[發明專利]一種APD-TIA ROSA的自動測試系統及測試方法

在審

• 申請號: 202011052792.9
• 申請日: 2020-09-29
• 公開（公告）號: CN112285517A
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 曾延華;余金文;林炳燦;王銳;陳威翔;藍斌偉
• 申請（專利權）人: 廈門三優光電股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01M11/02
• 代理公司: 廈門仕誠聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 35227
• 代理人: 吳圳添

1.一種APD-TIA ROSA的自動測試方法，該方法基于一種APD-TIA ROSA的自動測試系統，所述自動測試系統用于測試內置有TEC和熱敏電阻的APD-TIA ROSA，其特征在于：所述自動測試系統包括：

夾具，具有密封腔，所述密封腔用于容置待測APD-TIA ROSA并為所述待測APD-TIAROSA提供不同的外部溫度環境；

測試板組件，固定安裝在所述密封腔內，與所述待測APD-TIA ROSA電連接，且具有電氣連接插口；

光輸入單元，與所述待測APD-TIA ROSA通過光纖連接，為所述待測APD-TIA ROSA提供光信號；

測控單元，通過連接線連接所述電氣連接插口，包括測試裝置和電源裝置，所述測試裝置用于測試所述待測APD-TIA ROSA的光電參數，所述電源裝置為所述待測APD-TIA ROSA提供電流和/或電壓；以及

計算機單元，控制連接所述測控單元，監控所述測控單元；

所述自動測試方法包括以下步驟：

S1、為所述測試板組件通電，計算機單元控制測控單元使所述待測APD-TIA ROSA的TIA處于通電狀態；

S2、計算機單元控制所述測控單元為所述TEC通電，并控制所述TEC的電流自動調節直至所述熱敏電組的電阻值處于指定范圍內；

S3、計算機單元控制所述測控單元為所述待測APD-TIA ROSA提供指定值的電流，然后讀取和記錄APD的基準電壓V_br；

S4、計算機單元控制測控單元為所述APD提供初始電壓，所述初始電壓低于所述基準電壓V_br，然后讀取和記錄APD的暗電流；

S5、光輸入單元為所述待測APD-TIA ROSA輸入指定功率的光，計算機單元控制所述測控單元為所述APD提供所述初始電壓，然后讀取和記錄待測APD-TIA ROSA溫度穩定時的響應電流I_m，并計算出響應度；

S6、光輸入單元為所述待測APD-TIA ROSA輸入所述指定功率的光，計算機單元控制所述測控單元為所述APD提供所述初始電壓，然后計算機單元控制TIA跨阻的大小并讀取不同跨阻大小下所述待測APD-TIA ROSA溫度穩定時的輸出電壓。

2.如權利要求1所述的APD-TIA ROSA的自動測試方法，其特征在于：所述測控單元還包括繼電器，所述繼電器與所述計算機單元通信連接以使所述計算機單元可以控制切換所述繼電器的高低電平。

3.如權利要求1所述的APD-TIA ROSA的自動測試方法，其特征在于：所述電源裝置包括：為所述TEC提供電流和/或電壓的TEC電源，和為所述APD提供電壓和/或電流的APD電源。

4.如權利要求1所述的APD-TIA ROSA的自動測試方法，其特征在于：所述測試裝置包括用于測試所述待測APD-TIA ROSA電壓的電壓測試儀器，和用于測試所述熱敏電阻電阻值的電阻測試儀器。

5.如權利要求1所述的APD-TIA ROSA的自動測試方法，其特征在于：所述測試板組件包含底板和PCB板，所述PCB板垂直插設在所述底板上，所述PCB板與所述待測APD-TIA ROSA連接，所述底板上設有所述電氣連接插口。

6.如權利要求5所述的APD-TIA ROSA的自動測試方法，其特征在于：所述底板設置在所述密封腔的底部，所述待測APD-TIA ROSA與所述底板平行設置。

7.根據權利要求1所述的APD-TIA ROSA的自動測試方法，其特征在于：還包括步驟：光輸入單元為所述待測APD-TIA ROSA輸入指定功率的光，計算機單元讀取響應度為1時的雪崩電壓；光輸入單元停止輸入光信號，計算機單元讀取響應度為1時，所述雪崩電壓下的暗電流。

8.根據權利要求1所述的APD-TIA ROSA的自動測試方法，其特征在于：步驟S6中，讀取所述輸出電壓后，計算機單元計算所述輸出電壓與所述響應電流I_m的比值。

9.根據權利要求1所述的APD-TIA ROSA的自動測試方法，其特征在于：步驟S3中，所述電流的指定值為10μA；步驟S4中，所述初始電壓為0.9*V_br或V_br-1；步驟S5中，所述光的指定功率為1μW。