[發明專利]一種低溫制冷機測試用真空杜瓦結構

在審

• 申請號: 202011058998.2
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN112129003A
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 葉重;羅高喬;繩春晨;辛存良;朱魁章
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十六研究所
• 主分類號: F25B9/14
• 分類號: F25B9/14;G01M99/00;G01R31/00
• 代理公司: 合肥天明專利事務所(普通合伙) 34115
• 代理人: 韓燕

1.一種低溫制冷機測試用真空杜瓦結構，所述的低溫制冷機包括有制冷機殼體、底端連接于制冷機殼體頂端的冷指襯套和底端穿過冷指襯套上的膨脹端排出器，其特征在于：所述的低溫制冷機測試用真空杜瓦結構包括有冷指基座、底端連接于冷指基座上的冷指氣缸、設置于冷指氣缸外周的筒體、固定連接于筒體底端的法蘭盤、固定連接于筒體頂端的法蘭座、連接于法蘭座上方的密封蓋板、固定于密封蓋板中心位置的絕緣子、固定于筒體內的測試冷帽、設置于測試冷帽上的測溫傳感器和測制冷量電阻、以及固定于冷指基座上且底部伸出到冷指基座外的一圈連接螺釘，所述的一圈連接螺釘與制冷機殼體頂端的螺栓孔對應連接，所述的法蘭盤固定連接于冷指基座的外周且法蘭盤上設置有通氣孔，所述的通氣孔與冷指基座的內腔連通，所述的通氣孔上螺紋連接有密封螺釘，所述的冷指氣缸伸入到筒體內，所述的測試冷帽固定連接于冷指氣缸的頂端，所述的測溫傳感器和測制冷量電阻分別通過引出線與密封蓋板上對應的絕緣子連接。

2.根據權利要求1所述的一種低溫制冷機測試用真空杜瓦結構，其特征在于：所述的法蘭盤包括有上法蘭盤和下法蘭盤，所述的通氣孔設置于上法蘭盤上，所述的冷指基座的外壁上設置有環形凸起，所述的下法蘭盤的上端面與環形凸起的下端面緊密接觸，所述的上法蘭盤的底端開設有環形凹槽，所述的冷指基座的環形凸起從上往下伸入到上法蘭盤的環形凹槽內，所述的下法蘭盤為U形結構，下法蘭盤通過U形槽口水平插入到冷指基座環形凸起的下方，且上法蘭盤的下端面與下法蘭盤的上端面緊密接觸且兩者通過緊固螺栓連接從而使得冷指基座的環形凸起卡緊于上法蘭盤和下法蘭盤之間。

3.根據權利要求2所述的一種低溫制冷機測試用真空杜瓦結構，其特征在于：所述的環形凸起分為上部和下部，環形凸起上部的外徑小于環形凸起下部的外徑，上法蘭盤的環形凹槽內設置有環形平墊片，所述的環形平墊片套裝于環形凸起上部的外周，環形平墊片的上下端面分別與上法蘭盤環形凹槽朝下的槽底面、環形凸起下部的上端面緊密接觸，從而使得法蘭盤和冷指基座實現密封連接。

4.根據權利要求1所述的一種低溫制冷機測試用真空杜瓦結構，其特征在于：所述的法蘭座和密封蓋板之間設置有法蘭座密封圈，所述的法蘭座和密封蓋板的外圈設置有卡箍，將法蘭座、法蘭座密封圈和密封蓋板卡置于卡箍的內圈，實現法蘭座和密封蓋板的密封連接。

5.根據權利要求4所述的一種低溫制冷機測試用真空杜瓦結構，其特征在于：所述的法蘭座密封圈包括有環形的內支撐架和套裝于內支撐架外周的橡膠密封圈，所述的內支撐架包括有上部、中部和下部，內支撐架的上部和下部的外徑均小于其中部的外徑，密封蓋板的下端面和法蘭座的上端面均設置有環形卡槽，內支撐架的上部伸入到密封蓋板的環形卡槽內，內支撐架的下部伸入到法蘭座的環形卡槽內，所述的橡膠密封圈套裝于內支撐架的中部，所述的內支撐架的中部和橡膠密封圈均夾設于法蘭座和密封蓋板之間。

6.根據權利要求1所述的一種低溫制冷機測試用真空杜瓦結構，其特征在于：所述的密封蓋板的中心位置設置于中心孔，所述的絕緣子為四針絕緣子，四針絕緣子的固定套密封固定于密封蓋板的中心孔內，四針絕緣子的其中兩針絕緣子通過兩根引出線與測溫傳感器連接，四針絕緣子的另外兩針絕緣子通過兩根引出線與測制冷量電阻連接。

7.根據權利要求2所述的一種低溫制冷機測試用真空杜瓦結構，其特征在于：所述的上法蘭盤和下法蘭盤上均設置一圈上下貫通的通孔，上法蘭盤和下法蘭盤上的一圈通孔與冷指基座上一圈連接螺釘上下重疊，便于一圈連接螺釘穿過上法蘭盤和下法蘭盤上的通孔后固定于冷指基座上。