射系數的裂縫型致密儲層流體識別方法,其特征在于,所述等效孔隙裂縫模型的柔量表達式為:
式中,
e為裂縫密度,α和β為介質的縱、橫波速度,ρ為介質的密度,kf為流體體積模量,kb為背景巖石的體積模量,λ和μ為拉梅系數,Dcp稱為流體因子,φp為基質孔隙度,即孔隙所占體積百分比,φc為裂縫孔隙度,即裂縫所占體積百分比,用裂縫密度e和裂縫縱橫比c/a表示為ΔN為法向柔量,反映在垂直于裂縫面上裂縫對地震波的影響,ΔT為切向柔量,反映平行于裂縫面上裂縫對地震波的影響,ΔN和ΔT值的范圍均為0~1。
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