[發明專利]易于光學裝調的低波數拉曼檢測系統

在審

• 申請號: 202011040152.6
• 申請日: 2020-09-28
• 公開（公告）號: CN112304920A
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發明（設計）人: 黃霞;李葉文;張禮豪;吳郁清;劉風翔;何帥
• 申請（專利權）人: 中國科學院蘇州生物醫學工程技術研究所
• 主分類號: G01N21/65
• 分類號: G01N21/65;G02B27/00;G02B7/00
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理有限公司 11369
• 代理人: 孔凡玲

1.一種易于光學裝調的低波數拉曼檢測系統，其特征在于，包括：沿激光的入射光路依次設置的激光器、激光功率衰減模塊、第一平面反射鏡、第二平面反射鏡、前置邊帶濾光片、顯微物鏡，以及沿透過所述前置邊帶濾光片的拉曼信號光的出射方向依次設置的后置邊帶濾光片、第三平面反射鏡、第一透鏡、共焦針孔、第二透鏡、第三透鏡、狹縫和光譜儀；

所述激光器發出的激光經所述激光功率衰減模塊進行衰減后，依次經所述第一平面反射鏡、第二平面反射鏡反射到達所述前置邊帶濾光片，經所述前置邊帶濾光片反射后進入所述顯微物鏡，然后聚焦到樣品上，以激發產生拉曼信號光；

所述樣品發出的拉曼信號光和瑞利散射光經所述顯微物鏡收集后返回至所述前置邊帶濾光片，瑞利散射光被部分濾除，殘余的瑞利散射光和拉曼信號光透過所述前置邊帶濾光片后投射至所述后置邊帶濾光片上，殘余的瑞利散射光被所述后置邊帶濾光片濾除，拉曼信號光透過后置邊帶濾光片后經所述反射鏡投射至所述第一透鏡并聚焦在所述共焦針孔上，然后經所述第二透鏡、所述第三透鏡后匯聚于所述狹縫，再進入所述光譜儀，進行光譜分光和信號采集。

2.根據權利要求1所述的易于光學裝調的低波數拉曼檢測系統，其特征在于，所述激光功率衰減模塊包括若干透過率不同的可切換進入光路的中性衰減片。

3.根據權利要求2所述的易于光學裝調的低波數拉曼檢測系統，其特征在于，所述激光功率衰減模塊包括透過率分別為0.1％、1％、10％、25％、50％、100％的可切換進入光路的6組中性衰減片。

4.根據權利要求1所述的易于光學裝調的低波數拉曼檢測系統，其特征在于，所述第二平面反射鏡反射后的激光以10°～12°的入射角入射到所述前置邊帶濾光片上。

5.根據權利要求4所述的易于光學裝調的低波數拉曼檢測系統，其特征在于，所述前置邊帶濾光片以特定角度安裝，以使得被所述前置邊帶濾光片反射后的激光以與所述顯微物鏡的光軸重合的方向投射至所述顯微物鏡。

6.根據權利要求5所述的易于光學裝調的低波數拉曼檢測系統，其特征在于，透過所述前置邊帶濾光片的拉曼信號光以6°～7°的入射角入射到所述后置邊帶濾光片上。

7.根據權利要求1所述的易于光學裝調的低波數拉曼檢測系統，其特征在于，所述后置邊帶濾光片可拆裝設置于所述易于光學裝調的低波數拉曼檢測系統中。