[發(fā)明專利]一種多合一光源的分光光度檢測(cè)系統(tǒng)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011035407.X
• 申請(qǐng)日: 2020-09-27
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112014343A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-12-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 夏明亮;袁邵隆;張峰;高響
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州卡睿知光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/31
• 分類號(hào): G01N21/31;G01N21/01;G01N1/38
• 代理公司: 北京三聚陽(yáng)光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250
• 代理人: 劉靜

1.一種多合一光源的分光光度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括：多合一光源模塊、導(dǎo)光模組模塊、樣品盤模塊、光電探測(cè)模塊；

多合一光源模塊，用于根據(jù)不同的待檢測(cè)樣品，輸出對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)和強(qiáng)度的檢測(cè)光；

導(dǎo)光模組模塊，用于對(duì)檢測(cè)光進(jìn)行均勻化處理，輸出均勻的檢測(cè)光；

樣品盤模塊，用于承載待檢測(cè)樣品，通過(guò)樣品盤模塊的檢測(cè)孔將均勻的檢測(cè)光照射至待檢測(cè)樣品；

光電探測(cè)模塊，用于接收通過(guò)檢測(cè)孔的待檢測(cè)樣品的檢測(cè)光，對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行分光光度的檢測(cè)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多合一光源的分光光度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，多合一光源模塊包括：LED光源、第一控制模塊；

LED光源，用于發(fā)射不同波長(zhǎng)、不同強(qiáng)度的光源；

第一控制模塊，用于根據(jù)待檢測(cè)樣品所需光源的波長(zhǎng)和強(qiáng)度，對(duì)所述LED光源輸出的光進(jìn)行觸發(fā)，得到對(duì)應(yīng)待檢測(cè)樣品的檢測(cè)光。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的多合一光源的分光光度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，導(dǎo)光模組模塊包括：固定裝置、勻光模組、導(dǎo)光光纖；

固定裝置，用于將多合一光源模塊與勻光模組固定連接；

勻光模組，用于對(duì)檢測(cè)光進(jìn)行均勻化處理；

導(dǎo)光光纖，用于輸出均勻化處理后的檢測(cè)光至待檢測(cè)樣品。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的多合一光源的分光光度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，導(dǎo)光光纖的直徑不小于檢測(cè)光的直徑。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多合一光源的分光光度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，樣品盤模塊包括：樣品托盤、旋轉(zhuǎn)電機(jī)及第二控制模塊；

樣品托盤，用于放置盛放待檢測(cè)樣品的比色皿，樣品托盤上設(shè)置多個(gè)檢測(cè)位，每個(gè)檢測(cè)位對(duì)應(yīng)放置一個(gè)比色皿；

第二控制模塊，用于發(fā)送控制指令，控制旋轉(zhuǎn)電機(jī)；

旋轉(zhuǎn)電機(jī)，用于旋轉(zhuǎn)樣品托盤，使均勻化處理后的檢查光通過(guò)比色皿照進(jìn)樣品盤模塊的檢測(cè)孔中。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的多合一光源的分光光度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，光電探測(cè)模塊包括：光電探測(cè)電路板、光電探測(cè)傳感器；其中，光電探測(cè)傳感器焊接在光電探測(cè)電路板上，光電探測(cè)傳感器的探測(cè)面、樣品盤模塊的檢測(cè)孔、導(dǎo)光光纖的輸出端在同一水平線上。