[發(fā)明專利]用于規(guī)則幾何體的標(biāo)定裝置及定位方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011041867.3
• 申請(qǐng)日: 2020-09-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112161543A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-01-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐鈺鑫;祝賢洲;杜操;李施展;余昆;韓國(guó)卿;方俊;蔣思君;王海龍;趙榮;竇雪飛;吳桐;鐘光建
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中鐵大橋局第七工程有限公司
• 主分類號(hào): G01B5/00
• 分類號(hào): G01B5/00
• 代理公司: 武漢智權(quán)專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 42225
• 代理人: 唐勇

1.一種用于規(guī)則幾何體的標(biāo)定裝置，其特征在于，其包括：

柔性的罩體(1)；

柔性的測(cè)量尺(2)，其沿所述罩體(1)的長(zhǎng)度方向設(shè)于該罩體(1)上；

連接機(jī)構(gòu)(3)，其設(shè)于所述罩體(1)上，并用于將所述罩體(1)固定于待測(cè)幾何體(4)上；

兩個(gè)標(biāo)定機(jī)構(gòu)(5)，所述標(biāo)定機(jī)構(gòu)(5)卡持于所述測(cè)量尺(2)上，并可沿所述測(cè)量尺(2)的長(zhǎng)度方向移動(dòng)；

該標(biāo)定裝置具有使用狀態(tài)，當(dāng)處于使用狀態(tài)時(shí)，所述罩體(1)沿所述待測(cè)幾何體(4)周向貼合于所述待測(cè)幾何體(4)的外表面上，所述連接機(jī)構(gòu)(3)固定于所述待測(cè)幾何體(4)上；且兩個(gè)所述標(biāo)定機(jī)構(gòu)(5)在所述測(cè)量尺(2)上的刻度值的差值，等于所述待測(cè)幾何體(4)的橫截面周長(zhǎng)的一半。

2.如權(quán)利要求1所述的標(biāo)定裝置，其特征在于，所述罩體(1)的一側(cè)邊上設(shè)有折邊(10)，所述測(cè)量尺(2)部分收容于所述折邊(10)內(nèi)。

3.如權(quán)利要求1所述的標(biāo)定裝置，其特征在于，

所述罩體(1)的兩側(cè)邊上均設(shè)有折邊(10)，所述測(cè)量尺(2)部分收容于其中一所述折邊(10)內(nèi)；

該標(biāo)定裝置還包括固定條(7)，所述固定條(7)部分收容于另一所述折邊(10)內(nèi)，且所述固定條(7)與所述測(cè)量尺(2)之間形成有供所述標(biāo)定機(jī)構(gòu)(5)滑動(dòng)的滑道(11)，所述標(biāo)定機(jī)構(gòu)(5)的兩端分別卡持于所述測(cè)量尺(2)和所述固定條(7)上。

4.如權(quán)利要求3所述的標(biāo)定裝置，其特征在于，所述標(biāo)定機(jī)構(gòu)(5)包括：

卡持件(50)，其上開(kāi)設(shè)有兩個(gè)分別用于卡持所述測(cè)量尺(2)和所述固定條(7)的卡槽(500)；

轉(zhuǎn)接頭(51)，其垂直連接于所述卡持件(50)上，并用于卡持棱鏡(6)。

5.如權(quán)利要求1所述的標(biāo)定裝置，其特征在于，

所述連接機(jī)構(gòu)(3)為搭扣(30)，所述搭扣(30)連接于所述罩體(1)的兩端；或，

所述連接機(jī)構(gòu)(3)為磁石(31)，所述磁石(31)與所述測(cè)量尺(2)分設(shè)于所述罩體(1)的兩側(cè)。

6.如權(quán)利要求1所述的標(biāo)定裝置，其特征在于，所述待測(cè)幾何體(4)的橫截面為圓形、橢圓形和四邊形中的一種。

7.如權(quán)利要求6所述的標(biāo)定裝置，其特征在于，當(dāng)所述待測(cè)幾何體(4)為的橫截面為四邊形，且所述標(biāo)定裝置處于使用狀態(tài)時(shí)，兩個(gè)所述標(biāo)定機(jī)構(gòu)(5)分別位于所述四邊形的兩對(duì)角邊的中點(diǎn)。

8.一種適用于規(guī)則幾何體的定位方法，其特征在于，其包括以下步驟：

提供如權(quán)利要求1所述的標(biāo)定裝置；

將所述罩體(1)沿待測(cè)幾何體(4)周向貼合于所述待測(cè)幾何體(4)的外表面上，并將所述連接機(jī)構(gòu)(3)固定于所述待測(cè)幾何體(4)上；

移動(dòng)兩個(gè)標(biāo)定機(jī)構(gòu)(5)，以使兩個(gè)所述標(biāo)定機(jī)構(gòu)(5)在所述測(cè)量尺(2)上的刻度值的差值，等于所述待測(cè)幾何體(4)的橫截面周長(zhǎng)的一半；

測(cè)量?jī)蓚€(gè)所述標(biāo)定機(jī)構(gòu)(5)的空間位置；

根據(jù)所述空間位置，計(jì)算得到所述待測(cè)幾何體(4)的橫截面中心的空間位置。

9.如權(quán)利要求8所述的定位方法，其特征在于，測(cè)量?jī)蓚€(gè)所述標(biāo)定機(jī)構(gòu)(5)的空間位置，具體包括以下步驟：

將兩個(gè)棱鏡(6)分別安裝在兩個(gè)所述標(biāo)定機(jī)構(gòu)(5)上，并通過(guò)全站儀測(cè)量?jī)蓚€(gè)所述棱鏡(6)的空間位置。

10.如權(quán)利要求9所述的定位方法，其特征在于，采用如下公式計(jì)算得到所述待測(cè)幾何體(4)的的橫截面中心的空間位置(x，y，z)：

式中：(x₁，y₁，z₁)和(x₂，y₂，z₂)分別為兩個(gè)所述棱鏡(6)的空間位置。