[發明專利]一種單光子雪崩二極管檢測器在審
| 申請號: | 202011039380.1 | 申請日: | 2020-09-28 |
| 公開(公告)號: | CN114284376A | 公開(公告)日: | 2022-04-05 |
| 發明(設計)人: | 雷述宇 | 申請(專利權)人: | 寧波飛芯電子科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0352 | 分類號: | H01L31/0352;H01L31/107 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 315500 浙江省寧*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光子 雪崩 二極管 檢測器 | ||
1.一種單光子雪崩二極管(SPAD)檢測器,其特征在于,所述SPAD檢測器包括:具有體區域的半導體襯底;以及具有所述體區域的半導體襯底;
在半導體襯底的主體區域上的至少一個SPAD,該SPAD具有有第一導電類型的第一區域、第二導電類型的第二區域和雪崩區域,所述第二導電類型與所述第一導電類型不同,所述雪崩區域夾在所述第一區域與所述第二區域之間,且該SPAD具有至少兩個在縱向上深度不同的雪崩區域。
2.根據權利要求1所述的單光子雪崩二極管(SPAD)檢測器,其特征在于,所述的至少兩個雪崩區域在與縱向方向有夾角的方向上延伸。
3.根據權利要求2所述的單光子雪崩二極管(SPAD)檢測器,其特征在于,所述的至少兩個雪崩區域在與縱向方向夾角為900的水平方向延伸。
4.根據權利要求1所述的單光子雪崩二極管(SPAD)檢測器,其特征在于,其中所述半導體襯底為第一導電類型的第一區域,位于所述半導體襯底上方區域為摻雜濃度高于所述半導體襯底摻雜濃度的第二導電類型的第二區域。
5.根據權利要求4所述的單光子雪崩二極管(SPAD)檢測器,其特征在于,位于所述第二導電類型的第二區域上方為摻雜濃度低于所述第二導電類型的第二區域的第一導電類型的第一區域。
6.根據權利要求5所述的單光子雪崩二極管(SPAD)檢測器,其特征在于,位于所述第一導電類型的第一區域上方為摻雜濃度高于所述第一導電類型的第一區域的第二導電類型的第二區域。
7.根據權利要求6所述的單光子雪崩二極管(SPAD)檢測器,其特征在于,所述第一導電類型的第一區域和所述二導電類型的第二區域構成第一雪崩區域。
8.根據權利要求5所述的單光子雪崩二極管(SPAD)檢測器,其特征在于,所述第一導電類型的第一區域和所述二導電類型的第二區域構成第二雪崩區域。
9.根據權利要求1所述的單光子雪崩二極管(SPAD)檢測器,其特征在于,所述第二導電類型的第二區域的深度為1~2um。
10.根據權利要求5所述的單光子雪崩二極管(SPAD)檢測器,其特征在于,所述第一導電類型的第一區域的深度為3~6um。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于寧波飛芯電子科技有限公司,未經寧波飛芯電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011039380.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:信號測量方法、裝置及網絡設備
- 下一篇:一種生物質氣化工藝
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





