[發明專利]時延失配校準方法及裝置、計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202011061045.1
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN112203303A
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發明（設計）人: 欒亦夫;李開;羅麗云
• 申請（專利權）人: 銳迪科創微電子（北京）有限公司
• 主分類號: H04W24/02
• 分類號: H04W24/02;H04W24/08;H04B17/11;H04B17/10
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李笑笑;張振軍

1.一種時延失配校準方法，其特征在于，包括：

控制發射機發射第三信號；

獲取發射所述第三信號時的鄰道泄漏比，所述鄰道泄露比包括：當前信道的發射功率與泄漏至左側信道的輻射功率的第一鄰道泄露比，以及，當前信道的發射功率與泄漏至右側信道的輻射功率的第二鄰道泄露比；所述左側信道對應的載波頻率小于發射所述第三信號對應的當前信道的載波頻率，所述當前信道的載波頻率小于所述右側信道對應的載波頻率，所述當前信道為發送所述第三信號使用的信道；

計算所述第一鄰道泄漏比與所述第二鄰道泄露比的第二差異值，并根據所述第二差異值確定第二時延調整值；

采用所述第二時延調整值對所述幅度信號與所述相位信號之間的時延失配進行校準。

2.如權利要求1所述的時延失配校準方法，其特征在于，所述第二時延調整值與所述第二差異值正相關。

3.如權利要求1所述的時延失配校準方法，其特征在于，所述第三信號為非恒幅帶限調制信號。

4.如權利要求1所述的時延失配校準方法，其特征在于，還包括：對相位信號所經過的低通通路與高通通路的時延失配進行校準。

5.如權利要求4所述的時延失配校準方法，其特征在于，所述對相位信號所經過的低通通路與高通通路的時延失配進行校準，包括：

調整鎖相環的環路帶寬至第一帶寬；

控制發射機發射第一信號，所述鎖相環位于所述發射機中；所述第一信號包括n個符號，且相鄰比特值不等；

獲取所述發射機發射所述第一信號時，與所述n個符號一一對應的最大頻偏，并計算n個最大頻偏的平均值；

調整所述鎖相環的環路帶寬至第二帶寬，所述第二帶寬與所述第一帶寬不相等；

控制所述發射機發射第二信號；所述第二信號包括m個符號，且相鄰比特值不等；

獲取所述發射機發射所述第二信號時，與所述m個符號一一對應的最大頻偏，并計算m個最大頻偏的平均值；

根據所述n個最大頻偏的平均值與所述m個最大頻偏的平均值之間的第一差異值，確定第一時延調整值；

采用所述第一時延調整值對所述高通通路與所述低通通路的時延失配進行校準。

6.如權利要求5所述的時延失配校準方法，其特征在于，所述n個最大頻偏的平均值與所述m個最大頻偏的平均值之間的第一差異值，與所述第一時延調整值正相關。

7.如權利要求5所述的時延失配校準方法，其特征在于，在采用所述第一時延調整值對所述高通通路與所述低通通路的時延失配進行校準后，還包括：

控制所述發射機重新發射所述第一信號；

重新獲取所述發射機發射所述第一信號時，與所述n個符號一一對應的最大頻偏，并重新計算n個最大頻偏的平均值；

將重新計算得到的所述n個最大頻偏的平均值與理論值進行比較，確定發射機高通通路與低通通路之間的增益失配程度。

8.如權利要求5所述的時延失配校準方法，其特征在于，在采用所述第一時延調整值對所述高通通路與所述低通通路的時延失配進行校準后，還包括：

控制所述發射機重新發射所述第二信號；

重新獲取所述發射機發射所述第二信號時，與所述m個符號一一對應的最大頻偏，并重新計算m個最大頻偏的平均值；

將重新計算得到的所述m個最大頻偏的平均值與理論值進行比較，確定發射機高通通路與低通通路之間的增益失配程度。

9.如權利要求5所述的時延失配校準方法，其特征在于，所述第一信號為頻移鍵控信號。

10.如權利要求5所述的時延失配校準方法，其特征在于，所述第二信號為頻移鍵控信號。