[發明專利]過溫保護電路及電源芯片有效
| 申請號: | 202011039601.5 | 申請日: | 2020-09-28 |
| 公開(公告)號: | CN112165072B | 公開(公告)日: | 2023-03-10 |
| 發明(設計)人: | 李瑞平;池偉;劉彬;賈生龍;王建虎 | 申請(專利權)人: | 上海芯龍半導體技術股份有限公司 |
| 主分類號: | H02H5/04 | 分類號: | H02H5/04;H02H7/20;H02H1/00 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
| 地址: | 201206 上海市浦東新區中國*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 保護 電路 電源 芯片 | ||
1.一種過溫保護電路,其特征在于,包括:
一偏置電路模塊,用以提供一偏置電流;
一控制開關電路模塊,耦接于所述偏置電路模塊,用以提供一與所述偏置電流相關聯的檢測電流;
一第一電壓輸出模塊,耦接于所述控制開關電路模塊,用以根據所述檢測電流獲得一第一輸出電壓,所述第一輸出電壓成正比例于絕對溫度;
一第二電壓輸出模塊,用以產生一第二輸出電壓,所述第二輸出電壓成負比例于絕對溫度;以及
一比較器模塊,分別耦接于所述第一電壓輸出模塊和所述第二電壓輸出模塊,用以比較第一輸出電壓和第二輸出電壓,并且當第一輸出電壓大于第二輸出電壓時,所述比較器模塊產生一過溫保護信號,且所述比較器模塊的輸出端輸出所述過溫保護信號;
其中,所述控制開關電路模塊包括相互耦接的第一電流鏡和第二電流鏡、第三三極管以及第七三極管,所述第三三極管的發射極耦接于電源電壓輸入端,所述第三三極管的基極耦接于所述控制開關電路模塊的輸入端,所述第三三極管的集電極耦接于所述第一電流鏡的輸入端;所述第七三極管的發射極耦接于電源電壓輸入端,所述第七三極管的基極耦接于所述控制開關電路模塊的輸入端,所述第七三極管的集電極耦接于所述第二電流鏡輸入端;
所述第一電流鏡包括第四三極管、第五三極管和第六三極管;所述第四三極管的集電極耦接于所述第五三極管的集電極,第四三極管的基極用以接收第一電流鏡的輸入信號,第四三極管的發射極接地;所述第五三極管的集電極耦接于第五三極管的基極和第六三極管的基極,第五三極管的發射極接地;所述第六三極管的集電極耦接于所述第一電壓輸出模塊,第六三極管的發射極接地;所述第二電流鏡包括第八三極管、第九三極管和第十三極管;所述第八三極管的集電極耦接于所述第九三極管的集電極,第八三極管的基極用以接收第二電流鏡的輸入信號,第八三極管的發射極接地;所述第九三極管的集電極耦接于第九三極管的基極和第十三極管的基極,第九三極管的發射極接地;所述第十三極管的集電極耦接于所述第一電壓輸出模塊,第十三極管的發射極接地;
所述第三三極管用于向所述第一電流鏡提供第一電流值,所述第七三極管用于向所述第二電流鏡提供第二電流值,通過控制所述第一電流鏡中的第四三極管和所述第二電流鏡中的第八三極管各自的開啟和關閉狀態,以改變所述第一電流鏡和所述第二電流鏡各自輸出的檢測電流值,以實現控制所述控制開關電路模塊輸出四種不同的檢測電流。
2.根據權利要求1所述的過溫保護電路,其特征在于,
所述偏置電路模塊包括依次串聯的第一三極管、第二三極管、第一電阻、調節電阻單元,所述第一三極管的發射極耦接于一電源電壓輸入端,所述一三極管的集電極耦接于所述第二三極管的集電極和所述第一三極管的基極,所述第一三極管的基極耦接于所述偏置電路模塊的輸出端,所述第二三極管的基極耦接于一參考電壓輸入端,第二三極管的發射極耦接于所述第一電阻的一端;所述第一電阻的另一端耦接于所述調節電阻單元的一端。
3.根據權利要求2所述的過溫保護電路,其特征在于,所述調節電阻單元包括多個依次串聯的調節電阻;所述偏置電路模塊還包括一選擇路徑,所述選擇路徑包括多個依次串聯的金屬絲,每一所述金屬絲的兩端分別耦接于相應調節電阻的兩端,所述選擇路徑基于對每一所述金屬絲的通斷控制改變所述調節電阻單元的阻值。
4.根據權利要求1所述的過溫保護電路,其特征在于,所述第一電壓輸出模塊包括一反饋單元,所述反饋單元的輸出端耦接于所述第一電壓輸出模塊的輸出端,所述反饋單元用以提供一成正比例于絕對溫度的第一輸出電壓。
5.根據權利要求4所述的過溫保護電路,其特征在于,所述反饋單元包括固定反饋電阻和與固定反饋電阻串聯的累加反饋電阻,所述累加反饋電阻的兩端分別耦接于一設于所述第一電壓輸出模塊中的反饋三極管的集電極和發射極,所述反饋三極管的基極耦接于所述比較器模塊的輸出端。
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