[發明專利]一種多合一光源的分光光度檢測系統

在審

• 申請號: 202011035407.X
• 申請日: 2020-09-27
• 公開（公告）號: CN112014343A
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發明（設計）人: 夏明亮;袁邵隆;張峰;高響
• 申請（專利權）人: 蘇州卡睿知光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01N21/01;G01N1/38
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 劉靜

1.一種多合一光源的分光光度檢測系統，其特征在于，包括：多合一光源模塊、導光模組模塊、樣品盤模塊、光電探測模塊；

多合一光源模塊，用于根據不同的待檢測樣品，輸出對應波長和強度的檢測光；

導光模組模塊，用于對檢測光進行均勻化處理，輸出均勻的檢測光；

樣品盤模塊，用于承載待檢測樣品，通過樣品盤模塊的檢測孔將均勻的檢測光照射至待檢測樣品；

光電探測模塊，用于接收通過檢測孔的待檢測樣品的檢測光，對待測樣品進行分光光度的檢測。

2.根據權利要求1所述的多合一光源的分光光度檢測系統，其特征在于，多合一光源模塊包括：LED光源、第一控制模塊；

LED光源，用于發射不同波長、不同強度的光源；

第一控制模塊，用于根據待檢測樣品所需光源的波長和強度，對所述LED光源輸出的光進行觸發，得到對應待檢測樣品的檢測光。

3.根據權利要求1或2所述的多合一光源的分光光度檢測系統，其特征在于，導光模組模塊包括：固定裝置、勻光模組、導光光纖；

固定裝置，用于將多合一光源模塊與勻光模組固定連接；

勻光模組，用于對檢測光進行均勻化處理；

導光光纖，用于輸出均勻化處理后的檢測光至待檢測樣品。

4.根據權利要求3所述的多合一光源的分光光度檢測系統，其特征在于，導光光纖的直徑不小于檢測光的直徑。

5.根據權利要求1所述的多合一光源的分光光度檢測系統，其特征在于，樣品盤模塊包括：樣品托盤、旋轉電機及第二控制模塊；

樣品托盤，用于放置盛放待檢測樣品的比色皿，樣品托盤上設置多個檢測位，每個檢測位對應放置一個比色皿；

第二控制模塊，用于發送控制指令，控制旋轉電機；

旋轉電機，用于旋轉樣品托盤，使均勻化處理后的檢查光通過比色皿照進樣品盤模塊的檢測孔中。

6.根據權利要求3所述的多合一光源的分光光度檢測系統，其特征在于，光電探測模塊包括：光電探測電路板、光電探測傳感器；其中，光電探測傳感器焊接在光電探測電路板上，光電探測傳感器的探測面、樣品盤模塊的檢測孔、導光光纖的輸出端在同一水平線上。