[發(fā)明專利]一種MCU低功耗模式切換的測試方法、裝置及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011048695.2
• 申請日: 2020-09-29
• 公開（公告）號: CN112198865B
• 公開（公告）日: 2022-03-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐琴;錢斌;常夕陽;王瀚正
• 申請（專利權(quán)）人: 中電海康無錫科技有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32104
• 代理人: 殷紅梅;陳麗麗

1.一種MCU低功耗模式切換的測試方法，其特征在于，包括：

根據(jù)上位機(jī)的測試指令向待測試MCU發(fā)送進(jìn)入低功耗模式測試模式的控制信號；

獲取處于低功耗模式下的待測試MCU的第一狀態(tài)檢測信號；

向所述待測試MCU發(fā)送喚醒信號，所述喚醒信號用于使得待測試MCU退出低功耗模式；

獲取退出低功耗模式的待測試MCU的第二狀態(tài)檢測信號；

根據(jù)所述第一狀態(tài)檢測信號與所述第二狀態(tài)檢測信號的比較判斷待測試MCU的低功耗模式切換是否正常，并得到判斷結(jié)果；

將所述判斷結(jié)果發(fā)送至所述上位機(jī)進(jìn)行顯示；

根據(jù)待測試MCU的設(shè)計(jì)規(guī)格，所述待測試MCU包括多個低功耗模式，所述根據(jù)上位機(jī)的測試指令向待測試MCU發(fā)送進(jìn)入低功耗模式測試模式的控制信號，包括：

根據(jù)上位機(jī)的測試指令向待測試MCU發(fā)送進(jìn)入第一低功耗模式測試模式的控制信號，并在對第一低功耗模式測試模式下得到判斷結(jié)果后，向待測試MCU發(fā)送進(jìn)入第二低功耗模式測試模式的控制信號，并重復(fù)與所述第一低功耗模式測試模式下的測試過程，重復(fù)上述過程直到完成預(yù)設(shè)的多個低功耗模式的測試過程；

其中，所述獲取處于低功耗模式下的待測試MCU的第一狀態(tài)檢測信號，包括：

獲取處于低功耗模式下的待測試MCU 的內(nèi)核和/或外設(shè)設(shè)備的第一工作狀態(tài)信號；或者，

所述獲取處于低功耗模式下的待測試MCU的第一狀態(tài)檢測信號，包括：

獲取處于低功耗模式下的待測試MCU的第一電流功耗。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的MCU低功耗模式切換的測試方法，其特征在于，所述獲取退出低功耗模式的待測試MCU的第二狀態(tài)檢測信號，包括：

獲取退出低功耗模式的待測試MCU的內(nèi)核和/或外設(shè)設(shè)備的第二工作狀態(tài)信號。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的MCU低功耗模式切換的測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一狀態(tài)檢測信號與所述第二狀態(tài)檢測信號的比較判斷待測試MCU的低功耗模式切換是否正常，并得到判斷結(jié)果，包括：

比較所述第一工作狀態(tài)信號與所述第二工作狀態(tài)信號是否相同；

若所述第一工作狀態(tài)信號與所述第二工作狀態(tài)信號相同，則判定所述待測試MCU的低功耗模式切換不正常；

若所述第一工作狀態(tài)信號與所述第二工作狀態(tài)信號不同，則判定所述待測試MCU的低功耗模式切換正常。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的MCU低功耗模式切換的測試方法，其特征在于，所述獲取退出低功耗模式的待測試MCU的第二狀態(tài)檢測信號，包括：

獲取退出低功耗模式的待測試MCU的第二電流功耗。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的MCU低功耗模式切換的測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一狀態(tài)檢測信號與所述第二狀態(tài)檢測信號的比較判斷待測試MCU的低功耗模式切換是否正常，并得到判斷結(jié)果，包括：

比較所述第一電流功耗是否小于所述第二電流功耗；

若所述第一電流功耗小于所述第二電流功耗，則判定所述待測試MCU的低功耗模式切換正常；

若所述第一電流功耗不小于所述第二電流功耗，則判定所述待測試MCU的低功耗模式切換不正常。

6.一種MCU低功耗模式切換的測試裝置，用于實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的MCU低功耗模式切換的測試方法，其特征在于，包括：

第一發(fā)送模塊，用于根據(jù)上位機(jī)的測試指令向待測試MCU發(fā)送進(jìn)入低功耗模式測試模式的控制信號；

第一獲取模塊，用于獲取處于低功耗模式下的待測試MCU的第一狀態(tài)檢測信號；

第二發(fā)送模塊，用于向所述待測試MCU發(fā)送喚醒信號，所述喚醒信號用于使得待測試MCU退出低功耗模式；

第二獲取模塊，用于獲取退出低功耗模式的待測試MCU的第二狀態(tài)檢測信號；

比較判斷模塊，用于根據(jù)所述第一狀態(tài)檢測信號與所述第二狀態(tài)檢測信號的比較判斷待測試MCU的低功耗模式切換是否正常，并得到判斷結(jié)果；

第三發(fā)送模塊，用于將所述判斷結(jié)果發(fā)送至所述上位機(jī)進(jìn)行顯示。

7.一種MCU低功耗模式切換的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：上位機(jī)、模擬開關(guān)、電流采集模塊、DC電源和權(quán)利要求6所述的MCU低功耗模式切換的測試裝置，所述模擬開關(guān)和電流采集模塊均與所述MCU低功耗模式切換的測試裝置通信連接，所述DC電源與所述電流采集模塊電連接，所述MCU低功耗模式切換的測試裝置與所述上位機(jī)通信連接。