[發明專利]一種開關回路電阻測試平臺

有效

• 申請號: 202011025707.X
• 申請日: 2020-09-25
• 公開（公告）號: CN112180249B
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 馬志學;朱銳鋒;黃曉波;巫小彬;李沖;蔡建峰;馬杰聰;史良
• 申請（專利權）人: 廣東電網有限責任公司;廣東電網有限責任公司惠州供電局
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01R31/16;G01R31/12;G01R27/02;G01R1/04
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

本發明屬于高壓開關柜測試技術領域，具體涉及一種開關回路電阻測試平臺，包括平臺支座、垂直固定于平臺支座的固定桿、一級伸縮桿、二級伸縮桿、下支架、上支架、第一測試件和第二測試件；一級伸縮桿活動連接于固定桿，二級伸縮桿活動連接于一級伸縮桿；下支架垂直固定于一級伸縮桿外周，上支架垂直固定于二級伸縮桿外周；第一測試件和第二測試件分別固定于下支架和上支架的前端，第一測試件和第二測試件的前端均設有圓弧面用于插接于梅花觸頭內，其后端均設有兩個接線端子；本發明提供的開關回路電阻測試平臺，避免試驗線夾對梅花觸頭的彈簧造成損壞，適用不同高度及不同尺寸的梅花觸頭，使用方便、可靠，測試效率高。

技術領域

本發明涉及高壓開關柜測試技術領域，尤其涉及一種開關回路電阻測試平臺。

背景技術

根據國家行業標準及中國南方電網檢修規程要求，高壓開關柜的開關需要進行定期高壓試驗，其中回路電阻(也稱接觸電阻)是其中一項試驗項目。目前回路電阻多是采用直流壓降法測量，即：在回路中通過不小于100A的直流電流，通過測量高壓開關柜的被測開關的上下觸頭的電壓差，計算得到高壓開關柜被測開關的回路電阻。

在對高壓開關柜的開關進行高壓試驗時，需要通過試驗線夾將測試電線連接在被測開關的梅花觸頭(動觸頭)上。在進行回路電阻試驗時，由于通過電流不低于100A，如果將試驗線夾直接夾在了梅花觸頭的彈簧上，測試過程中會有電流通過梅花觸頭的彈簧，嚴重情況會導致彈簧燒蝕，進而影響到梅花觸頭的夾緊力度，導致被測開關在正常運行時出現梅花觸頭發熱等異常情況；而且，在進行回路電阻測量時，試驗線夾與梅花觸頭之間的接觸電阻也很難避免，導致試驗數據偏大，不能真實反映被測開關的回路電阻。

此外，在回路電阻測試中，每個被測開關電阻的測試均需要4個試驗線夾配合完成；當測試多個開關時，需要反復裝夾并取下試驗線夾，工作量巨大，造成操作人員作業疲勞。

發明內容

本發明的目的在于提供一種開關回路電阻測試平臺，避免試驗線夾對開關梅花觸頭的彈簧造成損壞；該平臺可適用不同高度的高壓柜開關，且可適應不同尺寸的梅花觸頭，測量精度高，使用方便、可靠，測試效率高。

為達此目的，本發明采用以下技術方案：

提供一種開關回路電阻測試平臺，包括：

平臺支座；

固定桿，垂直固定于所述平臺支座；

一級伸縮桿，活動連接于所述固定桿上；

二級伸縮桿，活動連接于所述一級伸縮桿上；

下支架，垂直連接所述一級伸縮桿，并固定于所述一級伸縮桿的外周；

上支架，垂直連接所述二級伸縮桿，并固定于所述二級伸縮桿的外周；所述上支架平行于所述下支架；

第一測試件，固定于所述下支架的前端，所述第一測試件的前端具有圓弧面；所述第一測試件的后端設置有兩個第一接線端子；以及

第二測試件，固定于所述上支架的前端，所述第二測試件的前端也具有圓弧面；所述第二測試件的后端設置有兩個第二接線端子；所述第一測試件與所述第二測試件的所述圓弧面均被配置為能夠插接于梅花觸頭內。

作為本發明的一種優選結構，所述第一測試件的前端和所述第二測試件的前端在同一豎直面內。

作為本發明的一種優選結構，還包括安裝座，所述安裝座設置于所述平臺支座的上表面，用于安裝測試表。

作為本發明的一種優選結構，所述測試表設置有四條測試電線，分別包括兩條電流測試線和兩條電壓測試線，其中一條所述電流測試線和一條所述電壓測試線分別連接兩個所述第一接線端子，另外一條所述電流測試線和另外一條所述電壓測試線分別連接兩個所述第二接線端子。