[發明專利]一種場效應晶體管對管測試裝置和方法

在審

• 申請號: 202011037415.8
• 申請日: 2020-09-27
• 公開（公告）號: CN111929557A
• 公開（公告）日: 2020-11-13
• 發明（設計）人: 周琨荔;屈繼峰;韓琪娜;施楊;徐金陽;楊劍
• 申請（專利權）人: 中國計量科學研究院
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 衡滔

本申請提供一種場效應晶體管對管測試裝置和方法，該裝置包括：場效應晶體管對管選擇電路，與場效應晶體管對管連接；檢測電路，與場效應晶體管對管選擇電路連接；控制器，分別與場效應晶體管對管選擇電路和檢測電路連接，用于控制場效應晶體管對管選擇電路與場效應晶體管對管其中一個場效應晶體管導通，還用于控制檢測電路對導通的場效應晶體管進行檢測。采用本申請提供的測試裝置進行場效應晶體管對管參數測試，使得場效應晶體管對管中兩個場效應晶體管的測試條件相同，避免了因測試條件不同引起的偏差，提高了測試的準確性。同時，用戶只需要預先設置好測試條件，便可以全自動地對場效應晶體管對管進行參數測試，有效提高了測試速度。

技術領域

本申請涉及電子元器件測試領域，具體而言，涉及一種場效應晶體管對管測試裝置和方法。

背景技術

在進行微弱差分電壓信號的放大設計時，需要選用兩個特性一致的結型場效應晶體管作為差分放大器的輸入端器件，用以有效減小非線性失真、提高共模抑制比。

在場效應晶體管對管的量產過程中，生產廠家通常可以將它們的匹配偏差降低到10％以下。然而，對于更高的放大器設計要求，需要兩個結型場效應晶體管具有更高的匹配度。在這種情況下，需要對大批量結型場效應晶體管對管進行參數測試，篩選出匹配度更高的器件。結型場效應晶體管對管參數測試過程中需要測試數十個工作點，現有的測試裝置自動化程度較差，進而導致結型場效應晶體管對管的參數測試過程極其耗時。

發明內容

本申請實施例的目的在于提供一種場效應晶體管對管測試裝置和方法，用以解決結型場效應晶體管對管的參數測試耗時長的問題。

第一方面，本發明實施例提供一種場效應晶體管對管測試裝置，包括：場效應晶體管對管選擇電路，與場效應晶體管對管連接；檢測電路，與所述場效應晶體管對管選擇電路連接；控制器，分別與所述場效應晶體管對管選擇電路和所述檢測電路連接，用于控制所述場效應晶體管對管選擇電路與所述場效應晶體管對管其中一個場效應晶體管導通，還用于控制所述檢測電路對導通的所述場效應晶體管進行檢測。

在可選的實施方式中，所述場效應晶體管對管選擇電路包括：第一繼電器、第二繼電器和繼電器驅動器；所述繼電器驅動器一端與所述控制器連接，另一端分別與所述第一繼電器和所述第二繼電器連接；所述第一繼電器分別與所述場效應晶體管對管的兩個場效應晶體管的漏極連接；所述第二繼電器分別與所述場效應晶體管對管的兩個場效應晶體管的柵極連接。

在可選的實施方式中，所述檢測電路包括：采樣電阻、儀表放大器、模數轉換器、數模轉換器和程控電源模塊；所述采樣電阻一端經所述第一繼電器與所述場效應晶體管對管的兩個場效應晶體管的漏極連接，另一端與所述程控電源模塊連接；所述程控電源模塊一端與所述采樣電阻連接，另一端與所述控制器連接；所述儀表放大器的輸入端連接在所述采樣電阻兩端，用于檢測所述采樣電阻兩端的電壓；所述儀表放大器的輸出端經所述模數轉換器與所述控制器連接；所述數模轉換器連接在所述控制器與所述第二繼電器之間。

在可選的實施方式中，所述裝置還包括：上位機，所述上位機與所述控制器連接。

在可選的實施方式中，所述場效應晶體管對管包括兩個結型場效應晶體管，兩個所述結型場效應晶體管均為N溝道結型場效應晶體管或P溝道結型場效應晶體管。

通過采用本申請提供的場效應晶體管對管測試裝置進行場效應晶體管對管參數測試，使得場效應晶體管對管中兩個場效應晶體管的測試條件相同，避免了因為測試條件不同而引起的偏差，提高了測試的準確性。同時，用戶只需要預先設置好測試條件，便可以全自動地對場效應晶體管對管進行參數測試，有效提高了測試速度。