[發明專利]一種基于頻率步進的超大反射陣寬角掃描天線

在審

• 申請號: 202011052447.5
• 申請日: 2020-09-29
• 公開（公告）號: CN112350067A
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 曾濤;向寅;丁澤剛;盧嶧靈;龍騰
• 申請（專利權）人: 北京理工大學
• 主分類號: H01Q3/00
• 分類號: H01Q3/00;G01S7/28;G06F17/10
• 代理公司: 北京理工大學專利中心 11120
• 代理人: 代麗;郭德忠

1.一種基于頻率步進的超大反射陣寬角掃描天線，其特征在于，包括上位機、饋源、控制模塊以及兩個以上子反射面；

其中，每個子反射面都是相同的主動式平面反射面，配套有對應的俯仰轉軸、方位轉軸、前后運動臺以及基座，其中，前后運動臺安裝在基座上；

方位向和俯仰向的兩個以上子反射面組成二維大反射面；饋源放置在二維大反射面前方，饋源的波束正好覆蓋天線的面積，饋源向二維大反射面發射頻率步進信號；

上位機用于在饋源開始發射頻率步進信號以及完成一個掃描角度后，向控制模塊給定反射波束俯仰角和反射波束方位角，直到掃描波束覆蓋整個空域；

控制模塊用于根據上位機給定的給定反射波束俯仰角和反射波束方位角，計算各個頻點下子反射面的俯仰、方位和前后的機械運動量并發送給俯仰轉軸、方位轉軸和前后運動臺；

俯仰轉軸、方位轉軸和前后運動臺接收控制模塊發送的機械運動量對子反射面的俯仰旋轉、方位旋轉以及前后運動進行控制，完成一個掃描角度；

其中，所述俯仰、方位和前后的機械運動量計算方式具體如下：

子反射面俯仰轉角θ_m：

子反射面方位轉角φ_m：

子反射面前后步進量z_m：

其中：

θ為反射波束俯仰角，φ為反射波束方位角，R為饋源距離反射面的距離，λ_c為不同頻點下的波長。

2.如權利要求1所述的超大口徑平面反射陣列天線，其特征在于，所述子反射面的方位轉軸在基座上。

3.如權利要求1所述的超大口徑平面反射陣列天線，其特征在于，所述子反射面的方位轉軸在反射面上。