[發明專利]帶精密測量的可控升降裝置以及包含其的光刻設備在審
| 申請號: | 202011040473.6 | 申請日: | 2020-09-28 |
| 公開(公告)號: | CN112051715A | 公開(公告)日: | 2020-12-08 |
| 發明(設計)人: | 成榮;朱煜;張鳴;楊開明;劉相波 | 申請(專利權)人: | 清華大學 |
| 主分類號: | G03F7/20 | 分類號: | G03F7/20 |
| 代理公司: | 北京鴻元知識產權代理有限公司 11327 | 代理人: | 董永輝;曹素云 |
| 地址: | 10008*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 精密 測量 可控 升降 裝置 以及 包含 光刻 設備 | ||
本發明公開一種帶精密測量的可控升降裝置及光刻設備,裝置包括固定基座、導向座、移動組件、驅動組件,固定基座與導向座固定連接,固定基座上有軸線豎向的導向套,移動組件包括升降頭、導向桿、磁鋼,導向桿上端有安裝孔,導向桿穿過導向套,導向桿與導向套以及固定基座、導向座之間形成氣浮接觸面;磁鋼、升降頭依次裝入導向桿的安裝孔,使升降頭伸出導向套的上端部,驅動組件包括電機線圈和鐵芯,鐵芯設置在導向桿與導向套之間的環形空間內,電機線圈纏繞在鐵芯上,移動組件中心有氣孔,固定基座通過導向桿的氣道向氣孔提供正壓或負壓氣體。本發明采用氣浮接觸面導向減少零部件之間的摩擦,避免顆粒產生,并提高運動精度,減少電機驅動力要求。
技術領域
本發明涉及光刻技術領域,具體地說,涉及一種帶精密測量的可控升降裝置以及包含其的光刻設備。
背景技術
光刻設備的硅片交接裝置配合傳輸機械手,可實現硅片的交接功能。光刻設備中用來對硅片進行可控升降的裝置通常稱為E-pin。E-pin被安裝在承片臺上,光刻設備在工作時需要對硅片進行上片和下片操作。上片時,硅片被機械手傳輸至設定的位置,E-pin的pin桿伸出從機械手上取下硅片,然后pin桿縮回,將硅片放置在承片臺上。下片時,pin桿伸出將硅片從承片臺上抬起至設定高度,然后被機械手取走。因此,E-pin既需要可伸縮功能,用于舉升和下降硅片;又需要有位置測量的功能,防止硅片升降不到位造成硅片及零部件的損壞。
發明人發現,在將硅片取放到吸盤上,采用目前的滑動和滾動傳動結構會引入顆粒污染,采用滑動導向,導向桿與導向套采用硬度較高且耐磨材料,雖然可降低顆粒的數量,但是還是會引入顆粒污染;采用滾動導向,是導向桿與導向套或者固定座、導向基座之間采用滾輪導向,這樣會引入油脂,造成顆粒污染,破壞光刻環境。
為此應采用可導向而又不污染光刻環境的結構,而截至目前,暫未有較好的解決方案。
發明內容
為解決以上問題,本發明提供一種帶精密測量的可控升降裝置,包括固定基座、導向座、移動組件、驅動組件,
其中,固定基座與導向座固定連接,在固定基座上安裝有軸線豎向的導向套,
其中,移動組件包括:
升降頭,
導向桿,上端具有與導向套同軸的安裝孔,導向桿同軸穿過導向套,并且,導向桿上部與導向套,導向桿下部與固定基座、導向座之間都形成氣浮接觸面;
磁鋼,磁鋼、升降頭依次裝入導向桿的安裝孔,使得升降頭伸出導向套的上端部,
其中,驅動組件包括:
電機線圈和鐵芯,鐵芯同軸設置在導向桿與導向套之間的環形空間內,電機線圈纏繞在鐵芯上,
其中,在移動組件中心同軸開設有穿透至升降頭上端的氣孔,在導向桿上設置有進氣孔以及連通所述進氣孔與所述氣孔的氣道,在固定基座上開設有氣源孔和出氣孔,所述氣源孔與氣源連通,所述出氣孔通過軟管與導向桿上的所述進氣孔連通,通過氣源孔向所述氣孔提供正壓或負壓氣體。
優選地,移動組件還包括第一橡膠圈、支撐桿和固定套,所述固定套、支撐桿、第一橡膠圈、升降頭依次連接裝入到導向桿的安裝孔中。
優選地,在固定基座上開設有用于冷卻所述電機線圈的冷卻水槽,冷卻水固定套圍繞在固定基座的外圍密封所述冷卻水槽,在所述固定基座上設置有與冷卻水槽連通的進水口和出水口。
優選地,固定基座上設置有穿透固定基座至導向桿的光柵尺讀數頭安裝孔,光柵尺讀數頭通過所述光柵尺讀數頭安裝孔安裝在固定基座上,在所述導向桿上設置有光柵尺。
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