[發明專利]用于稀疏孔徑成像系統的裝調裝置及裝調方法

在審

• 申請號: 202011050525.8
• 申請日: 2020-09-29
• 公開（公告）號: CN112230441A
• 公開（公告）日: 2021-01-15
• 發明（設計）人: 張蓉竹;劉國棟;錢俊宏;吳小龑;陶冶;胡流森;劉婷;劉何偉
• 申請（專利權）人: 四川大學;中國工程物理研究院流體物理研究所
• 主分類號: G02B27/62
• 分類號: G02B27/62
• 代理公司: 成都睿道專利代理事務所(普通合伙) 51217
• 代理人: 潘育敏

1.一種用于稀疏孔徑成像系統的裝調裝置，其特征在于，包括探測器(11)及向所述稀疏孔徑成像系統中的若干子望遠鏡(10)投射光束的光源機構(3)；

所述光源機構(3)包括激光器(30)、若干反射鏡(32)以及設于所述激光器(30)出射光路上的分束鏡(31)，所述分束鏡(31)用于將激光器(30)的光束分為與子望遠鏡(10)數量相等的子光束；

所述若干反射鏡(32)分別設于若干子光束的光路上，用于使所述若干子光束互相平行且每組子光束各反射到一組子望遠鏡(10)內；

所述探測器(11)設于所述稀疏孔徑成像系統中的合束機構的像方焦點處，用于采集所述若干子光束的光斑圖樣。

2.根據權利要求1所述的用于稀疏孔徑成像系統的裝調裝置，其特征在于：所述分束鏡(31)設于激光器(30)與任意一組子望遠鏡(10)之間，且分束鏡(31)具有相對的第一端面和第二端面；

所述激光器(30)的光束垂直于所述分束鏡(31)的第一端面，使得激光器(30)出射光的光軸與經分束鏡(31)的第二端面射出的一組子光束的光軸共線。

3.根據權利要求1或2所述的用于稀疏孔徑成像系統的裝調裝置，其特征在于：所述裝調裝置還包括支撐機構(20)，所述激光器(30)設于支撐機構(20)上,且激光器(30)的出射光路垂直于任意一組子望遠鏡(10)的端面。

4.根據權利要求3所述的用于稀疏孔徑成像系統的裝調裝置，其特征在于：所述支撐機構(20)上設有兩組環狀的固定架(300)，所述激光器(30)穿設于所述兩組固定架(300)內，且每組固定架(300)上環繞所述激光器(30)設置有若干緊固件(301)，且每組緊固件(301)上朝向固定架(300)環內的一端均抵接于所述激光器(30)外壁。

5.根據權利要求4所述的用于稀疏孔徑成像系統的裝調裝置，其特征在于：所述支撐機構(20)上還設有第一承載機構(310)，所述分束鏡(31)設于第一承載機構(310)上。

6.根據權利要求5所述的用于稀疏孔徑成像系統的裝調裝置，其特征在于：所述第一承載機構(310)為手動旋轉位移臺。

7.根據權利要求4所述的用于稀疏孔徑成像系統的裝調裝置，其特征在于：所述支撐機構(20)支撐于平臺(2)上，所述平臺(2)上還設有固定件(33)以支撐反射鏡(32)。

8.根據權利要求1或2所述的用于稀疏孔徑成像系統的裝調裝置，其特征在于：所述探測器(11)為CCD相機。

9.一種如權利要求1所述的用于稀疏孔徑成像系統的裝調裝置的裝調方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、調整光源機構(3)，使照射到稀疏孔徑成像系統中的所述若干子光束互相平行；

S2、采用遮擋子光束的方式，使僅有一組子光束照射到與其對應的子望遠鏡(10)內；

S3、調整稀疏孔徑成像系統，使探測器(11)上采集到清晰的光斑圖樣；

S4、逐個取消對余下子光束的遮擋，并于每組子光束取消遮擋后且下一組子光束取消遮擋前，重復步驟S3直到探測器(11)采集到清晰的干涉圖樣。

10.根據權利要求9所述的用于稀疏孔徑成像系統的裝調裝置的裝調方法，其特征在于：步驟S1中，調整光源機構(3)包括對激光器(30)、分束鏡(31)和若干反射鏡(32)的調整。