[發(fā)明專利]一種微導(dǎo)線連接裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011037539.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112053980A | 公開(公告)日: | 2020-12-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 秦歌;李朋倡;閆亮;張振;明平美;張新民;李蒙;牛屾;陳旭;銀燕毅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 河南理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67;H01L21/60 |
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| 地址: | 454003 河南*** | 國(guó)省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 導(dǎo)線 連接 裝置 | ||
本發(fā)明專利公開了一種微導(dǎo)線連接裝置,屬于電化學(xué)加工技術(shù)領(lǐng)域。該裝置包括電沉積單元、芯片定位單元、溶液循環(huán)單元、Z向移動(dòng)單元、水平移動(dòng)單元。其中,電沉積單元由噴頭、噴頭蓋、環(huán)狀陽(yáng)極和套管組成。裝配后,套管的圓錐部位的內(nèi)表面和與之配合的噴頭的圓錐部位的外表面形成下端開放、上端密封的空腔。泵開始工作時(shí),電解液從電沉積單元的出液口流出、流經(jīng)微導(dǎo)線和芯片表面、從吸液口被吸入電沉積單元下端的空腔,然后從電解液出口孔返回到溶液循環(huán)單元。本發(fā)明可在芯片表面形成可控的電沉積微小區(qū)域,實(shí)現(xiàn)微細(xì)導(dǎo)線與微小芯片在豎直方向的快速定位和連接,定位精確度高,限域性好。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種微導(dǎo)線連接裝置,尤其涉及一種采用電沉積的方式實(shí)現(xiàn)微導(dǎo)線與芯片連接的裝置。
背景技術(shù)
在現(xiàn)有的芯片引線連接技術(shù)中,超聲壓焊(bonding)是常采用的連接方式,但對(duì)于硬度過(guò)高或者熔點(diǎn)過(guò)高的連接材料、以及芯片面積過(guò)小的芯片引線連接,采用超聲壓焊的方式并不能得到很好的連接質(zhì)量和較高的連接效率?;谌廴谠淼暮附臃绞剑ㄈ缂す夂?、電阻焊等)因其熱源問(wèn)題往往會(huì)使芯片上導(dǎo)電薄膜受熱起皺或無(wú)法加熱到要求的連接溫度,而不能得到可靠有效的連接質(zhì)量。因此,對(duì)于特殊情況的芯片引線連接需要一種新型的工藝方法和裝置來(lái)實(shí)現(xiàn)。
電化學(xué)沉積技術(shù)是一種利用電化學(xué)原理使金屬原子在導(dǎo)電基底表面逐漸生長(zhǎng)的加工方式,其特點(diǎn)在于制造過(guò)程是從原子尺度開始,無(wú)需高溫、高壓等條件,易于實(shí)現(xiàn)材料的定點(diǎn)定位填充生長(zhǎng),連接強(qiáng)度高、可靠性好。如公開號(hào)為CN210506578U的專利提出了一種微導(dǎo)線的電鍍連接裝置,該專利利用可升降的連接壓頭將微導(dǎo)線輕壓在芯片的導(dǎo)電薄膜上,在電場(chǎng)作用下,微導(dǎo)線與導(dǎo)電薄膜之間開始沉積金屬層,從而實(shí)現(xiàn)微導(dǎo)線與芯片的電鍍連接。該專利提出的連接裝置可實(shí)現(xiàn)微導(dǎo)線和導(dǎo)電薄膜的平行固定和平行連接,不同于傳統(tǒng)超聲壓焊中芯片和微導(dǎo)線的垂直連接。隨著科技的發(fā)展,會(huì)有更多更小尺寸的芯片面世,如何實(shí)現(xiàn)微導(dǎo)線和芯片之間更小區(qū)域各種方式的連接是連接工藝應(yīng)解決的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)上述問(wèn)題,本發(fā)明的目的是采用電沉積技術(shù)解決微導(dǎo)線和芯片之間精確垂直連接的難題,提出一種微導(dǎo)線連接裝置,實(shí)現(xiàn)微導(dǎo)線在芯片上的垂直連接。該裝置通過(guò)位移傳感器和Z向移動(dòng)單元實(shí)現(xiàn)微導(dǎo)線在芯片上的垂直精確定位,通過(guò)泵的吸力實(shí)現(xiàn)電解液在電沉積區(qū)域小范圍的不斷循環(huán),芯片上電沉積區(qū)域大小通過(guò)設(shè)計(jì)的電沉積單元的特殊結(jié)構(gòu)進(jìn)行控制,最終實(shí)現(xiàn)微導(dǎo)線與芯片的可靠連接。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案是:一種微導(dǎo)線連接裝置,包括電沉積單元、芯片定位單元、溶液循環(huán)單元、Z向移動(dòng)單元、水平移動(dòng)單元。所述的電沉積單元設(shè)置在Z向移動(dòng)單元的定位環(huán)上,Z向移動(dòng)單元設(shè)置在支撐架上,支撐架設(shè)置在底座上;所述的芯片固定在芯片定位單元上,芯片定位單元設(shè)置在儲(chǔ)液槽內(nèi),儲(chǔ)液槽設(shè)置在水平移動(dòng)單元上,水平移動(dòng)單元設(shè)置在底座上。。
所述的電沉積單元包括噴頭、噴頭蓋、環(huán)狀陽(yáng)極和套管。其中,所述的噴頭為上圓柱、下圓錐的中空結(jié)構(gòu),其上圓柱內(nèi)表面的較大空腔為溶液緩沖腔、外表面設(shè)置有外螺紋結(jié)構(gòu),下圓錐體兩側(cè)設(shè)有吸取電解液用的溶液通道槽。所述的噴頭蓋裝配在噴頭的上部,和噴頭上部溶液緩沖腔形成密閉空腔;所述的噴頭蓋上設(shè)置有導(dǎo)線固定管孔、溶液導(dǎo)流孔,所述的導(dǎo)線固定管孔用于插入導(dǎo)線固定管,溶液導(dǎo)流孔用于接入電解液循環(huán)管道。所述的環(huán)狀陽(yáng)極設(shè)置在噴頭上部的溶液緩沖腔內(nèi),并和電沉積電源的正極相連。所述的套管為帶凸緣的上圓柱、下圓錐的中空結(jié)構(gòu),上圓柱內(nèi)表面設(shè)置有內(nèi)螺紋結(jié)構(gòu),可以同軸的和噴頭圓柱外表面的外螺紋裝配配合;所述的凸緣用于將電沉積單元固定在Z向移動(dòng)單元的定位環(huán)上;所述的套管下圓錐的兩側(cè)設(shè)置有電解液出口孔,用于和溶液循環(huán)單元的循環(huán)管道連接。
所述的噴頭圓柱外表面的外螺紋下方設(shè)置有環(huán)狀凹槽,用于安放密封墊圈,以保證噴頭和套管配合的密閉性。
所述的套管和噴頭裝配后,套管圓錐部位的內(nèi)表面和與之配合的噴頭的圓錐部位的外表面形成下端開放、上端密封的具有一定空間的空腔。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





