[發(fā)明專利]平板探測(cè)器的低對(duì)比度分辨率的識(shí)別方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011024785.8
• 申請(qǐng)日: 2020-09-25
• 公開（公告）號(hào): CN112102355A
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 梅建輝;王嘉軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 江蘇瑞爾醫(yī)療科技有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/194
• 分類號(hào): G06T7/194;G06T7/70;G06T7/136;G06T5/00
• 代理公司: 無錫永樂唯勤專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32369
• 代理人: 孫際德

1.一種平板探測(cè)器的低對(duì)比度分辨率的識(shí)別方法，在電子設(shè)備中執(zhí)行，所述自動(dòng)識(shí)別方法包括：

獲取平板探測(cè)器生成的含有測(cè)試卡的圖像的原始灰度圖像，其中：所述測(cè)試卡為圓形鋁板，所述測(cè)試卡的表面設(shè)置有由若干圓形沉孔構(gòu)成的內(nèi)圈和由若干圓形沉孔構(gòu)成的外圈，所述內(nèi)圈和所述外圈與所述測(cè)試卡同心，各所述圓形沉孔的直徑相同，各所述圓形沉孔的深度相異，所述測(cè)試卡上還設(shè)置有一貫穿所述測(cè)試卡的圓形通孔，所述圓形通孔的直徑與所述圓形沉孔的直徑相異，所述圓形通孔的圓心與所述測(cè)試卡的圓心錯(cuò)開；

從所述原始灰度圖像中提取出去除背景后的測(cè)試卡圖像；

獲取測(cè)試卡的圓心位置；

從所述測(cè)試卡圖像中識(shí)別所述圓形通孔并獲取圓形通孔的圓心位置；

基于測(cè)試卡的圓心位置、所述圓形通孔的圓心位置計(jì)算出所述內(nèi)圈、所述外圈上的各所述圓形沉孔的圓心位置；

基于各所述圓形沉孔的圓心位置和所述圓形沉孔的直徑，從測(cè)試卡圖像中定位出各圓形沉孔；

基于測(cè)試卡的圓心位置和各圓形沉孔的位置，計(jì)算出所述原始灰度圖像中測(cè)試卡圓心所在區(qū)域的平均灰度值和各所述圓形沉孔所在區(qū)域的平均灰度值；

基于測(cè)試卡的圓心所在區(qū)域的平均灰度值和各圓形沉孔所在區(qū)域的平均灰度值，計(jì)算出各圓形沉孔所在區(qū)域相對(duì)測(cè)試卡圓心所述區(qū)域的低對(duì)比度值。

2.如權(quán)利要求1所述的識(shí)別方法，其特征在于，所述從所述原始灰度圖像中提取出去除背景后的測(cè)試卡圖像包括：

對(duì)獲取到的所述原始灰度圖像進(jìn)行取反處理；

采用最大類間方差法計(jì)算出取反后的所述原始灰度圖像的分割灰度閾值；

基于所述分割灰度閾值對(duì)取反后的所述原始灰度圖像進(jìn)行二值化處理以獲得二值灰度圖像；

采用連通域搜索法從所述二值灰度圖像中提取出所述測(cè)試卡的二值灰度圖像。

3.如權(quán)利要求2所述的識(shí)別方法，其特征在于，所述從所述測(cè)試卡圖像中識(shí)別所述圓形通孔包括：

對(duì)提取出的所述測(cè)試卡的二值灰度圖像進(jìn)行取反處理；

采用連通域搜索法從取反后的所述測(cè)試卡的二值灰度圖像中識(shí)別出所述圓形通孔。

4.如權(quán)利要求1所述的識(shí)別方法，其特征在于，所述基于測(cè)試卡的圓心位置、所述圓形通孔的圓心位置計(jì)算出所述內(nèi)圈、所述外圈上的各所述圓形沉孔的圓心位置包括：

根據(jù)所述測(cè)試卡的圓心、所述圓形通孔的圓心的幾何位置關(guān)系，及所述內(nèi)圈和所述外圈上的各所述圓形沉孔的分布規(guī)律，計(jì)算出所述圓形通孔的圓心與各所述圓形沉孔的圓心的圓心角；

基于所述圓心角和各所述圓形沉孔的分布規(guī)律，獲取到各所述圓形沉孔的圓心。

5.如權(quán)利要求1所述的識(shí)別方法，其特征在于，所述測(cè)試卡1為厚度20mm的圓形鋁板，所述內(nèi)圈由9個(gè)等距排布的所述圓形沉孔構(gòu)成，所述外圈由10個(gè)等距排布的所述圓形沉孔構(gòu)成。

6.如權(quán)利要求5所述的識(shí)別方法，其特征在于，位于所述內(nèi)圈上的9個(gè)所述圓形沉孔的孔深按順時(shí)針方向依次遞減，位于所述外圈上的10個(gè)所述圓形沉孔的孔深按順時(shí)針方向依次遞減，位于所述內(nèi)圈上的所述圓形沉孔的最大孔深小于位于所述外圈上的所述圓形沉孔的最小孔深。

7.如權(quán)利要求1所述的識(shí)別方法，其特征在于：

所述圓形通孔位于所述內(nèi)圈內(nèi)，各所述圓形沉孔的直徑為1cm，所述圓形通孔的直徑為2mm。

8.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器內(nèi)并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的識(shí)別方法。

9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的識(shí)別方法。

10.一種平板探測(cè)器的低對(duì)比度分辨率的自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)，包括：

成像模塊，包括X射線球管、平板探測(cè)器及安置于所述平板探測(cè)器上的測(cè)試卡，所述測(cè)試卡采用權(quán)利要求1中的所述測(cè)試卡，所述X射線球管用于產(chǎn)生X射線，所述平板探測(cè)器探測(cè)X射線以生成包含所述測(cè)試卡的圖像的原始灰度圖像；

圖像采集模塊，用于將所述原始灰度圖像傳輸至電子設(shè)備中；

電子設(shè)備，用于執(zhí)行權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的識(shí)別方法。