[發(fā)明專利]芯片測(cè)試數(shù)據(jù)溯源方法和裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011021890.6 | 申請(qǐng)日： | 2020-09-25 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN112200278A | 公開（公告）日： | 2021-01-08 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 凌云;鄔剛 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 杭州加速科技有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G06K17/00 | 分類號(hào)： | G06K17/00;G06K9/32;H01L21/67 |
| 代理公司： | 北京市君合律師事務(wù)所 11517 | 代理人： | 王再芊;畢長(zhǎng)生 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州市余杭區(qū)*** | 國(guó)省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 芯片 測(cè)試數(shù)據(jù) 溯源 方法 裝置 | ||
1.一種芯片測(cè)試數(shù)據(jù)溯源的方法，包括：
獲取芯片的標(biāo)識(shí)符信息；
關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)所述芯片的標(biāo)識(shí)符信息與所述芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，獲取芯片的標(biāo)識(shí)符信息包括從所述芯片的RFID中讀取所述芯片的標(biāo)識(shí)符信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，獲取芯片的標(biāo)識(shí)符信息包括：
獲取芯片表面的圖像；
對(duì)芯片表面的圖像進(jìn)行文字識(shí)別處理，獲取所述芯片的標(biāo)識(shí)符信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述芯片表面的圖像是在芯片測(cè)試過程中通過高速相機(jī)獲取的。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括，在關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)所述芯片的標(biāo)識(shí)符與所述芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)之前，對(duì)所述芯片進(jìn)行電性測(cè)試，得到所述測(cè)試數(shù)據(jù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，對(duì)芯片表面的圖像進(jìn)行文字識(shí)別處理包括：
根據(jù)預(yù)設(shè)的標(biāo)識(shí)符區(qū)域位置信息，提取所述芯片表面的圖像中的標(biāo)識(shí)符區(qū)域的圖像；
對(duì)所述標(biāo)識(shí)符區(qū)域的圖像進(jìn)行文字識(shí)別處理，得到所述芯片的標(biāo)識(shí)符信息。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，若對(duì)芯片表面的圖像進(jìn)行文字識(shí)別處理的步驟失敗，則重新執(zhí)行獲取芯片表面的圖像的步驟。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括，根據(jù)所述芯片的標(biāo)識(shí)符，查找所述芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)。
9.一種芯片測(cè)試數(shù)據(jù)溯源的裝置，包括：
獲取單元，用于獲取芯片的標(biāo)識(shí)符信息；
存儲(chǔ)單元，用于關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)所述芯片的標(biāo)識(shí)符信息與所述芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述獲取單元被配置為從所述芯片的RFID中讀取所述芯片的標(biāo)識(shí)符信息。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述獲取單元包括：
圖像采集單元，用于獲取芯片表面的圖像；
文字識(shí)別單元，用于對(duì)芯片表面的圖像進(jìn)行文字識(shí)別處理，獲取所述芯片的標(biāo)識(shí)符信息。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的裝置，其特征在于，所述圖像采集單元用于通過高速相機(jī)獲取芯片表面的圖像。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括，測(cè)試單元，用于對(duì)所述芯片進(jìn)行電性測(cè)試，得到所述測(cè)試數(shù)據(jù)。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的裝置，其特征在于，所述文字識(shí)別單元包括：
提取單元，用于根據(jù)預(yù)設(shè)的標(biāo)識(shí)符區(qū)域位置信息，提取所述芯片表面的圖像中的標(biāo)識(shí)符區(qū)域的圖像；
處理單元，用于對(duì)所述標(biāo)識(shí)符區(qū)域的圖像進(jìn)行文字識(shí)別處理，得到所述芯片的標(biāo)識(shí)符信息。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括判斷單元，用于判斷所述文字識(shí)別處理是否失敗，若失敗則通過圖像采集單元重新獲取芯片表面的圖像。
16.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括查找單元，用于根據(jù)所述芯片的標(biāo)識(shí)符，查找所述芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)。
17.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)執(zhí)行權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的方法。
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