[發明專利]用于電路板阻抗測試的可調式探針裝置

在審

• 申請號: 202011028953.0
• 申請日: 2020-09-25
• 公開（公告）號: CN112611916A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 鄭仰宏;羅雅鴻;陳建勛;周嘉南;黃崇燕;蔡守仁;湯富俊
• 申請（專利權）人: 旺矽科技股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R1/073
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 陳曉慶

本發明涉及一種可調式探針裝置，包含有一固定探針及一活動探針，且至少其中之一為具有同軸結構的訊號探針，活動探針能線性滑移地以其接地單元抵接于固定探針的接地單元。本發明揭示另一種可調式探針裝置，包含有一用于接地的第一活動探針以及具有同軸結構的一固定探針及一第二活動探針，且能選擇性地以二活動探針其中的任一作為一作用探針，使得作用探針與固定探針的點觸端位于同一平面以同時點觸待測物的二導電接點，且作用探針能線性滑移地以其接地單元抵接于固定探針的接地單元。由此，本發明的探針間距可調整，因此可降低電路板阻抗測試設備的成本。

技術領域

本發明與電路板阻抗測試設備有關，特別是指一種用于電路板阻抗測試的可調式探針裝置。

背景技術

習知用于印刷電路板(printed circuit board；簡稱PCB)的阻抗測試設備主要包含有一測試機以及一探針裝置，探針裝置主要包含有多個用于點觸印刷電路板的導電接點的探針，對于高頻阻抗測試，各探針采用包含有一針芯及一與針芯絕緣地圍繞針芯的接地導體的同軸針，并通過同軸訊號線與測試機電性連接，各探針為兩兩一組地以固定間距的方式設置，使得同一組的二探針的針尖非常鄰近且其接地導體相互導通。

然而，印刷電路板阻抗測試所需的探針間距及角度有很多的變化，因此需要多個不同的探針裝置來因應多樣化的測試需求，即，當印刷電路板阻抗測試所需的探針間距及角度不同時，則需更換不同的探針裝置，如此的測試設備的成本較高，因此有待改進。

發明內容

針對上述問題，本發明的主要目的在于提供一種用于電路板阻抗測試的可調式探針裝置，其探針間距可調整，因此可降低電路板阻抗測試設備的成本。

為達到上述目的，本發明所提供的一種用于電路板阻抗測試的可調式探針裝置，其特征在于包含有：一固定探針及一活動探針，所述固定探針及所述活動探針分別包含有一用于電性連接至接地電位的接地單元，所述固定探針及所述活動探針至少其中之一還包含有一與其接地單元相對固定并相互絕緣且用于傳輸測試訊號的針芯，所述活動探針能沿一第一軸向相對于所述固定探針線性滑移地以其接地單元抵接于所述固定探針的接地單元。

上述本發明的技術方案中，所述活動探針能沿一垂直于所述第一軸向的第二軸向相對于所述固定探針移動。

所述固定探針包含有一導電架以及一針體，所述導電架包含有一架體，所述針體包含有所述針芯、一包圍所述針芯的絕緣層，以及一包圍所述絕緣層的導電層，所述針體以所述導電層電性導通地固定于所述架體，所述固定探針的接地單元包含有所述導電架以及所述針體的導電層，所述活動探針能沿所述第一軸向相對于所述固定探針線性滑移地以其接地單元抵接于所述導電架。

所述導電架還包含有一電性導通地固定于所述架體的替換導體，所述活動探針能沿所述第一軸向相對于所述固定探針線性滑移地以其接地單元抵接于所述導電架的替換導體。

所述導電架的替換導體呈柱狀，其縱向平行于所述第一軸向。

所述活動探針包含有一針體以及一電性導通地固定于所述針體的替換導體，所述活動探針能沿所述第一軸向相對于所述固定探針線性滑移地以其替換導體抵接于所述固定探針的替換導體，其中所述導電架的替換導體呈柱狀，其縱向平行于所述第一軸向，所述活動探針的替換導體呈柱狀，其縱向非平行于所述第一軸向。

所述導電架包含有分別位于所述固定探針的針體二側的二所述替換導體。

所述活動探針包含有一針體以及一電性導通地固定于所述針體的替換導體，所述活動探針能沿所述第一軸向相對于所述固定探針線性滑移地以其替換導體抵接于所述固定探針的接地單元。