[發(fā)明專利]一種β、X、γ防護(hù)材料測(cè)試平臺(tái)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011022658.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112304979A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-02-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韋應(yīng)靖;李蔚銘;方登富;陳雙強(qiáng);李胤;谷偉剛;唐智輝;以恒冠;馮梅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)輻射防護(hù)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01N23/00 | 分類號(hào): | G01N23/00 |
| 代理公司: | 北京天悅專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11311 | 代理人: | 田明;戴威 |
| 地址: | 030006 山*** | 國(guó)省代碼: | 山西;14 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 防護(hù) 材料 測(cè)試 平臺(tái) | ||
1.一種β、X、γ防護(hù)材料測(cè)試平臺(tái),其特征在于,包括底座,設(shè)置在底座頂部的水平導(dǎo)軌,安裝在底座頂部與水平導(dǎo)軌配合的測(cè)試臺(tái)底座,設(shè)置在測(cè)試臺(tái)底座上方的移動(dòng)支架,安裝在移動(dòng)支架頂部的平衡升降臺(tái),設(shè)置在平衡升降臺(tái)頂部的支撐板,設(shè)置在支撐板頂部的探測(cè)器機(jī)構(gòu),位于探測(cè)器機(jī)構(gòu)一側(cè)的輻射防護(hù)材料夾具以及設(shè)置在輻射防護(hù)材料夾具一側(cè)的快裝式準(zhǔn)直器;
所述探測(cè)器機(jī)構(gòu)設(shè)置在支撐板頂部的橫向?qū)к墸惭b在橫向?qū)к壣系奶綔y(cè)器底座,設(shè)置在探測(cè)器底座上的探測(cè)器,探測(cè)器的發(fā)射端朝向所述輻射防護(hù)材料夾具。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種β、X、γ防護(hù)材料測(cè)試平臺(tái),其特征在于,所述輻射防護(hù)材料夾具包括夾緊座,安裝在夾緊座上的固定螺桿以及與固定螺桿端部連接的鎖緊旋鈕,鎖緊旋鈕和夾緊座之間夾持固定多塊輻射防護(hù)板材。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種β、X、γ防護(hù)材料測(cè)試平臺(tái),其特征在于,所述支撐板的底部與移動(dòng)支架的頂部之間設(shè)有控制支撐板高度的手動(dòng)升降搖桿,手動(dòng)升降搖桿帶有第一手柄。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種β、X、γ防護(hù)材料測(cè)試平臺(tái),其特征在于,所述測(cè)試臺(tái)底座和移動(dòng)支架之間設(shè)有水平調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu),水平調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)包括設(shè)置在測(cè)試臺(tái)底座頂部的絲杠,套設(shè)在絲杠上的絲桿套以及連接在絲杠端部的第二手柄,絲桿套與所述移動(dòng)支架的底部連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種β、X、γ防護(hù)材料測(cè)試平臺(tái),其特征在于,所述探測(cè)器底座上設(shè)有與探測(cè)器底部連接的手動(dòng)升降臺(tái),手動(dòng)升降臺(tái)上連接控制探測(cè)器升降高度的第三手柄。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種β、X、γ防護(hù)材料測(cè)試平臺(tái),其特征在于,所述平衡升降臺(tái)的數(shù)量為兩個(gè),兩個(gè)平衡升降臺(tái)在支撐板的底部對(duì)稱安裝。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種β、X、γ防護(hù)材料測(cè)試平臺(tái),其特征在于,所述探測(cè)器和準(zhǔn)直器的中心都與射線的射束中心水平一致。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種β、X、γ防護(hù)材料測(cè)試平臺(tái),其特征在于,所述探測(cè)器包括β射線探測(cè)器、X射線探測(cè)器、γ射線探測(cè)器。
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G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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