[發明專利]一種基于LA-ICP-MS的寶石級鋯石的產地鑒定方法在審
| 申請號： | 202011033526.1 | 申請日： | 2020-09-27 |
| 公開（公告）號： | CN112162029A | 公開（公告）日： | 2021-01-01 |
| 發明（設計）人： | 黃博崚;王璇;朱勇;楊婷婷;沈佳妮;李嵐森;馬清正;李描;楊茜涵 | 申請（專利權）人： | 重慶市計量質量檢測研究院 |
| 主分類號： | G01N27/64 | 分類號： | G01N27/64 |
| 代理公司： | 重慶強大凱創專利代理事務所(普通合伙) 50217 | 代理人： | 康奇剛 |
| 地址： | 401121*** | 國省代碼： | 重慶;50 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 la icp ms 寶石 級鋯石 產地 鑒定 方法 | ||
1.一種基于LA-ICP-MS的寶石級鋯石的產地鑒定方法，其特征在于：包括以下步驟：
步驟1：建立寶石級鋯石的產地鑒定模型；準備待鑒定的樣品，選擇美國地質調查局研制的標準樣品BIR-1G和BHVO-2G作為外標；
步驟2：采用LA-ICP-MS技術，將步驟1的待鑒定樣品和標準樣品放入激光剝蝕系統樣品倉中進行激光剝蝕，將采集的微量元素數據進行分析，并與步驟1的產地鑒定模型進行對比，得到鑒定結果。
2.根據權利要求1所述的一種基于LA-ICP-MS的寶石級鋯石的產地鑒定方法，其特征在于：所述步驟1中，寶石級鋯石的產地模型的具體建立方式為，準備不同產地的寶石級鋯石，以美國地質調查局研制的標準樣品BIR-1G和BHVO-2G作為外標，采用LA-ICP-MS技術分別對不同產地的寶石級鋯石中微量元素進行測量，形成不同寶石級鋯石產地的鑒定模型。
3.根據權利要求2所述的一種基于LA-ICP-MS的寶石級鋯石的產地鑒定方法，其特征在于：所述步驟1中鑒定模型以各稀土元素含量為橫坐標，以各稀土元素與球粒隕石含量的比值為縱坐標，繪制標準曲線。
4.根據權利要求2所述的一種基于LA-ICP-MS的寶石級鋯石的產地鑒定方法，其特征在于：所述步驟1中鑒定模型為微量元素Ti的含量與溫度的關系函數，該關系函數為：
5.根據權利要求1所述的一種基于LA-ICP-MS的寶石級鋯石的產地鑒定方法，其特征在于：所述步驟2中激光剝蝕采用YAG固體激光器，激光波長為213nm，能量密度為10J/cm2，束斑直徑為50μm，頻率為10Hz，剝蝕方式為點剝蝕。
6.根據權利要求1所述的一種基于LA-ICP-MS的寶石級鋯石的產地鑒定方法，其特征在于：所述步驟2中ICP-MS為Thermo的iCAP RQ。
7.根據權利要求1所述的一種基于LA-ICP-MS的寶石級鋯石的產地鑒定方法，其特征在于：所述步驟2中測定的微量元素包括La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb和Lu。
8.根據權利要求1所述的一種基于LA-ICP-MS的寶石級鋯石的產地鑒定方法，其特征在于：所述步驟2中，在進行檢測前，使用儀器推薦的固體標準樣品對儀器進行校正。
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