[發明專利]衛星單點漏率測試用正壓標準漏孔標定裝置及方法

在審

• 申請號: 202011028629.9
• 申請日: 2020-09-24
• 公開（公告）號: CN112051009A
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發明（設計）人: 劉勝;師立俠;王凱;丁冉;劉興悅;周雪茜;孟冬輝;孫立臣;李斌;賈瑞金
• 申請（專利權）人: 北京衛星環境工程研究所
• 主分類號: G01M3/20
• 分類號: G01M3/20
• 代理公司: 北京志霖恒遠知識產權代理事務所(普通合伙) 11435
• 代理人: 成丹

1.一種衛星單點漏率測試用正壓標準漏孔標定裝置，其特征在于，包括氦質譜檢漏儀、收集容器、標準氣罐、數據采集裝置和放樣裝置，所述收集容器用于連接正壓標準漏孔，所述氦質譜檢漏儀通過第一管路與所述收集容器連接，通過第二管路與所述標準氣罐連接；所述數據采集裝置通過數據線與所述氦質譜檢漏儀電連接；所述放樣裝置包括氦氣球和注射器，所述注射器用于將所述氦氣球內的氦氣注射至所述收集容器內。

2.根據權利要求1所述的衛星單點漏率測試用正壓標準漏孔標定裝置，其特征在于，所述收集容器包括相互配合的第一部分和第二部分，所述第一部分與所述第二部分的配合處設有密封圈和鎖緊螺母。

3.一種衛星單點漏率測試用正壓標準漏孔標定方法，其特征在于，通過權利要求1所述的衛星單點漏率測試用正壓標準漏孔標定裝置來實現，包括：

利用氦質譜檢漏儀測試標準氣罐的第一濃度值B₁、正壓標準漏孔漏在收集容器內的第一氦濃度值A₁和第一測試時間t₁；

間隔一定時間后利用氦質譜檢漏儀繼續測試標準氣罐的第二氦濃度值B₂、正壓標準漏孔漏在收集容器內的第二氦濃度值A₂和第二測試時間t₂；

將從準備好的氦氣球內吸取的氦氣通過第一管路注射到收集容器內，利用氦質譜檢漏儀測試標準氣罐的第三氦濃度值B₃、密閉容器內第三氦濃度值A₃和第三測試時間t₃；

利用以下公式計算正壓標準漏孔的漏率Q：

4.根據權利要求3所述的衛星單點漏率測試用正壓標準漏孔常壓標定方法，其特征在于，將從準備好的氦氣球內吸取的氦氣通過第一管路注射到收集容器內包括：

利用注射器從氦氣球內吸取一定體積的氦氣并排出；

將從氦氣球內吸取的氦氣注射至第一管路內；

開啟氦質譜檢漏儀的循環泵以將注射至第一管路內的氦氣循環到收集容器內，開啟收集容器內的循環風機以使收集容器內部氣體均勻。

5.根據權利要求4所述的衛星單點漏率測試用正壓標準漏孔常壓標定方法，其特征在于，將利用所述注射器從所述氦氣球內吸取一定體積的氦氣并排出的步驟反復執行至少三次。

6.根據權利要求4所述的衛星單點漏率測試用正壓標準漏孔常壓標定方法，其特征在于，所述收集容器內的所述循環風機開啟時長大于十分鐘。