[發明專利]特殊微小裂紋的超聲波探傷方法在審
| 申請號: | 202011053831.7 | 申請日: | 2020-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN114324571A | 公開(公告)日: | 2022-04-12 |
| 發明(設計)人: | 強超 | 申請(專利權)人: | 貴州安大航空鍛造有限責任公司 |
| 主分類號: | G01N29/04 | 分類號: | G01N29/04;G01N29/24 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 561005 貴州省*** | 國省代碼: | 貴州;52 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 特殊 微小 裂紋 超聲波 探傷 方法 | ||
本發明公開了一種特殊微小裂紋的超聲波探傷方法,其特征在于,采用超聲波測厚探頭用于缺陷的檢測,根據不同底面回波顯示的情況精準的檢出缺陷。該方法適用斜向裂紋的超聲波檢測。
技術領域
本發明涉及一種裂紋的檢測方法,特別是涉及了一種特殊微小裂紋的超聲波探傷方法。
背景技術
對于厚度尺寸較小產品,在內部或組件的結合面上存在裂紋時,在無法使用滲透、渦流、磁粉等表面或近表面檢測技術的情況下,常規超聲波脈沖反射法又檢測不到缺陷回波的情況下,通過選用常規的脈沖反射式超聲波探傷儀配合高頻超聲波測厚探頭,實現對產品中的斜向裂紋的檢出。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是:提供一種特殊微小裂紋的超聲波探傷方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1:制作用于模擬自然缺陷的厚測探頭;
步驟2:調節超聲波探傷系統的檢測參數;
步驟3:將探頭耦合在人工缺陷對比試塊上的正常位置,設定儀器合適的增益值,使儀器顯示屏上能夠明顯地出現工件第五次以上的底面回波;
步驟4:將探頭耦合在人工缺陷對比試塊上的刻槽位置,沿方向由淺向深的方向移動探頭,使工件第二次底面回波降低到儀器顯示屏的滿刻高度的80%,并在工件的自然缺陷位置驗證檢測靈敏度,也能達到與人工缺陷相似的顯示效果;
步驟5:在此檢測條件下,在工件的檢測面上,從兩個垂直進行掃查,實現對工件上缺陷的檢測。
與現有技術相比,本發明的有益效果如下:
本發明所述特殊微小裂紋的超聲波探傷方法,該方法采用超聲波測厚探頭用于缺陷的檢測,根據不同底面回波顯示的情況精準的檢出缺陷。
附圖說明
下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步詳細說明。
圖1是檢測基準缺陷試塊的人工切槽示意圖;
圖2是檢測基準缺陷試塊的人工切槽加工面示意圖。
具體實施方式
本發明所述特殊微小裂紋的超聲波探傷方法,其具體實施方式如下:
步驟1:制作用于模擬自然缺陷的厚測探頭;
步驟2:調節超聲波探傷系統的檢測參數;
步驟3:將探頭耦合在人工缺陷對比試塊上的正常位置,設定儀器合適的增益值,使儀器顯示屏上能夠明顯地出現工件第五次以上的底面回波;
步驟4:將探頭耦合在人工缺陷對比試塊上的刻槽位置,沿方向由淺向深的方向移動探頭,使工件第二次底面回波降低到儀器顯示屏的滿刻高度的80%,并在工件的自然缺陷位置驗證檢測靈敏度,也能達到與人工缺陷相似的顯示效果;
步驟5:在此檢測條件下,在工件的檢測面上,從兩個垂直進行掃查,實現對工件上缺陷的檢測。
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