[發(fā)明專利]一種點膠方法及點膠設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011043442.6
• 申請日: 2020-09-28
• 公開（公告）號: CN112221848B
• 公開（公告）日: 2021-11-16
• 發(fā)明（設計）人: 焦順立;楊彪
• 申請（專利權）人: 立訊智造（浙江）有限公司
• 主分類號: B05C5/02
• 分類號: B05C5/02;B05C11/10;B05C13/02;B05D1/26
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 劉臣剛

1.一種點膠方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、將標定塊安裝在載具上，所述標定塊上設有凸臺結(jié)構(gòu)；

S2、移動水平定位機構(gòu)，使所述水平定位機構(gòu)的測量位置與所述凸臺結(jié)構(gòu)的標定位置重合，并記錄所述水平定位機構(gòu)的第一移動路線；

S3、移動鐳射機構(gòu)，使所述鐳射機構(gòu)位于所述凸臺結(jié)構(gòu)的正上方，并記錄所述鐳射機構(gòu)的第二移動路線；

S4、根據(jù)所述第一移動路線及所述第二移動路線確定所述水平定位機構(gòu)與所述鐳射機構(gòu)的相對位置偏差；

S5、所述水平定位機構(gòu)確定待點膠產(chǎn)品的點膠位置的水平位置；

S6、根據(jù)所述水平位置及所述相對位置偏差確定所述點膠位置的豎直坐標；

S7、根據(jù)所述水平位置及所述豎直坐標對所述待點膠產(chǎn)品點膠；

步驟S6包括：

S61、根據(jù)所述水平位置及所述相對位置偏差確定所述鐳射機構(gòu)的第三移動路線；

S62、根據(jù)所述第三移動路線控制所述鐳射機構(gòu)移動至所述水平位置，并在所述水平位置測量所述點膠位置的豎直坐標；

所述相對位置偏差包括X方向偏差及Y方向偏差，在步驟S61中，根據(jù)所述水平位置及所述X方向偏差確定所述第三移動路線在X方向上的第一移動距離，以及根據(jù)所述水平位置及所述Y方向偏差確定第三移動路在Y方向上的第二移動距離。

2.根據(jù)權利要求1所述的點膠方法，其特征在于，在步驟S2之后，所述點膠方法還包括控制所述水平定位機構(gòu)移動至第一原始位置；

在步驟S3之后，所述點膠方法還包括控制所述鐳射機構(gòu)移動至第二原始位置。

3.根據(jù)權利要求1所述的點膠方法，其特征在于，在步驟S4之后，所述點膠方法還包括將所述標定塊從所述載具上取下，并將所述待點膠產(chǎn)品固定于所述載具上。

4.一種點膠設備，其特征在于，包括：

載具；

點膠機構(gòu)，位于所述載具的上方，并用于對待點膠產(chǎn)品點膠；

水平定位機構(gòu)，能相對于所述載具移動；

鐳射機構(gòu)，能相對于所述載具移動，并用于測量點膠位置的豎直坐標；

標定塊，可拆卸連接于所述載具上，所述標定塊上設有凸臺結(jié)構(gòu)；

控制組件，所述控制組件用于控制水平定位機構(gòu)移動，并在所述水平定位機構(gòu)的測量位置與所述凸臺結(jié)構(gòu)的標定位置重合時，記錄所述水平定位機構(gòu)的第一移動路線，控制鐳射機構(gòu)移動，并在所述鐳射機構(gòu)位于所述凸臺結(jié)構(gòu)的正上方時，記錄所述鐳射機構(gòu)的第二移動路線，根據(jù)所述第一移動路線及所述第二移動路線確定所述水平定位機構(gòu)與所述鐳射機構(gòu)的相對位置偏差，以及根據(jù)點膠位置的水平位置及所述相對位置偏差確定所述點膠位置的豎直坐標。

5.根據(jù)權利要求4所述的點膠設備，其特征在于，所述標定塊設有所述凸臺結(jié)構(gòu)的表面還設有定位槽。

6.根據(jù)權利要求5所述的點膠設備，其特征在于，所述標定塊上設有兩個所述定位槽，其中，一個所述定位槽的深度大于另一個所述定位槽的深度，所述凸臺結(jié)構(gòu)位于兩個所述定位槽之間。

7.根據(jù)權利要求5所述的點膠設備，其特征在于，所述凸臺結(jié)構(gòu)呈圓柱狀，且所述凸臺結(jié)構(gòu)的標定位置為所述凸臺結(jié)構(gòu)的軸線的位置坐標。