[發(fā)明專利]一種基于云架構(gòu)的自動(dòng)化測(cè)試中間接口方法與平臺(tái)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011038649.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112148611B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-08-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馮志芳;張博鈞;肖靂;李文卓;賀麗娟;黃峰鶴;蘇奕豪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳信息通信研究院 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 深圳市海順達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44831 | 代理人: | 蔡星 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市福田區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 架構(gòu) 自動(dòng)化 測(cè)試 中間 接口 方法 平臺(tái) | ||
本發(fā)明提供了一種基于云架構(gòu)的自動(dòng)化測(cè)試中間接口方法,包括以下步驟:S1、建立測(cè)試用例庫(kù),統(tǒng)一設(shè)定測(cè)試儀表讀、寫指令格式,基于統(tǒng)一設(shè)定測(cè)試儀表讀、寫指令格式進(jìn)行測(cè)試用例的編寫或調(diào)用,測(cè)試人員根據(jù)測(cè)試任務(wù),在應(yīng)用層選擇測(cè)試用例庫(kù)中對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例;S2、在測(cè)試用例庫(kù)中,根據(jù)測(cè)試用例對(duì)應(yīng)的測(cè)試目標(biāo)和任務(wù)選定測(cè)試儀表并對(duì)應(yīng)所需的讀、寫動(dòng)作和具體的讀、寫參數(shù);S3、在集成驅(qū)動(dòng)層中,根據(jù)指定的儀表匹配儀表的驅(qū)動(dòng)類型,傳遞測(cè)試用例庫(kù)的配置參數(shù),并自動(dòng)適配相應(yīng)的測(cè)試儀表底層讀、寫驅(qū)動(dòng)。本發(fā)明的有益效果是:提高了系統(tǒng)的應(yīng)用各類儀表設(shè)備的適應(yīng)能力,提升了物聯(lián)信息產(chǎn)品自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及物聯(lián)信息產(chǎn)品,尤其涉及一種基于云架構(gòu)的自動(dòng)化測(cè)試中間接口方法與平臺(tái)。
背景技術(shù)
物聯(lián)信息產(chǎn)品存在多種不同的測(cè)試功能模塊,需要對(duì)接多種接品,例如標(biāo)準(zhǔn)儀器設(shè)備接口、自有產(chǎn)品接口、原生儀表接口等,但現(xiàn)有的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的兼容性較差,難以支持各種協(xié)議的儀表設(shè)備,導(dǎo)致效率降低。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有技術(shù)中的問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種基于云架構(gòu)的自動(dòng)化測(cè)試中間接口方法與平臺(tái)。
本發(fā)明提供了一種基于云架構(gòu)的自動(dòng)化測(cè)試中間接口方法,包括以下步驟:
S1、建立測(cè)試用例庫(kù),統(tǒng)一設(shè)定測(cè)試儀表讀、寫指令格式,基于統(tǒng)一設(shè)定測(cè)試儀表讀、寫指令格式進(jìn)行測(cè)試用例的編寫或調(diào)用,測(cè)試人員根據(jù)測(cè)試任務(wù),在應(yīng)用層選擇測(cè)試用例庫(kù)中對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例;
S2、在測(cè)試用例庫(kù)中,根據(jù)測(cè)試用例對(duì)應(yīng)的測(cè)試目標(biāo)和任務(wù)選定測(cè)試儀表并對(duì)應(yīng)所需的讀、寫動(dòng)作和具體的讀、寫參數(shù);
S3、在集成驅(qū)動(dòng)層中,根據(jù)指定的儀表匹配儀表的驅(qū)動(dòng)類型,傳遞測(cè)試用例庫(kù)的配置參數(shù),并自動(dòng)適配相應(yīng)的測(cè)試儀表底層讀、寫驅(qū)動(dòng);
S4、將適配后的儀表讀、寫指令,通過(guò)時(shí)鐘同步選擇同步方式或者異步方式下發(fā)到測(cè)試儀表執(zhí)行;
S5、測(cè)試儀表將測(cè)試數(shù)據(jù)傳遞至應(yīng)用層。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述集成驅(qū)動(dòng)層具有集成設(shè)備驅(qū)動(dòng)指令集,可以適配標(biāo)準(zhǔn)儀器設(shè)備接口、通用交換機(jī)接口以及需要進(jìn)行接口轉(zhuǎn)換的硬件接口。
本發(fā)明還提供了一種基于云架構(gòu)的自動(dòng)化測(cè)試中間接口平臺(tái),包括可讀存儲(chǔ)介質(zhì),所述可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有執(zhí)行指令,所述執(zhí)行指令被處理器執(zhí)行時(shí)用于實(shí)現(xiàn)如上述中任一項(xiàng)所述的方法。
本發(fā)明的有益效果是:提高了系統(tǒng)的應(yīng)用各類儀表設(shè)備的適應(yīng)能力,提升了物聯(lián)信息產(chǎn)品自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)效率。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明一種基于云架構(gòu)的自動(dòng)化測(cè)試中間接口平臺(tái)的示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖說(shuō)明及具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。
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