[發(fā)明專利]一種馬達功能測試設備及方法

有效

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• 申請日: 2020-09-25
• 公開（公告）號: CN111929580B
• 公開（公告）日: 2021-01-15
• 發(fā)明（設計）人: 鄭棉勝
• 申請（專利權）人: 蘇州貝愛特自動化科技有限公司
• 主分類號: G01R31/34
• 分類號: G01R31/34;G01R31/12;G01R31/01;G01M7/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明提供一種馬達功能測試設備及方法，包括機架、設置于所述機架上的傳輸機構、設置于所述傳輸機構一側的多個搬運機構以及設置于多個所述搬運機構外側的多個檢測裝置；所述檢測裝置包括頂升機構、設置于所述頂升機構上方的檢測安裝架、設置于所述頂升機構一側的通電機構、設置于所述檢測安裝架上的導通壓緊機構、電容測試機構、耐壓測試機構、轉向測試機構以及振動測試機構；所述振動測試機構位于所述電容測試機構的下方，所述轉向測試機構位于所述頂升機構的一側。該馬達功能測試設備集馬達的傳輸、搬運、通電測試、電容測試、轉向測試、振動測試以及耐壓測試于一體，一次可以對多個馬達進行測試，測試效率高。

技術領域

本發(fā)明涉及馬達測試技術領域，尤其涉及一種馬達功能測試設備及方法。

背景技術

馬達廣泛應用于汽車、航天、機械生產等領域，在馬達生產過程中，組裝完成，對馬達磁芯著磁后，還需要對馬達的通電性能、電容、耐壓性、轉向以及振動性能進行測試，現(xiàn)有技術中，通常通過單獨設備分別進行上述測試，測試設備復雜，成本較高，且檢測效率低下，所需要的人力較多，檢測時間也長。

發(fā)明內容

本發(fā)明所解決的技術問題在于提供一種馬達功能測試設備及方法。

為解決上述技術問題，本發(fā)明提供一種馬達功能測試設備，包括機架、設置于所述機架上的傳輸機構、設置于所述傳輸機構一側的多個搬運機構以及設置于多個所述搬運機構外側的多個檢測裝置；所述檢測裝置包括頂升機構、設置于所述頂升機構上方的檢測安裝架、設置于所述頂升機構一側的通電機構、設置于所述檢測安裝架上的導通壓緊機構、電容測試機構、耐壓測試機構、轉向測試機構以及振動測試機構；所述振動測試機構位于所述電容測試機構的下方，所述轉向測試機構位于所述頂升機構的一側。

進一步的是，所述搬運機構包括搬運安裝架、驅動所述搬運安裝架旋轉的旋轉電機、設置于所述搬運安裝架上的第一夾爪和第二夾爪、驅動所述第一夾爪夾持的第一夾持氣缸、驅動所述第二夾爪夾持的第二夾持氣缸、驅動所述第一夾持氣缸進退的第一進退氣缸、驅動所述第二夾持氣缸進退的第二進退氣缸；所述第一夾爪和所述第二夾爪之間呈180度。

進一步的是，所述頂升機構包括第一固定板、設置于所述第一固定板下方的第一頂升氣缸、設置于所述第一固定板上的第二頂升氣缸以及設置于所述第二頂升氣缸頂部的載板。

進一步的是，所述通電機構包括通電接頭、驅動所述通電接頭左右移動的通電進退氣缸以及驅動所述通電進退氣缸升降的通電升降氣缸。

進一步的是，所述導通壓緊機構包括與所述檢測安裝架滑動配合的兩個升降滑軌、設置于兩個所述升降滑軌頂部的升降板、設置于所述檢測安裝架頂部驅動所述升降板升降的導通壓緊氣缸以及設置于兩個所述升降滑軌底部的浮動式壓盤。

進一步的是，所述轉向測試機構包括旋轉接頭以及驅動所述旋轉接頭旋轉的轉向測試氣缸，所述旋轉接頭位于所述浮動式壓盤的下方。

進一步的是，所述電容測試機構包括設置于所述檢測安裝架頂部的電容測試接頭以及驅動所述電容測試接頭進退的電容測試氣缸。

進一步的是，所述耐壓測試機構包括耐壓測試接頭以及驅動所述耐壓測試接頭進退的耐壓測試氣缸；所述電容測試氣缸和所述耐壓測試氣缸平行設置，所述電容測試氣缸和所述耐壓測試氣缸分別位于所述導通壓緊氣缸的兩側。

進一步的是，所述振動測試機構包括設置于所述電容測試機構下方的振動夾爪、驅動所述振動夾爪夾持的振動夾持氣缸以及驅動所述振動夾持氣缸進退的振動氣缸。

本發(fā)明還提供一種馬達功能測試方法，包括如上任意一項所述的馬達功能測試設備，所述方法包括以下步驟：

a、傳輸機構將馬達向前傳輸；

b、多個搬運機構分別將多個馬達搬運至對應的多個檢測裝置上；

c、頂升機構將馬達頂升；