[發(fā)明專利]用于分子或粒子的超靈敏探測的系統(tǒng)、裝置以及方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011020083.2
• 申請日: 2012-01-27
• 公開（公告）號: CN112198329A
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: D·福尼爾;T·坎貝爾;C·坎;J·勞森;A·里維納克;M·卡根;D·C·達菲
• 申請（專利權(quán)）人: 匡特里克斯公司
• 主分類號: G01N35/10
• 分類號: G01N35/10;G01N35/00
• 代理公司: 中國貿(mào)促會專利商標事務(wù)所有限公司 11038
• 代理人: 王慶華

描述的是用于分子或粒子的超靈敏探測的系統(tǒng)、裝置以及方法，這些系統(tǒng)、裝置以及方法涉及分析的各個方面，用來探測和/或確定在樣本流體中的分析物分子或粒子的濃度的測量結(jié)果。在一些情況下，系統(tǒng)采用可消耗試樣，該可消耗試樣包括多個分析部位。系統(tǒng)、裝置和/或方法在一些情況下是自動的。在一些情況下，系統(tǒng)、裝置和/或方法涉及將多個球珠插入到分析部位、密封分析部位、成像分析部位等中。

本發(fā)明是國際申請日為2012年1月27日、國際申請?zhí)枮镻CT/US2012/022923、中國國家申請?zhí)枮?01280012055.3、發(fā)明名稱為“用于分子或粒子的超靈敏探測的系統(tǒng)、裝置以及方法”的發(fā)明專利申請的分案申請。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明描述的系統(tǒng)、裝置以及方法涉及分析的各個方面，用來探測和/或確定在樣本流體中的分析物分子或粒子的濃度的測量結(jié)果。在一些情況下，系統(tǒng)采用可消耗試樣，該可消耗試樣包括多個分析部位。系統(tǒng)、裝置和/或方法在一些情況下是自動的。

背景技術(shù)

能夠快速而又準確地探測和在某些情況下量化在樣本中的目標分析物分子的方法和系統(tǒng)，是現(xiàn)代分析測量的基石。這樣的系統(tǒng)和/或方法用在多個領(lǐng)域中，如學(xué)術(shù)和工業(yè)研究、環(huán)境評估、食品安全、醫(yī)學(xué)診斷、及化學(xué)、生物和/或輻射戰(zhàn)試劑的探測。這樣的技術(shù)的有利特征可以包括專一性、速度以及靈敏度。

用來量化在樣本中的低水平的分析物分子的大多數(shù)當前技術(shù)使用放大過程，以增加報告分子的數(shù)量，以便能夠提供可測量信號。用來探測或量化在溶液中的特定分析物的低濃度的多種已知方法和/或系統(tǒng)的一個特征是，它們基于整體響應(yīng)，在這些整體響應(yīng)中，多個分析物分子產(chǎn)生測量信號。大多數(shù)測量方案要求，在整體中存在大量分子，以便使聚集信號在探測閾值以上。這種要求限制大多數(shù)探測技術(shù)的靈敏度和動態(tài)范圍(即，可探測的濃度范圍)。各個已知方法和技術(shù)中的多種進一步受到非專一結(jié)合的問題的干擾，該非專一結(jié)合是，沒有將待探測的分析物或非分析物分子或粒子或報告種類專一地結(jié)合到除期望的那些之外的部位。這導(dǎo)致背景信號的增大，并因此限制了可以準確地或可再現(xiàn)地探測的最低濃度。

盡管各種方法和/或系統(tǒng)在用來探測和/或確定在樣本流體中的分析物分子的濃度的技術(shù)領(lǐng)域中是已知的，但仍然需要借助于低濃度的準確量化而操作的改進系統(tǒng)和/或方法，以及被自動化的系統(tǒng)。

相應(yīng)地，需要改進的方法和/或系統(tǒng)。

發(fā)明內(nèi)容

在一些實施例中，提供一種用來進行分析的設(shè)備，該設(shè)備包括：可消耗試樣處理器，所述可消耗試樣處理器構(gòu)造成與可消耗試樣可操作地聯(lián)接，所述可消耗試樣具有包括多個分析部位的表面；密封器，所述密封器構(gòu)造和定位成用以將密封元件施加到可消耗試樣的表面上；樣本加載器，所述樣本加載器構(gòu)造成用以將分析樣本加載到可消耗試樣的多個分析部位的至少一部分中；成像系統(tǒng)，所述成像系統(tǒng)構(gòu)造成用以獲得可消耗試樣的分析部位的至少一部分的圖像，該至少一部分包含分析樣本；以及計算機實施控制系統(tǒng)，所述計算機實施控制系統(tǒng)構(gòu)造成用以自動地操作密封器，并且從成像系統(tǒng)接收與圖像相關(guān)的信息。

在一些實施例中，提供一種用來密封多個分析部位的設(shè)備，該設(shè)備包括：可消耗試樣處理器，所述可消耗試樣處理器構(gòu)造成與可消耗試樣可操作地聯(lián)接，所述可消耗試樣具有包括多個分析部位的表面；密封器，所述密封器構(gòu)造和定位成用以將密封元件施加到可消耗試樣的表面上，以形成多個密封分析部位，其中，每個密封分析部位的內(nèi)容物基本與其它多個密封分析部位中的每一個密封分析部位的內(nèi)容物隔離開；以及控制器，所述控制器構(gòu)造成用以自動地操作密封器，以將密封元件施加到多個分析部位上。

在一些實施例中，提供一種用來將球珠插入到在可消耗試樣上的分析部位中的設(shè)備，該設(shè)備包括：可消耗試樣處理器，所述可消耗試樣處理器構(gòu)造成與可消耗試樣可操作地聯(lián)接，所述可消耗試樣具有包括多個分析部位的表面；球珠加載器，所述球珠加載器構(gòu)造成用以將各個球珠插入到各個分析部位中，從而包含球珠的每個分析部位將包含不多于一個球珠；以及控制器，所述控制器構(gòu)造成用以自動地操作球珠加載器，以將各個球珠插入到各個分析部位中。