[發明專利]航天器運行狀態的分析方法和裝置

有效

• 申請號: 202011019855.0
• 申請日: 2020-09-24
• 公開（公告）號: CN112257754B
• 公開（公告）日: 2023-07-28
• 發明（設計）人: 李蕊;孫健;房紅征;羅凱;熊毅;樊煥貞;王信峰;劉勇;楊浩;胡偉鋼
• 申請（專利權）人: 北京航天測控技術有限公司
• 主分類號: G06F18/23
• 分類號: G06F18/23;G06F18/22;G06F17/14;G06F17/10;G01D21/02
• 代理公司: 北京華夏泰和知識產權代理有限公司 11662
• 代理人: 盧萬騰;王衛忠

1.一種航天器運行狀態的分析方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取預設時間段內多個待檢測數據和對應的參考數據，所述待檢測數據和所述參考數據為時間序列數據；

對各個所述待檢測數據進行特征提取，得到各個所述待檢測數據對應的第一擬合特征；

對所述參考數據進行特征提取，得到第二擬合特征；

根據各個所述第一擬合特征和對應的第二擬合特征，確定各個所述待檢測數據的運行狀態，所述運行狀態為異常或正常；

根據運行狀態為異常的各個所述待檢測數據進行相關性分析，得到異常分析結果，所述異常分析結果用于進行故障診斷；

所述對所述待檢測數據進行特征提取，得到第一擬合特征，包括：

采用曲線擬合方法集合中的各個曲線擬合方法，對各個所述待檢測數據進行曲線擬合，得到各個曲線擬合方法對應的擬合曲線和曲線參數；

根據各個曲線擬合方法對應的擬合曲線和曲線參數，得到第一目標曲線和所述第一目標曲線對應的曲線參數；

根據所述第一目標曲線，計算得到所述待檢測數據對應的均方誤差；

當所述待檢測數據對應的均方誤差小于或等于預設誤差時，根據預設拆分規則，計算得到所述待檢測數據的分段數；

根據所述待檢測數據的分段數，計算得到所述待檢測數據的平均分段數據長度；

當所述平均分段數據長度大于預設長度時，將所述待檢測數據按照分段數進行數據拆分，得到多個待檢測拆分數據，將各個所述待檢測拆分數據作為所述待檢測數據進行曲線擬合，當各個所述待檢測拆分數據對應的均方誤差均小于或等于所述預設誤差，

或，至少一個所述待檢測拆分數據對應的均方誤差大于所述預設誤差，根據預設拆分規則再次計算得到所述待檢測數據的平均分段數據長度，再次計算得到的平均分段數據長度小于或等于所述預設長度時，將各個所述待檢測拆分數據對應的擬合曲線和擬合參數作為所述第一擬合特征；

當所述平均分段數據長度小于或等于所述預設長度時，將所述待檢測數據的第一目標曲線和所述第一目標曲線對應的曲線參數作為所述第一擬合特征。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述待檢測數據進行特征提取，得到第一擬合特征，包括：

采用曲線擬合方法集合中的各個曲線擬合方法，對各個所述待檢測數據進行曲線擬合，得到各個曲線擬合方法對應的擬合曲線和曲線參數；

根據各個曲線擬合方法對應的擬合曲線和曲線參數，得到第一目標曲線和所述第一目標曲線對應的曲線參數；

根據所述第一目標曲線，計算得到所述待檢測數據對應的均方誤差；

當所述待檢測數據對應的均方誤差小于或等于所述預設誤差時，將所述待檢測數據的第一目標曲線和所述第一目標曲線對應的曲線參數作為所述第一擬合特征。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，當所述待檢測數據的均方誤差小于或等于預設誤差時，所述對所述參考數據進行特征提取，得到第二擬合特征，包括：

采用曲線擬合方法集合中的各個曲線擬合方法，對各個所述參考數據進行曲線擬合，得到各個曲線擬合方法對應的擬合曲線和曲線參數；

根據各個曲線擬合方法對應的擬合曲線，得到第二目標曲線和所述第二目標曲線對應的曲線參數；

將所述參考數據的第二目標曲線和對應的曲線參數，作為所述第二擬合特征。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，當各個所述待檢測拆分數據的數據長度大于預設長度，且各個所述待檢測拆分數據對應的均方誤差均小于或等于所述預設誤差時，所述對所述參考數據進行特征提取，得到第二擬合特征，包括：

按照所述預設拆分規則對所述參考數據進行拆分，得到多個參考拆分數據；

采用曲線擬合方法集合中的各個曲線擬合方法，對各個所述參考拆分數據進行曲線擬合，得到各個曲線擬合方法對應的擬合曲線；

根據各個曲線擬合方法對應的擬合曲線，得到第三目標曲線以及所述第三目標曲線對應的曲線參數；

將根據各個所述參考拆分數據的第三目標曲線以及所述第三目標曲線對應的曲線參數，作為所述第二擬合特征。