[發明專利]校準系統、校準方法及校準裝置有效
| 申請號: | 202011027687.X | 申請日: | 2020-09-25 |
| 公開(公告)號: | CN112247741B | 公開(公告)日: | 2022-04-08 |
| 發明(設計)人: | 楊元坤;張漢杰;鐘春明;黎海軍 | 申請(專利權)人: | 深圳市裕展精密科技有限公司 |
| 主分類號: | B24B19/00 | 分類號: | B24B19/00;B24B41/00;B24B47/22;B24B49/16;B24B51/00 |
| 代理公司: | 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334 | 代理人: | 林天成 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市觀瀾富士康鴻觀科技園B區廠*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 校準 系統 方法 裝置 | ||
本申請提供一種校準系統,用于確定打磨頭的基準信息以通過打磨頭打磨工件,該基準信息包含第一位置,校準系統包含打磨頭、控制器和傳感模組,控制器和打磨頭耦接,控制器用于控制打磨頭沿第一方向運動;傳感模組用于基于打磨頭沿第一方向運動,感測打磨頭及工件中的至少一個所受的力,以形成第一壓力值;控制器進一步用于確定第一壓力值超過預設值,并基于第一壓力值超過預設值確定第一位置。上述校準系統基于受力信息確定打磨頭的基準信息,結構簡單,便于實現且校準精度高,本申請同時提供一種校準方法和校準裝置。
技術領域
本申請涉及打磨技術領域,尤其涉及一種校準系統、校準方法及校準裝置。
背景技術
隨著技術的進步,用戶對于產品品質的需求也越來越高,因此使得產品的打磨工藝中的打磨精度要求也越來越高,而打磨頭的校準是影響打磨工藝的重要環節。
打磨頭的校準主要包含打磨起始點校準及工具面姿態校準。打磨起始點校準及工具面姿態校準決定打磨頭的打磨精確度。
傳統的打磨頭的大多人工手動完成,例如,由人工使用硅鋼片量測打磨面與產品之間的間隙來作為打磨頭位置的確定標準。另一個例子是,當打磨頭的打磨面為弧面或曲面時,用這種硅鋼片量測只能量測弧面或曲面的其中一個點或線,一旦發生打磨頭發生了偏轉,這種校準結果就變得不可靠,容易導致最終的成品有打磨失誤,導致整批產品的打磨良率下降。
傳統的校準方法存在以下問題:由人工手動完成校準,由于經驗及個人習慣差異,導致校準誤差無法控制,并且人工校準時間較長,校準效率較低。
發明內容
鑒于上述狀況,有必要提供一種校準系統、校準方法及校準裝置,以解決上述問題。
本申請第一方面提供一種校準系統,用于確定打磨頭的基準信息以通過該打磨頭打磨工件,該基準信息包含第一位置,該校準系統包含:
該打磨頭;控制器,耦接該打磨頭且用于控制該打磨頭沿第一方向運動;傳感模組,用于基于該打磨頭沿第一方向運動,感測該打磨頭及該工件的至少一個所受的力,以形成第一壓力值;該控制器,進一步用于:確定該第一壓力值超過預設值;基于該第一壓力值超過預設值,確定該第一位置。
進一步地,其中該基準信息包含第二位置、第一姿態及第二姿態,該第一方向與第二方向垂直,該控制器,進一步用于控制該打磨頭沿該第二方向運動;該傳感模組,進一步用于基于該打磨頭沿第二方向運動,感測該打磨頭及該工件的至少一個所受的力,以形成第二壓力值;該控制器,進一步用于:確定該第二壓力值超過預設值;基于該第二壓力值超過預設值,以確定該第二位置、該第一姿態及該第二姿態的至少一個。
進一步地,其中該基準信息包含第三姿態,該控制器,進一步用于:調整該打磨頭的位置,以使該打磨頭的中軸線在該第一方向上;控制該打磨頭沿該第二方向運動;該傳感模組,進一步用于基于該打磨頭沿該第二方向運動,感測該打磨頭及該工件的至少一個所受的力,以形成第三壓力值;該控制器,進一步用于:確定該第三壓力值超過預設值;基于該第三壓力值超過預設值,以確定該第三姿態。
進一步地,其中該傳感模組,進一步用于:基于該打磨頭沿第一方向運動,感測施加在該打磨頭上的沿該第一方向上的力,以形成該第一壓力值。
進一步地,其中該傳感模組,進一步用于:基于該打磨頭沿第一方向運動,感測該打磨頭施加在該工件上的沿該第一方向上的力,以形成該第一壓力值。
進一步地,其中該傳感模組,進一步用于:基于該打磨頭沿第一方向運動,感測該工件的沿該第一方向上受到的力,以形成該第一壓力值。
進一步地,該控制器,進一步用于:調整該打磨頭為第一姿態;控制該打磨頭沿第一方向運動;該傳感模組,進一步用于:基于該打磨頭以第一姿態沿第一方向運動,感測該打磨頭及該工件的至少一個所受的力,形成該第一壓力值。
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