[發明專利]一種污染場地調查布點的方法

有效

• 申請號: 202011056487.7
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN112308290B
• 公開（公告）日: 2023-07-28
• 發明（設計）人: 劉興旺;劉帆;李峰;苗萬里
• 申請（專利權）人: 湘潭大學
• 主分類號: G06Q10/04
• 分類號: G06Q10/04;G06Q10/0637;G06Q50/26;G06F16/29
• 代理公司: 湘潭市匯智專利事務所(普通合伙) 43108
• 代理人: 冷玉萍

1.一種污染場地調查布點的方法，其特征在于，包括以下步驟：

（1）在調查區域進行網格采樣布點，采樣點位布設在網格中心位置，網格間距不大于40m×40?m，然后采集土樣；

（2）檢測步驟（1）所得采集土樣的各項污染指標；

（3）對步驟（2）所測指標含量進行數據描述性統計分析，主要衡量指標為偏度，峰度，變異系數，K-S?test檢驗值；若偏度遠偏離0，峰度遠偏離3，變異系數大于75%，K-S?test檢驗指標小于0.05，表明數據的空間自相關性很弱，判斷不符合正態分布；

（4）將步驟（2）所得數據導入ArcGIS工具創建泰森多邊形，每個點位對應一個泰森多邊形，將所有泰森多邊形分為未超標點所在A區域和超標點位所在B區域；

（5）在整個調查區域內，對步驟（2）所得未超標點位進行普通克里金法即OK插值；對步驟（2）所得所有點位進行若干種確定性插值方法比選，經交叉檢驗選出最佳的一種或兩種以上的確定性插值方法；

（6）利用ArcGIS柵格工具，在步驟（4）得到的A區域提取步驟（5）得到的普通克里金法即OK插值結果；在步驟（4）得到的B區域提取步驟（5）得到的最佳確定性方法插值結果；將A、B區域提取結果進行合并，形成一種或兩種以上組合的調查區域完整污染插值結果；

（7）對步驟（6）得到的插值結果進行交叉檢驗精度分析，得到唯一最佳的插值方法組合；

（8）對已超標和懷疑超標的點位附近進行加密點位布設，對加密后的所有點位重復步驟（4）至（7），得到進一步的最佳插值方法組合；

步驟（5）中所應用的確定性插值方法為反距離插值法即IDW、徑向基函數法中的薄板樣條函數即Thin?plate?spline、張力樣條函數即Spline?with?tension、規則樣條函數即Completely?regularized?spline、高次曲面函數即Multiquadric、反高次曲面函數即Inverse?multiquadric中的一種或兩種以上；

步驟（5）和（7）中，交叉驗證的指標是平均預測誤差ME、平均絕對誤差MAE、平均相對誤差MRE、均方根誤差RMSE、非超標點識別為超標的數量、污染面積中的一種或兩種以上。

2.根據權利要求1所述的污染場地調查布點的方法，其特征在于，還包括步驟（8）進行補充采樣和插值方法組合的重復，以實現對預測精度更細化的要求。

3.根據權利要求1或2所述的污染場地調查布點的方法，其特征在于，步驟（1）中，調查區域面積在0.05?km²-0.45?km²范圍內；采用網格布點法布設采樣點時，土壤采樣深度在0-6m范圍內，且分析的土壤樣品為同一深度采得。

4.根據權利要求1或2所述的污染場地調查布點的方法，其特征在于，步驟（2）中，污染指標為重金屬污染指標或有機物污染指標；所述的重金屬污染指標為土壤中砷、鎘、鉻、銅、鉛、汞、鎳或鋅中的一種或兩種以上的含量。

5.根據權利要求1或2所述的污染場地調查布點的方法，其特征在于，步驟（4）中所述的超標，其判斷依據是所測污染物含量是否超過《土壤環境質量?建設用地土壤污染風險管控標準（試行）》（GB36600-2018）中所規定的評價標準。