[發明專利]一種完全非均勻偏振光的偏振均勻度度量方法、應用、裝置、電子設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202011042387.9 | 申請日: | 2020-09-28 |
| 公開(公告)號: | CN112146760B | 公開(公告)日: | 2021-08-31 |
| 發明(設計)人: | 陳侃;鄒康;王國發;龔怡佳;申河良;舒曉武 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | G01J4/00 | 分類號: | G01J4/00 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 33200 | 代理人: | 應孔月 |
| 地址: | 310058 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 完全 均勻 偏振光 偏振 度量 方法 應用 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種完全非均勻偏振光的偏振均勻度度量方法,其特征在于,包括:
輸入完全非均勻偏振光束橫截面的Stokes參量分布;
將所述的Stokes參量分布通過計算對應在邦加球面上;
通過空間三角形曲面擬合算法對所述邦加球面上的偏振態分布進行曲面擬合;
計算得到擬合三角形曲面面積之和SD;
將SD除以單位邦加球面總面積S0,得到完全非均勻偏振光的偏振均勻度
2.根據權利要求1所述的一種完全非均勻偏振光的偏振均勻度度量方法,其特征在于,通過空間三角形曲面擬合算法對所述邦加球面上的偏振態分布進行曲面擬合,具體包括:
輸入偏振態數據點并設置閾值K;
將所述偏振態數據點按照空間直角坐標系的八個卦限進行分離;
對每個卦限內偏振態數據點進行Delaunay三角剖分算法擬合;
判斷擬合得到的Delaunay三角形中是否至少有兩邊長大于設定閾值K,若是,則刪除相應Delaunay三角形;
將經上述刪除后剩余的Delaunay三角形描述在邦加球面上。
3.根據權利要求1所述的一種完全非均勻偏振光的偏振均勻度度量方法,其特征在于,計算得到擬合三角形曲面面積之和SD通過海倫公式計算獲得,具體包括:
根據擬合三角形三邊長計算出相應Delaunay三角形面積Si:
其中i為擬合Delaunay三角形的序號,pi、ai、bi、ci分別為Delaunay三角形的半周長和三個邊長,因此曲面擬合總面積
4.根據權利要求1所述的一種完全非均勻偏振光的偏振均勻度度量方法,其特征在于,還包括:
對完全非均勻偏振光在邦加球上偏振態數據點進行數學統計,得到光束橫截面上存在的偏振光的種類以及比例。
5.一種完全非均勻偏振光的偏振均勻度度量裝置,其特征在于,包括:
輸入模塊,用于輸入完全非均勻偏振光束橫截面的Stokes參量分布;
第一計算模塊,用于將所述的Stokes參量分布通過計算對應在邦加球面上;
擬合模塊,用于通過空間三角形曲面擬合算法對所述邦加球面上的偏振態分布進行曲面擬合;
第二計算模塊,用于計算得到擬合三角形曲面面積之和SD;
第三計算模塊,用于將SD除以單位邦加球面總面積S0,得到完全非均勻偏振光的偏振均勻度
6.根據權利要求5所述的裝置,其特征在于,還包括:
統計模塊,用于對完全非均勻偏振光在邦加球上偏振態數據點進行數學統計,得到光束橫截面上存在的偏振光的種類以及比例。
7.一種電子設備,其特征在于,包括:
一個或多個處理器;
存儲器,用于存儲一個或多個程序;
當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行,使得所述一個或多個處理器實現如權利要求1-4任一項所述的方法。
8.一種計算機可讀的存儲介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于,該程序被處理器執行時實現如權利要求1-4中任一項所述的方法。
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