[發明專利]一種材料質量分析方法、裝置及計算機設備

在審

• 申請號: 202011029511.8
• 申請日: 2020-09-27
• 公開（公告）號: CN112132473A
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發明（設計）人: 張惠元;張宇
• 申請（專利權）人: 蘇州宇希新材料科技有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06K9/62
• 代理公司: 蘇州瞪羚知識產權代理事務所(普通合伙) 32438
• 代理人: 張宇

1.一種材料質量分析方法，其特征在于，包括：

獲取材料檢測報表，并獲取所述材料檢測報表對應的檢測結果特征分布，并對所述檢測結果特征分布進行材料屬性特征提取，得到屬性特征集；所述屬性特征集包含至少一個分布軌跡存在交疊的檢測結果特征分布；

若所述屬性特征集滿足預設屬性分布條件，則根據所述屬性特征集所包含的所述檢測結果特征分布確定對應的材料質量分析線程；

若檢測到待分析材料的待分析結果特征分布與所述材料質量分析線程相匹配，則發起與所述待分析材料相關聯的材料質量分析指令；

若接收到與所述材料質量分析指令對應的確認信息，則將所述確認信息中的授權簽名與所述材料質量分析線程進行標記，并基于所述材料質量分析線程對所述待分析材料進行質量分析得到當前分析結果。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

獲取所述屬性特征集所包含的所述檢測結果特征分布的分布描述信息，并根據所述屬性特征集所包含的所述檢測結果特征分布的分布描述信息，以及所述屬性特征集所包含的所述檢測結果特征分布，計算所述屬性特征集對應的特征關聯度；

若所述屬性特征集所包含的所述檢測結果特征分布的分布描述信息的描述值大于設定閾值，且所述特征關聯度小于設定關聯度，則確定所述屬性特征集滿足預設屬性分布條件。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取材料檢測報表，并獲取所述材料檢測報表對應的檢測結果特征分布，并對所述檢測結果特征分布進行材料屬性特征提取，得到屬性特征集，包括：

獲取所有材料檢測報表，并根據所述所有材料檢測報表確定報表結構傳遞參數和參數傳遞路徑；

根據所述報表結構傳遞參數和所述參數傳遞路徑將所述所有材料檢測報表投影至向量空間，生成每個材料檢測報表分別對應的檢測結果特征分布，并對所述檢測結果特征分布進行降維；

根據目標材料屬性特征提取模型參數對降維后的檢測結果特征分布進行材料屬性特征提取，得到所述屬性特征集。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述屬性特征集所包含的所述檢測結果特征分布確定對應的材料質量分析線程，具體包括：對所述屬性特征集所包含的所述檢測結果特征分布進行均值計算或插值計算，得到目標檢測結果特征分布，并將所述目標檢測結果特征分布作為所述屬性特征集對應的材料質量分析線程的模型參數。

5.一種計算機設備，其特征在于，包括：存儲器、處理器和網絡模塊；其中，所述存儲器、所述處理器和所述網絡模塊之間直接或間接地電性連接；所述處理器通過從所述存儲器中讀取計算機程序并運行以實現權利要求1-4任一項所述的方法。

6.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述可讀存儲介質包括計算機程序；所述計算機程序運行時控制所述可讀存儲介質所在計算機設備執行權利要求1-4任一項所述的方法。